[發(fā)明專利]一種基于威布爾分布的串聯(lián)電池組剩余壽命預(yù)測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810120764.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-07 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108445398B | 公開(公告)日: | 2020-06-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙錢;江浩斌;陳彪;栗歡歡 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/367 | 分類號(hào): | G01R31/367;G01R31/392;G01R31/396 |
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| 地址: | 212013 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 布爾 分布 串聯(lián) 電池組 剩余 壽命 預(yù)測(cè) 方法 | ||
本發(fā)明公開了一種基于威布爾分布的串聯(lián)電池組剩余壽命預(yù)測(cè)方法,屬于動(dòng)力電池技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明涉及的串聯(lián)動(dòng)力電池組剩余壽命預(yù)測(cè)方法包括以下步驟:1)通過串聯(lián)電池組耐久性試驗(yàn)獲取串聯(lián)動(dòng)力組失效數(shù)據(jù);2)根據(jù)串聯(lián)動(dòng)力電池特點(diǎn),串聯(lián)電池模塊失效數(shù)據(jù)符合威布爾分布;3)利用步驟1)獲取的串聯(lián)動(dòng)力電池組失效數(shù)據(jù)估計(jì)威布爾模型參數(shù);4)利用一定循環(huán)次數(shù)t和應(yīng)力水平放電深度DOD下串聯(lián)動(dòng)力電池組剩余壽命分布函數(shù)預(yù)測(cè)串聯(lián)動(dòng)力電池組剩余壽命。與現(xiàn)有串聯(lián)動(dòng)力電池組壽命預(yù)測(cè)方法相比,本發(fā)明可避免傳統(tǒng)壽命預(yù)測(cè)方法需考慮串聯(lián)電池組中單體不一致對(duì)串聯(lián)電池模塊壽命的影響,顯著提高串聯(lián)動(dòng)力電池組剩余壽命預(yù)測(cè)精度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于動(dòng)力電池技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于威布爾分布的串聯(lián)電池組剩余壽命預(yù)測(cè)方法。
背景技術(shù)
動(dòng)力電池作為新能源汽車的動(dòng)力源和能量載體,是其關(guān)鍵的組成部分。但如今動(dòng)力電池相關(guān)技術(shù)的落后嚴(yán)重制約電動(dòng)汽車的發(fā)展,主要表現(xiàn)為:續(xù)航能力差、使用壽命短、安全性不穩(wěn)等。電池的剩余壽命預(yù)測(cè)是鋰離子電池管理系統(tǒng)中極為活躍的研究領(lǐng)域,其評(píng)估方法的優(yōu)劣在很大程度上決定了電池管理系統(tǒng)的整體性能。通過對(duì)電池的剩余壽命預(yù)測(cè),可以了解電池所處壽命階段及是否存在安全隱患,可以有效的防止安全事故的發(fā)生。
電池在實(shí)際使用時(shí),電池壽命衰減受各種因素影響,估計(jì)電池的剩余壽命是一件極具挑戰(zhàn)性的任務(wù),若能解決這一問題,將會(huì)有效防止安全事故的發(fā)生并帶來(lái)巨大的經(jīng)濟(jì)效益。目前國(guó)內(nèi)外針對(duì)單體電池壽命預(yù)測(cè)已經(jīng)開展廣泛深入的研究而且取得很好的效果,但單體串聯(lián)成組后,由于受到串聯(lián)電池組中各單體間內(nèi)部參數(shù)、內(nèi)部狀態(tài)及運(yùn)行工況不一致的影響,給串聯(lián)電池組壽命預(yù)測(cè)增加了難度,也降低了預(yù)測(cè)精度。
發(fā)明內(nèi)容
為解決上述問題,本發(fā)明提供一種基于威布爾分布的串聯(lián)電池組剩余壽命預(yù)測(cè)方法,可避免傳統(tǒng)串聯(lián)電池組壽命預(yù)測(cè)需考慮單體間不一致對(duì)串聯(lián)電池組壽命的影響,簡(jiǎn)化傳統(tǒng)串聯(lián)電池組壽命預(yù)測(cè)方法復(fù)雜度,顯著提高串聯(lián)動(dòng)力電池組剩余壽命預(yù)測(cè)精度。
本發(fā)明提供一種基于威布爾分布的串聯(lián)電池組剩余壽命預(yù)測(cè)方法,包括以下步驟:
S1,通過串聯(lián)電池組耐久性試驗(yàn)獲取串聯(lián)電池組失效數(shù)據(jù):
選取放電深度DOD為加速應(yīng)力水平,加速應(yīng)力水平為40%DOD、70%DOD及100%DOD,在不同加速應(yīng)力水平下,通過串聯(lián)電池組耐久性試驗(yàn)獲取串聯(lián)電池組失效數(shù)據(jù)。
S2,根據(jù)串聯(lián)電池組特點(diǎn),串聯(lián)電池組失效數(shù)據(jù)符合威布爾分布;
選擇威布爾模型作為串聯(lián)電池組失效數(shù)據(jù)分布模型,失效概率密度函數(shù)和累積失效概率分布函數(shù)分別為:其中β是為形狀參數(shù),η為尺度參數(shù),N0位置參數(shù)或最小壽命參數(shù)。
S3,利用步驟S1獲取的串聯(lián)電池組失效數(shù)據(jù)估計(jì)威布爾分布參數(shù);
累計(jì)失效概率密度函數(shù)經(jīng)變換得:根據(jù)串聯(lián)電池模塊失效時(shí)刻經(jīng)歷的循環(huán)次數(shù)t和對(duì)應(yīng)的累積失效概率密度F(t)的值,采用最小二乘法估計(jì)參數(shù)β、η、N0。
S4,利用一定循環(huán)次數(shù)t和放電深度下串聯(lián)電池組剩余壽命分布函數(shù)預(yù)測(cè)串聯(lián)動(dòng)力電池組剩余壽命;
在某加速應(yīng)力水平下,串聯(lián)電池組經(jīng)歷t次循環(huán),串聯(lián)電池組從t開始至失效所經(jīng)歷的循環(huán)次數(shù)m,稱為串聯(lián)電池組的剩余壽命m,將其分布函數(shù)記為Fm(x),根據(jù)條件概率公式:則串聯(lián)電池組一定循環(huán)次數(shù)t后剩余壽命的分布函數(shù)為:經(jīng)歷t次循環(huán),剩余壽命m能達(dá)到x概率:
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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