[發明專利]光學觸控裝置

有效

• 申請號: 201810112652.2
• 申請日: 2018-02-05
• 公開（公告）號: CN110119227B
• 公開（公告）日: 2022-04-05
• 發明（設計）人: 林志雄
• 申請（專利權）人: 英屬開曼群島商音飛光電科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042;G06F3/041
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 王玉雙;李巖

一種光學觸控裝置，包括光源單元、光信號處理單元以及位置計算單元。光源單元發射出光線并于不同位置產生三基準光點。光信號處理單元接收由三基準光點分別反光傳出的三反射光信息、并分析三反射光信息以對應產生三光分析信息，各光分析信息包括一振動波信息及一振動時間點信息，其中振動波信息包括一觸碰振動波。位置計算單元接收各光分析信息、并取得各基準光點的一光點位置信息及一振動波速信息，位置計算單元更根據各光點位置信息、各振動時間點信息及振動波速信息計算出觸控位置信息。

技術領域

本發明是關于一種觸控裝置，特別是指一種光學觸控裝置。

背景技術

目前現有的投射式光觸控裝置，主要由光源、攝影機及處理器所組成，光源可將光線投射于幕，在幕被照射的區域形成操作區，當有一對象在操作區時，由于對象阻擋光源射向幕的部分光線，而在幕上形成一對應于對象的對象影子，利用攝影機擷取對象及對象影子及操作區的影像，籍由處理器讀取對象與對象影子接觸而有一接觸點的影像，進而使處理器籍由影像分析技術分析影像中接觸點的位置信息。

另一現有的投射式觸控裝置具有界定一檢測區域的外框體，外框體于側壁處設有多個發光元件及設置用于將發光元件所產生的光源進行均光的均光層，以及于外框體的角落處設置有用于攝錄檢測區域的攝影機，攝影機電性連接至用于分析影像定位的控制裝置。當用戶點選觸碰而進入檢測區域時，亦于觸碰位置處將光源遮斷，同時攝影機將檢測區域攝錄下的畫面傳遞至控制裝置進行影像定位分析以判斷觸碰位置。

上述兩種現有的投射式觸控裝置，都是利用光遮斷的方式判斷觸控位置，因此容易受到周遭其他光線影響而造成判斷失準的問題。再者，現有的投影式觸控裝置也必須將光源投射至平坦的表面，以避免光線反射不均而影響判斷的精確度。

發明內容

有鑒于此，于一實施例中，提供一種光學觸控裝置，包括光源單元、光信號處理單元以及位置計算單元。光源單元發射出光線并于不同位置產生三基準光點。光信號處理單元接收由三基準光點分別反光傳出的三反射光信息，光信號處理單元并分析三反射光信息以對應產生三光分析信息，各光分析信息包括一振動波信息以及一振動時間點信息，其中振動波信息包括一觸碰振動波，振動時間點信息是指觸碰振動波傳遞抵達各基準光點的時間點。位置計算單元電連接于光信號處理單元、并接收各光分析信息，位置計算單元更取得各基準光點的一光點位置信息以及一振動波速信息，其中振動波速信息指觸碰振動波的傳遞速度，位置計算單元更根據各光點位置信息、各振動時間點信息及振動波速信息計算出一觸控位置信息，觸控位置信息是指產生觸碰振動波的相對震央位置。

綜上，本發明實施例的光學觸控裝置通過光源單元產生三基準光點，當有觸控行為時，可通過光信號處理單元分析三基準光點反光傳出的反射光信息，以取得觸控所造成的觸碰振動波傳遞抵達各基準光點的時間點，并根據各個時間點、觸碰振動波的波速以及三基準光點的位置計算出觸碰位置。藉此，本發明實施例可達到不受周遭其他光線影響而提高位置判斷的準確性，此外，也能不局限于使用在平坦的觸控面，而大幅增加實用性。

附圖說明

圖1為本發明光學觸控裝置一實施例的觸控示意圖。

圖2為本發明光學觸控裝置一實施例的硬件方塊圖。

圖3為本發明光學觸控裝置一實施例的觸碰振動波傳遞示意圖。

圖4為本發明光學觸控裝置另一實施例的硬件方塊圖。

圖5為本發明光學觸控裝置一實施例的照射示意圖。

圖6為本發明光學觸控裝置另一實施例的照射示意圖。

圖7為本發明光學觸控裝置另一實施例的觸碰振動波傳遞示意圖。

其中，附圖標記位：

1 光學觸控裝置

10、10’ 光源單元