[發明專利]一種鈣鈦礦量子功率密度檢測設備及其檢測方法

在審

• 申請號: 201810107000.X
• 申請日: 2018-02-02
• 公開（公告）號: CN108680540A
• 公開（公告）日: 2018-10-19
• 發明（設計）人: 胡秦徽;鄧水妹
• 申請（專利權）人: 廣州市犀譜光電科技有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64;G01N21/01
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明公開了一種鈣鈦礦量子功率密度檢測設備及其檢測方法，包括底座和固定臺，固定臺的前側上安裝有高度調節顯示裝置，固定臺后側固定有后滑臺，后滑臺上適配有后滑塊，后滑塊的一側連接有螺旋測微器，固定臺的一側套設有連接臂，連接臂的一端連接所述高度顯示裝置，另一端固定連接所述后滑塊，連接臂上設有光纖固定座，光纖固定座上設有光纖探頭，光纖固定座的正下方設有積分球蓋，積分球蓋連接有積分球，通過調節光纖探頭與樣品的距離即可改變激發光的激發范圍，從而計算出鈣鈦礦量子的不同功率密度，這種方法可以簡化測量操作，提高測量精度，螺旋測微器可調節所述光纖探頭與樣品的距離，高度調節顯示裝置可直觀得到光纖探頭的距離變化。

技術領域

本發明涉及量子檢測技術，尤其涉及一種鈣鈦礦量子功率密度檢測設備及其檢測方法。

背景技術

隨著量子點發光材料的持續發展，鈣鈦礦量子點的發展在新型發光材料中具有很高的科研價值并被看作顯示材料明日之星。有機-無機雜化鈣鈦礦(CH3NH3PbX3,X＝Cl,Br,I) 材料是一種可溶液加工的半導體材料，具有低成本、載流子遷移率高、光吸收系數大等特點，近幾年來在太陽能電池領域有非常優異的表現。與此同時，鈣鈦礦材料具有出波長可調、發射光譜窄等發光特性，在電致發光、激光、顯示等領域中也有巨大的潛力。然而，由于其存在大量的本征缺陷，有機無機雜化鈣鈦礦薄膜材料在低密度光激發下的熒光量子效率很低(<20％)，限制了其在發光器件中的應用。最近研究表明，鈣鈦礦的尺寸減小，可以有效地降低其內部缺陷的數目，減少非輻射躍遷，有望提高其熒光效率。此外，當尺寸與其兩倍的激子玻爾半徑相當時，材料的激子結合能增加，可以有效提高激子的穩定性，有可能導致其輻射躍遷機制從“自由電子-孔穴復合”向“激子復合”模式轉變，也成為提高發光效率的有利因素。因此，如何實現控制鈣鈦礦材料的尺寸和形貌成為鈣鈦礦材料研究領域的重要科學挑戰。

功率密度是鈣鈦礦量子點的熒光量子效率計算的必要因素，目前功率密度的改變主要是通過不斷改變激發光源的電流電壓實現，這種方式測試的樣品區域很小，而且調節激光光源的電流電壓會影響光源的光譜穩定性。這種測量方式對于激發光源的性能要求非常高，激發光光源的經濟成本也很高，在測量過程中的操作步驟繁瑣，需要在改變激發光的功率密度后重新取出樣品測量初始光子數來完成校正，然后放回樣品反復操作才可以完成測量，非常耗費時間而且測試結果的誤差會比較大。

發明內容

本發明針對上述現有技術存在的問題，提供了一種鈣鈦礦量子功率密度檢測設備及其檢測方法。

為了實現上述的目的，本發明采用以下技術措施：

一種鈣鈦礦量子功率密度檢測設備，包括底座和固定臺，所述固定臺的前側上安裝有高度調節顯示裝置，固定臺后側固定有后滑臺，所述后滑臺上適配有后滑塊，后滑塊的一側連接有螺旋測微器，所述固定臺的一側套設有連接臂，所述連接臂的一端連接所述高度顯示裝置，另一端固定連接所述后滑塊，所述連接臂上設有光纖固定座，所述光纖固定座上設有光纖探頭，光纖固定座的正下方設有積分球蓋，積分球蓋連接有積分球。

作為優選，所述高度調節顯示裝置為數顯游標卡尺，其包括尺體、滑動塊、固定螺絲、動臂梁、定臂梁、顯示器以及前滑臺，所述前滑臺固定在所述固定臺前側，所述顯示器通過固定螺絲固定在前滑臺上端，尺體通過所述滑動塊活動設置在所述前滑臺上，所述定臂梁固定在所述前滑臺的下端，定臂梁的正上方相對設置所述動臂梁，所述動臂梁固定在所述尺體底部。

作為優選，所述螺旋測微器包括固定砧、測微螺桿、連接塊、固定刻度套筒、螺旋刻度套筒以及微調旋鈕，所述測微螺桿穿過所述連接塊并與固定刻度套筒相螺接，所述連接塊固定連接所述后滑塊，測微螺桿的底端與固定砧相抵觸，測微螺桿的上端固接在螺旋刻度套筒內，螺旋刻度套筒套接在固定刻度套筒上；螺旋刻度套筒的外緣刻有圓周刻度，固定刻度套筒上有一主刻度尺，該主刻度尺包括一條沿軸向的中心線及該中心線旁邊的主尺刻度。