[發(fā)明專利]用于雪崩光電二極管的延時(shí)電路及集成單光子檢測(cè)電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810123313.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110118598A | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-08-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 惠輝;劉建宏;姚維 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 科大國(guó)盾量子技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01J1/44 | 分類號(hào): | G01J1/44 |
| 代理公司: | 合肥市浩智運(yùn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 34124 | 代理人: | 丁瑞瑞 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市高*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 延時(shí)電路 延時(shí)芯片 電路 芯片 單光子檢測(cè) 或門芯片 輸出端 雪崩光電二極管 選擇控制 輸入端 輸入端連接 降低功耗 同步信號(hào) 重復(fù)利用 電連接 與或門 光子 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種用于雪崩光電二極管的延時(shí)電路及集成單光子檢測(cè)電路,延時(shí)電路包括或門芯片、第一延時(shí)芯片、選擇芯片、控選電路,或門芯片、第一延時(shí)芯片、選擇芯片依次電連接,或門芯片的一個(gè)輸入端作為整個(gè)延時(shí)電路的輸入端并輸入光子同步信號(hào),所述選擇芯片的輸出端包括兩個(gè),其中一個(gè)作為延時(shí)電路的輸出端,另一個(gè)與或門芯片的另一輸入端連接,選擇芯片包括選擇控制端,控選電路的輸出端與所述選擇控制端連接。該發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于:能夠?qū)Φ谝谎訒r(shí)芯片重復(fù)利用,不需要多個(gè)延時(shí)芯片,該集成單光子檢測(cè)電路可以降低功耗。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及量子通信技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及用于雪崩光電二極管的延時(shí)電路及集成單光子檢測(cè)電路。
背景技術(shù)
在量子通信領(lǐng)域,使用光作為信息載體。為了保密性能提高,傳輸?shù)墓馐橇孔討B(tài),即單光子。單光子檢測(cè)功能模塊是這種通信設(shè)備的必須模塊。現(xiàn)有單光子檢測(cè)方案如下:
1、首先對(duì)輸入的信號(hào)進(jìn)行延時(shí)。
2、雪崩光電二極管模塊檢測(cè)單光子需要工作在適當(dāng)?shù)臓顟B(tài)。雪崩光電二極管模塊包括驅(qū)動(dòng)電路和二極管D1,其中焊接有驅(qū)動(dòng)電路的驅(qū)動(dòng)板位于盒體內(nèi)部,雪崩光電二極管D1直接焊接在雪崩光電二極管模塊驅(qū)動(dòng)板上。驅(qū)動(dòng)板輸入外部驅(qū)動(dòng)信號(hào),輸出偵測(cè)到的原始的光子信號(hào)。驅(qū)動(dòng)板同時(shí)把雪崩光電二極管模塊殼體上附屬的溫度傳感器模塊溫度信號(hào)輸出。
3、雪崩信號(hào)甄別電路板通過(guò)線纜接收到雪崩光電二極管模塊輸出的光子信號(hào),并對(duì)此信號(hào)進(jìn)行甄別。
4、雪崩光電二極管模塊中二極管D1的溫度通過(guò)粘附在其表面的熱敏電阻檢測(cè)。
5、雪崩信號(hào)甄別電路板產(chǎn)生雪崩光電二極管模塊需要的驅(qū)動(dòng)模擬信號(hào)。
6、雪崩信號(hào)甄別電路板采集雪崩光電二極管模塊溫度信號(hào),并通過(guò)PI算法控制電源對(duì)制冷模塊的供電。
現(xiàn)有的技術(shù)主要缺點(diǎn):
(1)在現(xiàn)有的延時(shí)電路中,需要串聯(lián)多個(gè)延時(shí)芯片,這樣既浪費(fèi)了物料成本,電路修改和調(diào)試也不方便。
(2)現(xiàn)有的集成單光子檢測(cè)電路的缺點(diǎn)是:a.零部件多,供應(yīng)商不同,工藝差別大;b.整體功耗大;c.安裝調(diào)試復(fù)雜,工藝復(fù)雜;d.信號(hào)接口多,信號(hào)傳輸路徑長(zhǎng),信號(hào)種類多,傳輸過(guò)程中損耗大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中延時(shí)電路成本高,調(diào)試不方便以及基于該集成單光子檢測(cè)電路的零部件多、功耗大、安裝調(diào)試不方便的問(wèn)題,提供一種用于雪崩光電二極管的延時(shí)電路及集成單光子檢測(cè)電路。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
一種用于雪崩光電二極管的延時(shí)電路,包括或門芯片、第一延時(shí)芯片、選擇芯片、控選電路,或門芯片、第一延時(shí)芯片、選擇芯片依次電連接,或門芯片的一個(gè)輸入端作為整個(gè)延時(shí)電路的輸入端并輸入光子同步信號(hào)a,所述選擇芯片的輸出端包括兩個(gè),其中一個(gè)作為延時(shí)電路的輸出端,另一個(gè)與或門芯片的另一輸入端連接,選擇芯片包括選擇控制端,控選電路的輸出端與所述選擇控制端連接。
作為優(yōu)化的技術(shù)方案,所述第一延時(shí)芯片還包括延時(shí)間隔控制端。
作為優(yōu)化的技術(shù)方案,所述控選電路包括計(jì)數(shù)器、比較器,所述計(jì)數(shù)器包括復(fù)位端、時(shí)鐘信號(hào)端、輸出端,復(fù)位端與輸入光子同步信號(hào)a的或門的輸入端連接,時(shí)鐘信號(hào)端與第一延時(shí)芯片的輸出端連接,所述計(jì)數(shù)器的輸出端與比較器的一個(gè)輸入端連接,比較器的另一個(gè)輸入端作為經(jīng)過(guò)延時(shí)芯片次數(shù)控制端,連接經(jīng)過(guò)延時(shí)芯片次數(shù)控制裝置,比較器的輸出端與所述的選擇控制端連接。
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