[發(fā)明專利]一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810114314.2 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108387578A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李容剛;周堯堯 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 昆山緯亞電子科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/84 | 分類號(hào): | G01N21/84 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 215300 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 滑動(dòng)塊 支撐柱 質(zhì)量檢測(cè)裝置 固定螺栓 銜接塊 支架 底座 激光發(fā)生器 前端外表面 上端外表面 導(dǎo)線交叉 滑動(dòng)安裝 內(nèi)部設(shè)置 保護(hù)罩 檢測(cè)儀 束線槽 限位板 錯(cuò)亂 檢測(cè) 探頭 限位 顯示屏 梳理 貫穿 | ||
1.一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)的上端外表面固定安裝有支撐柱(2),所述支撐柱(2)的一側(cè)外表面固定安裝有支架(3),所述支架(3)遠(yuǎn)離支撐柱(2)的一側(cè)外表面固定安裝有檢測(cè)儀(4),所述檢測(cè)儀(4)的前端外表面固定安裝有顯示屏(5),所述支撐柱(2)的外表面滑動(dòng)安裝有滑動(dòng)塊(6),貫穿所述滑動(dòng)塊(6)的內(nèi)部設(shè)置有固定螺栓(7),所述滑動(dòng)塊(6)遠(yuǎn)離固定螺栓(7)的一側(cè)外表面固定安裝有銜接塊(8),所述銜接塊(8)遠(yuǎn)離滑動(dòng)塊(6)的一側(cè)外表面固定安裝有激光發(fā)生器(9),所述激光發(fā)生器(9)的上端外表面中間處與檢測(cè)儀(4)的一側(cè)外表面之間設(shè)置有導(dǎo)線(10),所述激光發(fā)生器(9)的底端外表面固定安裝有保護(hù)罩(11),所述保護(hù)罩(11)的內(nèi)部固定安裝有檢測(cè)探頭(12),所述滑動(dòng)塊(6)的前端外表面開(kāi)設(shè)有束線槽(13),所述束線槽(13)的兩側(cè)設(shè)置有固定條(14),所述底座(1)的上端外表面邊緣處固定安裝有擋板(15),所述擋板(15)的一側(cè)滑動(dòng)安裝有限位板(16),所述限位板(16)的下方開(kāi)設(shè)有滑軌(17)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:所述滑動(dòng)塊(6)通過(guò)固定螺栓(7)與支撐柱(2)滑動(dòng)連接,且固定螺栓(7)的外表面均勻分布有螺紋。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:所述檢測(cè)儀(4)的前端外表面設(shè)置有操作按鈕,操作按鈕位于顯示屏(5)的正下方。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:所述檢測(cè)儀(4)通過(guò)支架(3)與支撐柱(2)固定連接,且支架(3)的數(shù)量為兩組。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:所述限位板(16)的底端外表面固定安裝有滑塊,滑塊與滑軌(17)相契合,且滑軌(17)與滑塊的數(shù)量均為兩組。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種PCB板質(zhì)量檢測(cè)裝置,其特征在于:所述固定條(14)的數(shù)量為兩組,且固定條(14)平行設(shè)置。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于昆山緯亞電子科技有限公司,未經(jīng)昆山緯亞電子科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810114314.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





