[發明專利]平板探測器的漂移校正方法、裝置、系統和存儲介質

在審

• 申請號: 201810101585.4
• 申請日: 2018-02-01
• 公開（公告）號: CN110109174A
• 公開（公告）日: 2019-08-09
• 發明（設計）人: 費孝愛
• 申請（專利權）人: 上海西門子醫療器械有限公司
• 主分類號: G01T7/00
• 分類號: G01T7/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明實施方式公開了一種平板探測器的漂移校正方法、裝置、系統和存儲介質。方法包括：確定平板探測器的當前幀速率值和當前工作溫度值；獲取所述平板探測器在所述當前幀速率值和所述當前工作溫度值時所采集的X射線圖像；從漂移模板庫中檢索出對應于所述當前幀速率值和所述當前工作溫度值的漂移模板；基于所述漂移模板對所述X射線圖像執行漂移校正。本發明實施方式可以克服實時生成漂移模板所導致的系統資源占用問題。而且，即使需要多次執行X射線圖像成像，也無需頻繁生成漂移模板，顯著降低了工作量。

技術領域

本發明涉及X射線成像技術領域，特別是涉及一種平板探測器的漂移校正方法、裝置、系統和存儲介質。

背景技術

X射線是波長介于紫外線和γ射線之間的電磁輻射。X射線具有穿透性，對不同密度的物質有不同的穿透能力。在醫學上一般用X射線投射人體器官及骨骼以形成醫學圖像。平板探測器是一種精密設備，對X射線成像質量起著決定性的作用，熟悉探測器的性能指標有助于提高成像質量和減少X射線輻射劑量。

平板探測器通常包括非晶硒平板探測器和非晶硅平板探測器。在使用過程中，平板探測器會產生電子基準漂移現象，需要被校正。平板探測器的漂移校準工作是成像質量控制管理中的關鍵內容。良好校準的平板探測器可以提高平板探測器的穩定性，并在整個成像鏈中起著重要作用。

在現有技術中，通常在X射線圖像成像時實時生成漂移模板(比如，間隔2分鐘生成漂移模板)，并基于實時生成的漂移模板對平板探測器進行校正。

然而，實時生成漂移模板會顯著占用系統資源，并增大耗電量。而且，當多次執行X射線圖像成像時，頻繁生成漂移模板也會增加工作量。

發明內容

本發明實施方式提出一種平板探測器的漂移校正方法、裝置、系統和存儲介質。

平板探測器的漂移校正方法，包括：

確定平板探測器的當前幀速率值和當前工作溫度值；

獲取所述平板探測器在所述當前幀速率值和所述當前工作溫度值時所采集的X射線圖像；

從漂移模板庫中檢索出對應于所述當前幀速率值和所述當前工作溫度值的漂移模板；

基于所述漂移模板對所述X射線圖像執行漂移校正。

可見，在本發明實施方式中，在需要使用漂移模板時直接從漂移模板庫檢索出漂移模板，而無需實時生成漂移模板，可以克服實時生成漂移模板所導致的系統資源占用問題。而且，即使需要多次執行X射線圖像成像，也無需頻繁生成漂移模板，顯著降低了工作量。

在一個實施方式中，所述基于漂移模板對所述X射線圖像執行漂移校正包括：

確定所述X射線圖像中像素點的灰度值及所述漂移模板中對應像素點的灰度值；

將所述X射線圖像中的像素點的灰度值減去所述漂移模板中對應像素點的灰度值。

因此，本發明實施方式通過檢索出的漂移模板與X射線圖像的灰度值校正，實現了針對X射線圖像的漂移校正。

在一個實施方式中，所述從漂移模板庫中檢索出對應于所述當前幀速率值和所述當前工作溫度值的漂移模板包括下列中的至少一個：

從布置在云端的所述漂移模板庫中檢索出對應于所述當前幀速率值和所述當前工作溫度值的漂移模板；

從布置在工作站中的所述漂移模板庫中檢索出對應于所述當前幀速率值和所述當前工作溫度值的漂移模板；

從布置在所述平板探測器中的所述漂移模板庫中檢索出對應于所述當前幀速率值和所述當前工作溫度值的漂移模板。