[發明專利]一種架空地線與預絞絲接觸端口接觸電阻的實驗測量方法有效
| 申請號： | 201810117133.5 | 申請日： | 2018-02-06 |
| 公開（公告）號： | CN108414837B | 公開（公告）日： | 2019-06-18 |
| 發明（設計）人： | 劉剛;郭德明;楊悅榮 | 申請（專利權）人： | 華南理工大學 |
| 主分類號： | G01R27/08 | 分類號： | G01R27/08 |
| 代理公司： | 廣州市華學知識產權代理有限公司 44245 | 代理人： | 李斌 |
| 地址： | 510640 廣*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 預絞絲 架空地線 接觸電阻 實驗測量 交流電阻 測量 內表面 截取 地線 安裝預絞絲 導體電阻 間接測量 均勻涂抹 砂紙打磨 實驗誤差 一次測量 導電脂 氧化膜 拆卸 并用 | ||
1.一種架空地線與預絞絲接觸端口接觸電阻的實驗測量方法，其特征在于，所述的實驗測量方法包括下列步驟：
截取一定長度的架空地線與預絞絲，第一次測量包括接觸端口在內的兩端的總交流電阻；
拆卸接觸端口的部分預絞絲，并用砂紙打磨架空地線的外表面和預絞絲內表面，除去其表面的氧化膜；
將導電脂均勻涂抹在架空地線外表面和預絞絲內表面上，并重新安裝預絞絲；
截取同樣長度的架空地線與預絞絲，第二次測量包括接觸端口在內的兩端的總交流電阻，第二次測量值與第一次測量值的差值即為所需要測量的接觸電阻。
2.根據權利要求1所述的一種架空地線與預絞絲接觸端口接觸電阻的實驗測量方法，其特征在于，所述的截取一定長度的架空地線與預絞絲，第一次測量包括接觸端口在內的兩端的總交流電阻步驟中，以地線與預絞絲接觸端口為中心，截取一定長度的地線長度和預絞絲長度，通過交流電壓降法測得兩端的總交流電阻，其中，所述的總交流電阻包括地線導體電阻、預絞絲導體電阻以及接觸端口的接觸電阻。
3.根據權利要求1所述的一種架空地線與預絞絲接觸端口接觸電阻的實驗測量方法，其特征在于，所述的拆卸接觸端口的部分預絞絲，并用砂紙打磨架空地線的外表面和預絞絲內表面，除去其表面的氧化膜步驟具體如下：
在接觸端口處拆卸10厘米左右的預絞絲，除去預絞絲內表面的金剛砂，在利用砂紙打磨地線外表面和預絞絲內表面，去除其表面形成的氧化膜，最大化去除接觸電阻的膜電阻成分。
4.根據權利要求1所述的一種架空地線與預絞絲接觸端口接觸電阻的實驗測量方法，其特征在于，所述的將導電脂均勻涂抹在架空地線外表面和預絞絲內表面上，并重新安裝預絞絲步驟具體如下：
在打磨干凈的地線外表面和預絞絲內表面上，均勻涂抹一薄層高電導率的導電脂，達到潤滑接觸界面以及良好導電的效果，從而盡可能減小其接觸電阻，待導電脂涂抹完畢之后，將拆卸的預絞絲重新安裝。
5.根據權利要求1所述的一種架空地線與預絞絲接觸端口接觸電阻的實驗測量方法，其特征在于，所述的截取同樣長度的架空地線與預絞絲，第二次測量包括接觸端口在內的兩端的總交流電阻，第二次測量值與第一次測量值的差值即為所需要測量的接觸電阻步驟具體如下：
同樣以接觸端口為中心，截取同樣長度的地線和預絞絲長度，采用交流電壓降法第二次測量包括接觸端口在內的兩端的總交流電阻，最終，兩次總電阻測量值的差值即為所要求的地線與預絞絲接觸端口的接觸電阻值。
6.根據權利要求2所述的一種架空地線與預絞絲接觸端口接觸電阻的實驗測量方法，其特征在于，所述的交流電壓降法具體如下：通過在架空地線與預絞絲上加載一定大小的交流電流，測量得到兩端的交流電壓U1和功率因數最終通過下式(1)計算得到兩端總的交流電阻，
測得的總交流電阻Rz包括：接觸端口接觸電阻Rc、l1長度的地線導體電阻Rd以及l2長度的預絞絲導體電阻Ry，
Rz＝Rc+Rd+Ry (2)。
7.根據權利要求6所述的一種架空地線與預絞絲接觸端口接觸電阻的實驗測量方法，其特征在于，所述的第二次測量包括接觸端口在內的兩端的總交流電阻的計算見式(3)，
其中，U2表示第二次測量得到的電壓，表示第二次測量得到的功率因數 ，Rz’由地線導體電阻Rd和預絞絲導體電阻Ry組成，
Rz'＝Rd+Ry (4)
最后，所需獲取的地線與預絞絲接觸端口接觸電阻Rc由下式計算得到，
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