[發明專利]陣列基板及其制備方法、液晶顯示面板在審
| 申請號: | 201810115564.8 | 申請日: | 2018-02-05 |
| 公開(公告)號: | CN108287430A | 公開(公告)日: | 2018-07-17 |
| 發明(設計)人: | 邵源 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電技術有限公司 |
| 主分類號: | G02F1/1335 | 分類號: | G02F1/1335 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 鐘子敏 |
| 地址: | 518006 廣東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 減反層 陣列基板 基板 液晶顯示面板 制備 氮化物 環境光 器件層 氧化物 反射 | ||
1.一種陣列基板,其特征在于,所述陣列基板包括基板、形成在所述基板上的至少一層減反層,以及形成在所述減反層上的器件層;其中,所述減反層的材質為銅的氧化物或/和銅的氮化物。
2.根據權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述減反層的厚度為40納米~200納米。
3.根據權利要求1或2所述的陣列基板,其特征在于,所述減反層是通過磁控濺射法,噴墨法以及原子沉積法中的任一種工藝而制備形成的。
4.根據權利要求1或2所述的陣列基板,其特征在于,所述減反層為依次疊置的銅的氮化物層或/和銅的氧化物層組成的多膜層結構。
5.根據權利要求4所述的陣列基板,其特征在于,所述銅的氮化物層或/和銅的氧化物層依次交替設置。
6.根據權利要求4所述的陣列基板,其特征在于,所述多膜層結構的減反層的單層厚度為20納米~100納米。
7.一種液晶顯示面板,其特征在于,所述液晶顯示面板包括如權利要求1~6任一項所述的陣列基板。
8.一種陣列基板的制備方法,其特征在于,所述制備方法包括:
準備基板;
在所述基板上形成至少一層減反層;其中,所述減反層的材質為銅的氧化物或/和銅的氮化物;
在所述減反層上形成器件層。
9.根據權利要求8所述的制備方法,其特征在于,所述在所述基板上形成至少一層減反層的步驟具體包括:
通過磁控濺射法,噴墨法以及原子沉積法中的至少一種工藝將所述銅的氮化物或/和所述銅的氧化物沉積在所述基板上,形成所述至少一層減反層。
10.根據權利要求8或9所述的制備方法,其特征在于,所述在所述基板上形成至少一層減反層的步驟具體包括:
在所述基板上多次沉積銅的氮化物或銅的氧化物,形成銅的氮化物層或/和銅的氧化物層組成的多膜層結構的減反層。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市華星光電技術有限公司,未經深圳市華星光電技術有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810115564.8/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





