[發(fā)明專利]紅外光學(xué)系統(tǒng)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201310010463.1
• 申請(qǐng)日: 2013-01-11
• 公開（公告）號(hào): CN103064185A
• 公開（公告）日: 2013-04-24
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 叢海佳;陳剛義;孫永雪;張愛紅;陳守謙;范志剛;胡海力
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 哈爾濱工業(yè)大學(xué)
• 主分類號(hào): G02B27/00
• 分類號(hào): G02B27/00;G02B27/10;G02B3/02;G02B1/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述的紅外光學(xué)系統(tǒng)采用折射二次成像的結(jié)構(gòu)形式，從物面到像面依次同軸設(shè)置有整流罩（1）、第一透鏡組（2）、棱鏡（3）、第二透鏡組（4）和紅外成像探測(cè)器（5），無窮遠(yuǎn)目標(biāo)首先經(jīng)過整流罩（1）后照射到第一透鏡組（2），經(jīng)過棱鏡（3）后得到一次像，然后經(jīng)過第二透鏡組（4）透射成像到紅外成像探測(cè)器（5）上。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述的整流罩（1）為平窗。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述紅外光學(xué)系統(tǒng)的工作作用距離大于等于15km；溫度范圍為-40℃～60℃；工作波段為3～5μm。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述第一透鏡組（2）包括第一正透鏡（2-1）、第一負(fù)透鏡（2-2）；所述棱鏡（3）為分光棱鏡；所述第二透鏡組（4）包括第二負(fù)透鏡（4-1）、第二正透鏡（4-2）、第三正透鏡（4-3）、第三負(fù)透鏡（4-4）、第四正透鏡（4-5）；所述紅外成像探測(cè)器（5）包括探測(cè)窗口（5-1）、冷光闌（5-2）、紅外成像焦平面（5-3）。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述整流罩（1）、第一正透鏡（2-1）、第一負(fù)透鏡（2-2）、棱鏡（3）、第二負(fù)透鏡（4-1）、第二正透鏡（4-2）、第三正透鏡（4-3）、第三負(fù)透鏡（4-4）、第四正透鏡（4-5）的材料依次為藍(lán)寶石、硒化鋅、氟化鈣、硒化鋅、鍺、硫化鋅、硅、鍺、硅。

6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述第二正透鏡（4-2）的兩表面至少有一面是非球面。

7.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述第三負(fù)透鏡（4-4）的兩表面至少有一面是非球面。

8.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述第四正透鏡（4-5）的兩表面至少有一面是衍射面。

9.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的高精度小型化紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述紅外探測(cè)器（5）是小像元制冷型的焦平面陣列探測(cè)器。

10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的高精度小型化紅外光學(xué)系統(tǒng)，其特征在于所述冷光闌（5-2）作為紅外光學(xué)系統(tǒng)的孔徑光闌。