[發(fā)明專利]一種圖像協(xié)同顯著性檢測(cè)方法及裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810103215.4 | 申請(qǐng)日: | 2018-02-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110111295B | 公開(公告)日: | 2021-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王睿;王蘊(yùn)紅;趙文婷 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京中科奧森數(shù)據(jù)科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G06T7/00 | 分類號(hào): | G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11363 | 代理人: | 逯長(zhǎng)明;許偉群 |
| 地址: | 100191 北京市*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 圖像 協(xié)同 顯著 檢測(cè) 方法 裝置 | ||
1.一種圖像協(xié)同顯著性檢測(cè)方法,其特征在于,包括:
利用第一網(wǎng)絡(luò)層組對(duì)兩張圖像進(jìn)行特征提取,分別得到第一特征圖集以及第二特征圖集;
利用第二網(wǎng)絡(luò)層組學(xué)習(xí)所述第一特征圖集與所述第二特征圖集之間的協(xié)同性,得到協(xié)同特征圖集;
將所述第一特征圖集以及所述第二特征圖集分別與所述協(xié)同特征圖集進(jìn)行疊加,并將疊加后得到的兩個(gè)特征圖集分別進(jìn)行反卷積,得到所述兩張圖像分別對(duì)應(yīng)的協(xié)同顯著圖;
將所述兩張協(xié)同顯著圖分別與相應(yīng)的真實(shí)協(xié)同顯著圖進(jìn)行對(duì)比,得到第一誤差以及第二誤差;
利用所述第一誤差以及所述第二誤差優(yōu)化所述第一網(wǎng)絡(luò)層組、所述第二網(wǎng)絡(luò)層組以及進(jìn)行所述反卷積處理利用的網(wǎng)絡(luò)層的參數(shù);
所述第一誤差以及所述第二誤差的計(jì)算方法包括:
其中,n表示批量訓(xùn)練樣本的數(shù)量,yi表示第i個(gè)真實(shí)的協(xié)同顯著圖,pi表示第i個(gè)預(yù)測(cè)的協(xié)同顯著圖;
所述利用第一網(wǎng)絡(luò)層組對(duì)兩張圖像進(jìn)行特征提取,分別得到第一特征圖集以及第二特征圖集的步驟,包括:
將兩張圖像分別通過VGG16網(wǎng)絡(luò)所包含的卷積層進(jìn)行卷積處理,得到第三特征圖集以及第四特征圖集;
將所述第三特征圖集以及第四特征圖集再分別進(jìn)行卷積處理,得到第一特征圖集以及第二特征圖集;
還包括:
將所述協(xié)同特征圖集進(jìn)行降維,得到1×2維的特征向量;
對(duì)所述特征向量進(jìn)行二分類處理,得到表示所述兩張圖像是否具有協(xié)同性的分類結(jié)果。
2.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,利用第二網(wǎng)絡(luò)層組學(xué)習(xí)所述第一特征圖集與所述第二特征圖集之間的協(xié)同性,得到協(xié)同特征圖集的步驟,包括:
將所述第一特征圖集與所述第二特征圖集進(jìn)行疊加得到第五特征圖集;
將所述第五特征圖集進(jìn)行卷積處理,得到協(xié)同特征圖集。
3.如權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,對(duì)所述特征向量進(jìn)行二分類處理,得到表示所述兩張圖像是否具有協(xié)同性的分類結(jié)果的步驟之后,還包括:
將所述分類結(jié)果與真實(shí)分類結(jié)果進(jìn)行對(duì)比,得到第三誤差;
利用所述第三誤差優(yōu)化所述第一網(wǎng)絡(luò)層組、所述第二網(wǎng)絡(luò)層組以及進(jìn)行所述降維利用的網(wǎng)絡(luò)層的參數(shù)。
4.一種圖像協(xié)同顯著性檢測(cè)裝置,其特征在于,包括:
特征提取單元,用于利用第一網(wǎng)絡(luò)層組對(duì)兩張圖像進(jìn)行特征提取,分別得到第一特征圖集以及第二特征圖集;
協(xié)同學(xué)習(xí)單元,用于利用第二網(wǎng)絡(luò)層組學(xué)習(xí)所述第一特征圖集與所述第二特征圖集之間的協(xié)同性,得到協(xié)同特征圖集;
疊加單元,用于將所述第一特征圖集以及所述第二特征圖集分別與所述協(xié)同特征圖集進(jìn)行疊加;
反卷積單元,用于將疊加后得到的兩個(gè)特征圖集分別進(jìn)行反卷積,得到所述兩張圖像分別對(duì)應(yīng)的協(xié)同顯著圖;
優(yōu)化單元,用于將所述兩張協(xié)同顯著圖分別與相應(yīng)的真實(shí)協(xié)同顯著圖進(jìn)行對(duì)比,得到第一誤差以及第二誤差;
利用所述第一誤差以及所述第二誤差優(yōu)化所述第一網(wǎng)絡(luò)層組、所述第二網(wǎng)絡(luò)層組以及進(jìn)行所述反卷積處理利用的網(wǎng)絡(luò)層的參數(shù);
所述第一誤差以及所述第二誤差的計(jì)算方法包括:
其中,n表示批量訓(xùn)練樣本的數(shù)量,yi表示第i個(gè)真實(shí)的協(xié)同顯著圖,pi表示第i個(gè)預(yù)測(cè)的協(xié)同顯著圖;
所述特征提取單元具體用于:
將兩張圖像分別通過VGG16網(wǎng)絡(luò)所包含的卷積層進(jìn)行卷積處理,得到第三特征圖集以及第四特征圖集;
將所述第三特征圖集以及第四特征圖集再分別進(jìn)行卷積處理,得到第一特征圖集以及第二特征圖集;
還包括:
協(xié)同性檢測(cè)單元,用于將所述協(xié)同特征圖集進(jìn)行降維,得到1×2維的特征向量;
對(duì)所述特征向量進(jìn)行二分類處理,得到表示所述兩張圖像是否具有協(xié)同性的分類結(jié)果。
5.如權(quán)利要求4所述的裝置,其特征在于,所述協(xié)同學(xué)習(xí)單元具體用于:
將第一特征圖集與所述第二特征圖集進(jìn)行疊加得到第五特征圖集;
將所述第五特征圖集進(jìn)行卷積處理,得到協(xié)同特征圖集。
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