[發(fā)明專利]一種光學(xué)檢測(cè)裝置及其控制方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810126286.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108153011B | 公開(公告)日: | 2021-03-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 海春喜;張東升;葛潤(rùn)聰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司 |
| 主分類號(hào): | G02F1/13 | 分類號(hào): | G02F1/13;G01N21/95 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 光學(xué) 檢測(cè) 裝置 及其 控制 方法 | ||
本發(fā)明實(shí)施例提供一種光學(xué)檢測(cè)裝置及其控制方法,涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域,能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中光學(xué)檢測(cè)裝置的成本較高,占用空間較大的問(wèn)題。所述光學(xué)檢測(cè)裝置包括基臺(tái);多個(gè)夾持單元,多個(gè)夾持單元均設(shè)置在基臺(tái)上,每個(gè)夾持單元均可夾持一個(gè)待檢測(cè)顯示器件,且每個(gè)夾持單元的夾持角度可調(diào)節(jié);圖像采集單元,圖像采集單元設(shè)置在夾持單元的上方,用于采集待檢測(cè)顯示器件的灰度圖像;控制單元,控制單元與圖像采集單元、多個(gè)夾持單元均連接,控制單元用于根據(jù)圖像采集單元采集的灰度圖像控制每個(gè)夾持單元的夾持角度。本發(fā)明用于檢測(cè)顯示器件。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及液晶顯示技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種光學(xué)檢測(cè)裝置及其控制方法。
背景技術(shù)
在顯示裝置的生產(chǎn)過(guò)程中,產(chǎn)品出廠前通常都要進(jìn)行顯示畫面的質(zhì)量檢測(cè),判斷其是否達(dá)到客戶標(biāo)準(zhǔn)的要求。現(xiàn)有技術(shù)中通常利用AOI(Automated Optical Inspection,自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))設(shè)備對(duì)顯示裝置進(jìn)行光學(xué)檢測(cè)。參考圖1和圖2所示,考慮到成本與空間等因素,行業(yè)普遍采用高分辨率的CCD(Charge-coupled Device,電荷耦合器件)鏡頭02對(duì)多個(gè)顯示器件01同時(shí)進(jìn)行光學(xué)檢測(cè),雖然現(xiàn)有的CCD鏡頭02可以實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦,但實(shí)際檢測(cè)過(guò)程中由于CCD鏡頭02中心點(diǎn)偏離顯示器件01中心點(diǎn),顯示器件01的邊緣區(qū)域到CCD鏡頭02的距離不同,造成顯示器件01成像后的灰度圖像03中不同區(qū)域的灰度值差異較大,從而影響缺陷分析。
傳統(tǒng)的解決方案是增加CCD鏡頭02的數(shù)量,即每個(gè)產(chǎn)品對(duì)應(yīng)一個(gè)CCD鏡頭02,以保證每個(gè)CCD鏡頭02和產(chǎn)品的中心點(diǎn)保持一致,此種方案不僅增加成本而且占用空間較大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例提供一種光學(xué)檢測(cè)裝置及其控制方法,能夠解決現(xiàn)有技術(shù)中光學(xué)檢測(cè)裝置的成本較高,占用空間較大的問(wèn)題。
為達(dá)到上述目的,本發(fā)明的實(shí)施例采用如下技術(shù)方案:
一方面,本發(fā)明實(shí)施例提供一種光學(xué)檢測(cè)裝置,包括:基臺(tái);多個(gè)夾持單元,多個(gè)所述夾持單元均設(shè)置在所述基臺(tái)上,每個(gè)所述夾持單元均可夾持一個(gè)待檢測(cè)顯示器件,且每個(gè)所述夾持單元的夾持角度可調(diào)節(jié);圖像采集單元,所述圖像采集單元設(shè)置在所述夾持單元的上方,用于采集所述待檢測(cè)顯示器件的灰度圖像;控制單元,所述控制單元與所述圖像采集單元、多個(gè)所述夾持單元均連接,所述控制單元用于根據(jù)所述圖像采集單元采集的灰度圖像控制每個(gè)所述夾持單元的夾持角度。
可選的,所述夾持單元包括用于夾持所述待檢測(cè)顯示器件的夾具、用于支撐所述待檢測(cè)顯示器件的中心區(qū)域的第一支撐桿,以及用于支撐所述待檢測(cè)顯示器件的邊緣區(qū)域的多個(gè)第二支撐桿;所述第一支撐桿和所述第二支撐桿均與所述基臺(tái)的上表面垂直;所述第一支撐桿和所述第二支撐桿的上端均設(shè)置有活動(dòng)連接的連接件,所述第二支撐桿上的所述連接件與所述夾具連接;所述第二支撐桿的下端與所述基臺(tái)的上表面通過(guò)可伸縮結(jié)構(gòu)連接,所述可伸縮結(jié)構(gòu)可沿所述第二支撐桿的長(zhǎng)度方向伸縮,以升高或降低所述第二支撐桿的高度;所述控制單元用于根據(jù)所述圖像采集單元采集的灰度圖像控制每個(gè)所述可伸縮結(jié)構(gòu)的伸縮高度,以控制每個(gè)所述夾具的夾持角度。
可選的,所述夾具為矩形結(jié)構(gòu),所述夾持單元包括兩個(gè)所述第二支撐桿,兩個(gè)所述第二支撐桿分別用于支撐所述夾具相鄰兩邊的中點(diǎn)位置。
可選的,所述控制單元具體用于:根據(jù)第一公式獲取所述夾具的調(diào)節(jié)角度;所述第一公式為:X=(a-b)*δ-α+ΔW;其中,X為調(diào)節(jié)角度,a和b分別為所述灰度圖像中相對(duì)的兩個(gè)側(cè)邊的中點(diǎn)處的灰度值,δ為預(yù)設(shè)轉(zhuǎn)化系數(shù),α為所述夾具當(dāng)前所在平面與水平面的夾角,ΔW為預(yù)設(shè)補(bǔ)償量;根據(jù)所述夾具的調(diào)節(jié)角度控制對(duì)應(yīng)的所述可伸縮結(jié)構(gòu)的伸縮高度。
可選的,多個(gè)所述夾持單元中的所述夾具的中心點(diǎn)到所述圖像采集單元的距離相等。
可選的,所述可伸縮結(jié)構(gòu)為升降電機(jī)。
可選的,所述連接件為萬(wàn)向球頭連接件。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司,未經(jīng)京東方科技集團(tuán)股份有限公司;北京京東方顯示技術(shù)有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810126286.6/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G02F 用于控制光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如轉(zhuǎn)換、選通、調(diào)制或解調(diào),上述器件或裝置的光學(xué)操作是通過(guò)改變器件或裝置的介質(zhì)的光學(xué)性質(zhì)來(lái)修改的;用于上述操作的技術(shù)或工藝;變頻;非線性光學(xué);光學(xué)
G02F1-00 控制來(lái)自獨(dú)立光源的光的強(qiáng)度、顏色、相位、偏振或方向的器件或裝置,例如,轉(zhuǎn)換、選通或調(diào)制;非線性光學(xué)
G02F1-01 .對(duì)強(qiáng)度、相位、偏振或顏色的控制
G02F1-29 .用于光束的位置或方向的控制,即偏轉(zhuǎn)
G02F1-35 .非線性光學(xué)
G02F1-355 ..以所用材料為特征的
G02F1-365 ..在光波導(dǎo)結(jié)構(gòu)中的
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





