[發明專利]光隔離器

有效

• 申請號: 201810121262.1
• 申請日: 2018-02-07
• 公開（公告）號: CN110119007B
• 公開（公告）日: 2020-09-08
• 發明（設計）人: 陳健;王衡
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G02B6/27
• 分類號: G02B6/27;G02B6/34
• 代理公司: 北京龍雙利達知識產權代理有限公司 11329
• 代理人: 時林;毛威

1.一種光隔離器，其特征在于，包括：

金屬制的表面等離子波SPW發生器，能夠在所射入的橫磁波TMW的作用下產生SPW；

雙折射棱鏡，用于在將所接收到的第一信號光、第二信號光或第三信號光折射之后射入所述SPW發生器，其中，所述第一信號光為正向光，所述第二信號光和所述第三信號光為所述第一信號光的反向光，所述第一信號光和所述第二信號光為所述TMW，所述第三信號光為橫電波TEW，并且，所述雙折射棱鏡對于入射角度相同的TMW和TEW的折射角度不同；

其中，所述SPW發生器在所述第一信號光的作用下能夠產生第一SPW，所述SPW發生器在所述第二信號光的作用下能夠產生第二SPW，并且，在外部磁場的作用下，所述第一SPW與所述第一信號光的沿第一平面方向的波向量相異，所述第二SPW與所述第二信號光的沿第一平面方向的波向量相同，所述第一平面方向為所述SPW發生器的信號光入射平面的方向。

2.根據權利要求1所述光隔離器，其特征在于，所述雙折射棱鏡包括第一表面、第二表面和第三表面，

所述雙折射棱鏡能夠使所述第一信號光從所述第一表面射入后，經過所述雙折射棱鏡的折射而從所述第二表面射出，并經過所述SPW發生器反射而射入所述第二表面，并經過所述雙折射棱鏡的折射而從所述第三表面射出，

所述雙折射棱鏡能夠使所述第二信號光從所述第三表面射入后，經過所述雙折射棱鏡的折射而從所述第二表面射出，

所述雙折射棱鏡能夠使所第三信號光從所述第三表面射入后，經過所述雙折射棱鏡的折射而從所述第二表面射出，并經過所述SPW發生器反射而射入所述第二表面，并經過所述雙折射棱鏡的折射而從所述第一表面射出。

3.根據權利要求2所述光隔離器，其特征在于，從所述第三表面射出的所述第一信號光沿第一方向傳播，所述第二信號光和所述第三信號光從第二方向射入所述第三表面，所述第一方向和所述第二方向為相反方向，所述第二方向與所述第三表面的法線方向相交。

4.根據權利要求2或3所述光隔離器，其特征在于，所述SPW發生器包括金屬片或金屬板。

5.根據權利要求4所述光隔離器，其特征在于，所述第一信號光、第二信號光和第三信號光經過所述雙折射棱鏡的折射之后射入所述SPW發生器的第四表面，

其中，所述第四表面與所述第二表面平行，或者，

所述第四表面與所述第二表面之間形成規定的角度。

6.根據權利要求4所述光隔離器，其特征在于，所述第一信號光、第二信號光和第三信號光經過所述雙折射棱鏡的折射之后射入所述SPW發生器的第四表面，

其中，所述第四表面與所述第二表面之間配置有規定厚度的電介質，或者，

所述第四表面與所述第二表面貼合。

7.根據權利要求1至3中任一項所述光隔離器，其特征在于，還包括：

殼體，用于容納所述雙折射棱鏡和所述SPW發生器，并用于產生所述外部磁場。

8.根據權利要求1至3中任一項所述光隔離器，其特征在于，還包括：

偏振器，用于接收第四信號光，并改變所述第四信號光的偏振態，以產生所述第一信號光，所述第四信號光為TEW。

9.根據權利要求8所述光隔離器，其特征在于，所述偏振器與第一位置在第一方向上的距離為預設值，其中，所述第一位置為所述第一信號光在所述雙折射棱鏡的入射位置，所述第一方向為所述第一信號光的傳播方向。

10.根據權利要求1至3中任一項所述光隔離器，其特征在于，射入所述SPW發生器的第三信號光被所述SPW發生器反射至所述雙折射棱鏡，并經過所述雙折射棱鏡的折射后從所述雙折射棱鏡射出，以及

所述光隔離器還包括：

檢偏器，用于阻止所述TEW通過，并且，被配置為能夠接收從所述雙折射棱鏡射出的光。