[發明專利]一種多臺光測距裝置協同測距方法

有效

• 申請號: 201810110851.X
• 申請日: 2018-02-05
• 公開（公告）號: CN110118969B
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 劉行健;王瑞;疏達;李遠
• 申請（專利權）人: 北醒（北京）光子科技有限公司
• 主分類號: G01S17/08
• 分類號: G01S17/08
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本申請屬于光學測距領域，尤其涉及一種多臺光測距裝置協同測距方法。該多臺光測距裝置協同工作方法包括：每一臺光測距裝置接收主控模塊信息；每一臺光測距裝置根據所述主控模塊信息計算各自的光探測過程開始時間；每一臺光測距裝置根據各自的光探測過程開始時間開始光探測過程，所有光測距裝置的光探測過程互相錯開。通過上述方法，達到了多臺光測距裝置的光探測過程不發生干擾，距離探測更準確。

技術領域

本發明涉及紅外測距技術領域，特別是涉及一種抗干擾的多光測距裝置協同測距方法。

背景技術

通過光的測距方法具有探測速度快，探測精度高等優點，成為目前最常用的測距方式之一。以激光雷達測距技術為例，采用激光雷達測距技術進行測距時，包括兩個工作過程，第一個工作過程是光探測過程，在光探測過程中，先由激光雷達中的激光器發射探測光，該探測光遇到障礙物被反射，再由激光雷達中的光電探測器對被反射的探測光進行接收，并且，對接收到的光信號進行光電轉換，得到數字信號信息；第二個工作過程是數據處理過程，由激光雷達中的處理器對光電探測器輸出的電信號進行處理，從而獲得激光雷達與障礙物的距離。

在很多應用場景下，存在多臺光測距裝置同時工作的情況。但是，多臺光測距裝置同時工作時，不同的光測距裝置的光源發射的探測光會相互干擾，降低光測距裝置測距的準確性。

發明內容

本發明實施例解決的技術問題在于提供一種抗干擾的多光測距裝置協作測距方法，從而能夠提高光測距裝置的準確性，互不產生干擾。

為此，本申請實施例提供了一種多臺光測距裝置協同測距方法，包括：每一臺光測距裝置接收主控模塊信息；每一臺光測距裝置根據所述主控模塊信息計算各自的光探測過程開始時間；每一臺光測距裝置根據各自的光探測過程開始時間開始光探測過程，所有光測距裝置的光探測過程互相錯開；

其中，光測距裝置臺數與光測距裝置單次光探測過程所占用時間的乘積小于或者等于同一臺光測距裝置每兩次相鄰光探測過程起始時刻之間的時間間隔。

在其中的一個方面，每一臺光測距裝置接收到的主控模塊信息包括：時間戳信息、信道信息、設備總量信息以及幀率信息。

在其中的一個方面，每一臺光測距裝置接收主控模塊的時間戳信息，每一臺光測距裝置同步時間戳信息。

在其中的一個方面，所述方法還包括：每一臺光測距裝置判斷光測距裝置臺數與光測距裝置單次光探測過程所占用時間的乘積是否小于或者等于同一臺光測距裝置每兩次相鄰光探測過程起始時刻之間的時間間隔，若否，則判定為失效模式，并向主控模塊發送失效信息。

在其中的一個方面，所述方法還包括：主控模塊接收每一臺光測距裝置返回的信息，判斷是否包括失效信息，若包含失效信息，則主控模塊控制光測距裝置結束工作。

在其中的一個方面，所述方法還包括：每一臺光測距裝置計算自身相對于時間戳信息T3需要延時的觸發時間T5，T5=T2+T4-(T3%T2),其中，T2為同一臺光測距裝置每兩次相鄰測距起始時刻之間的時間間隔，T4為每一臺光測距裝置的信道信息乘以單次光探測過程所占用的時間T1，T3%T2為數值T3除以數值T2的余數；

或者，每一臺光測距裝置計算自身相對于時間戳信息T3需要延時的觸發時間T5’，T5’=T2+T4’-(T3%T2),其中，T2為同一臺光測距裝置每兩次相鄰測距起始時刻之間的時間間隔，T4’為T2除以設備總量、再分別乘以每一臺光測距裝置的信道信息，T3%T2為數值T3除以數值T2的余數。

在其中的一個方面，每一臺光測距裝置設定一個時間為T2的定時器。

在其中的一個方面，每隔設定的時間間隔，獲取每一臺光測距裝置的時間信息，若各個臺光測距裝置的時間信息偏差超過一設定的閾值范圍，則進行重新同步每一臺光測距裝置的時間戳信息。