[發明專利]一種檢測銀銅礦中銀銅含量的方法

在審

• 申請號: 201810126086.0
• 申請日: 2018-02-08
• 公開（公告）號: CN108088866A
• 公開（公告）日: 2018-05-29
• 發明（設計）人: 馮如朋;唐妙紅;彭玉玲
• 申請（專利權）人: 新疆維吾爾自治區地質礦產勘查開發局第一地質大隊
• 主分類號: G01N23/223
• 分類號: G01N23/223;G01N1/28
• 代理公司: 石河子恒智專利商標代理事務所(普通合伙) 65102
• 代理人: 李靖

1.一種檢測銀銅礦中銀銅含量的方法，其特征在于，主要包括以下步驟：

(一)、樣品處理

a、烘干：將樣品置于烘箱中，在溫度為60℃～80℃的條件下烘干1.5～2.5h；

b、粉碎：將經步驟a烘干后的樣品粉碎至180～220目；

c、制樣：先將硼酸放入樣環，然后倒入步驟b所得的樣品，使樣品四周和底部被硼酸包裹，開啟壓片機，將樣品壓制成圓餅狀，備用；

(二)、標準曲線的繪制

所述儀器配置為：X射線光管采用銠靶，探測器采用美國原裝SDD電制冷探測器，X光管濾光片選用0.05mmMo濾光片；

所述檢測條件為：管壓43～48kv，管流350～450uA，檢測時間150s～250s；

a、銀元素的標準曲線

以含量20g·t-1～200g·t-1區間為標準工作曲線1；

以含量200g·t-1～3000g·t-1區間為標準工作曲線2；

以含量3000g·t-1～10000g·t-1區間為標準工作曲線3；

以含量10000g·t-1～18000g·t-1區間為標準工作曲線4；

取銀元素含量為20g/t，30g/t，40g/t，50g/t，60g/t，70g/t，80g/t，90g/t，100g/t，110g/t，120g/t，130g/t，140g/t，150g/t，160g/t，170g/t，180g/t，190g/t，200g/t的樣品，按照上述方法壓片，置于樣品室進行分析檢測并采集信號值，以信號值為縱坐標，元素含量為橫坐標，繪制標準曲線1；

取銀元素含量為100g/t，200g/t，400g/t，600g/t，800g/t，1000g/t，1200g/t，1400g/t，1600g/t，1800g/t，2000g/t，2200g/t，2400g/t，2600g/t，2800g/t，3000g/t，3200g/t，的樣品，按照上述方法壓片，置于樣品室進行分析檢測并采集信號值，以信號值為縱坐標，元素含量為橫坐標，繪制標準曲線2；

取銀元素含量為2500g/t，2800g/t，3000g/t，3500g/t，4000g/t，4500g/t，5000g/t，5500g/t，6000g/t，6500g/t，7000g/t，7500g/t，8000g/t，8500g/t，9000g/t，9500g/t，10000g/t，10500g/t，11000g/t的樣品，按照上述方法壓片，置于樣品室進行分析檢測并采集信號值，以信號值為縱坐標，元素含量為橫坐標，繪制標準曲線3；

取銀元素含量為9000g/t，9500g/t，10000g/t，10500g/t，11000g/t，11500g/t，12000g/t，12500g/t，13000g/t，13500g/t，14000g/t，14500g/t，15000g/t，15500g/t，16000g/t，16500g/t，17000g/t，17500g/t，18000g/t的樣品，按照上述方法壓片，置于樣品室進行分析檢測并采集信號值，以信號值為縱坐標，元素含量為橫坐標，繪制標準曲線4；

b、銅元素的標準曲線

以含量0.001％～5％區間為標準工作曲線1，以含量5％～12.5％區間為標準工作曲線2；

取銅元素含量為0.001％，0.005％，0.010％，0.025％，0.050％，0.100％，0.250％，0.500％，0.750％，1.000％，1.500％，2.000％，2.500％，3.000％，3.500％，4.000％，4.500％，5.000％，5.500％的樣品，按照上述方法壓片，置于樣品室進行分析檢測并采集信號值，以信號值為縱坐標，元素含量為橫坐標，繪制標準曲線1；

取銅元素含量為4.500％，5.000％，5.500％，6.000％，6.500％，7.000％，7.500％，8.000％，8.500％，9.000％，9.500％，10.000％，10.500％，11.000％，11.500％，12.000％，12.500％，13.000％，13.500％的樣品，按照上述方法壓片，置于樣品室進行分析檢測并采集信號值，以信號值為縱坐標，元素含量為橫坐標，繪制標準曲線2；

(三)、樣品檢測

將經步驟(一)制得的待測樣品，按照步驟(二)所述的儀器配置和檢測條件，置于樣品室進行X熒光光譜分析，采集信號值，根據信號值所在的范圍區間對應的標準曲線，計算出待測樣品中銀元素或銅元素的含量值。