[發明專利]X光探測器壞點的在線偵測方法、裝置、系統及存儲介質

在審

• 申請號: 201810123511.0
• 申請日: 2018-02-07
• 公開（公告）號: CN110118990A
• 公開（公告）日: 2019-08-13
• 發明（設計）人: 費孝愛
• 申請（專利權）人: 上海西門子醫療器械有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明實施例中公開了X光探測器壞點的在線偵測方法、裝置、系統及存儲介質。其中，方法包括：獲取X光探測器采集的暗場圖像；計算暗場圖像的灰度平均值和灰度方差；根據灰度平均值與灰度方差確定一個高閾值和一個低閾值；將暗場圖像中每個像素點的灰度值分別與高閾值和低閾值進行比較，將高于高閾值或低于低閾值的像素點確定為X光探測器的壞點像素點；將得到的所有壞點像素點與已存儲的校準像素點進行比較，在存在不同于校準像素點的壞點像素點時，將不同于所述校準像素點的壞點像素點作為新增的校準像素點進行存儲。本發明實施例中的技術方案能夠實現X光探測器壞點的在線偵測，并提高X圖像的成像質量。

技術領域

本發明涉及X光成像技術領域，特別是一種X光探測器壞點的在線偵測方法、裝置、系統及存儲介質。

背景技術

在X光機以及X射線計算機斷層掃描(CT)機等X光設備中，主要由X光探測器如平板探測器來采集被測對象的X光圖像。由于各種因素，例如運輸、使用或老化等，X光探測器可能會存在對應個別像素點的壞點，即當X光探測器的某一像元對于X攝線不響應或響應異常時，將該像元稱為壞點。相應地，其采集的X光圖像就會在相應壞點位置出現不隨感光變化而始終呈現一種顏色(例如，白色、黑色或彩色)的像素點，從而破壞了X光圖像的清晰度和完整性。X光探測器中壞點的存在是圖像質量下降的原因之一，為此，需要對X光探測器的壞點進行校準。

目前的校準主要是在出廠前以及每隔固定時間間隔如兩年的保養期進行校準，校準過程主要包括：偵測X光探測器上的壞點，將所述壞點對應的像素點位置作為校準像素點存儲在X光設備的控制主機中，在所述X光設備成像時，對所述校準像素點進行校準。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例中一方面提出了一種X光探測器壞點的在線偵測方法，另一方面提出了一種X光探測器壞點的在線偵測裝置、系統及存儲介質，用以實現X光探測器壞點的在線偵測，以提高X圖像的成像質量。

本發明實施例中提出的X光探測器壞點的在線偵測方法，包括：獲取X光探測器采集的暗場圖像；計算所述暗場圖像的灰度平均值和灰度方差；根據所述灰度平均值與所述灰度方差確定一個高閾值和一個低閾值；將所述暗場圖像中每個像素點的灰度值分別與所述高閾值和所述低閾值進行比較，將高于所述高閾值或低于所述低閾值的像素點確定為所述X光探測器的壞點像素點；將得到的所有壞點像素點與已存儲的校準像素點進行比較，在存在不同于所述校準像素點的壞點像素點時，將所述不同于所述校準像素點的壞點像素點作為新增的校準像素點進行存儲。

在一個實施方式中，所述根據所述灰度平均值與所述灰度方差確定一個高閾值和一個低閾值為：將所述灰度平均值加上所述灰度方差的和確定為所述高閾值；將所述灰度平均值減去所述灰度方差的差確定為所述低閾值。

在一個實施方式中，所述方法進一步包括：在進行X光成像時，對所有校準像素點進行像素校準。

在一個實施方式中，所述對所有校準像素點進行像素校準，包括：針對每個校準像素點，利用所述校準像素點周圍預定個數的像素點的平均灰度值來替換該校準像素點的灰度值。

本發明實施例中提出的X光探測器壞點的在線偵測裝置，包括：一獲取模塊，用于獲取X光探測器采集的暗場圖像；一計算模塊，用于計算所述暗場圖像的灰度平均值和灰度方差；一閾值確定模塊，用于根據所述灰度平均值與所述灰度方差確定一個高閾值和一個低閾值；一壞點確定模塊，用于將所述暗場圖像中每個像素點的灰度值分別與所述高閾值和所述低閾值進行比較，將高于所述高閾值或低于所述低閾值的像素點確定為所述X光探測器的壞點像素點；和一壞點更新模塊，用于將得到的所有壞點像素點與已存儲的校準像素點進行比較，在存在不同于所述校準像素點的壞點像素點時，將所述不同于所述校準像素點的壞點像素點作為新增的校準像素點進行存儲。

在一個實施方式中，所述閾值確定模塊將所述灰度平均值加上所述灰度方差的和確定為所述高閾值；將所述灰度平均值減去所述灰度方差的差確定為所述低閾值。