[發(fā)明專利]一種面板點(diǎn)燈測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810101005.1
• 申請(qǐng)日: 2018-02-01
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN108267875A
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李強(qiáng);豆婷
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電半導(dǎo)體顯示技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13
• 代理公司: 深圳匯智容達(dá)專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44238
• 代理人: 潘中毅;熊賢卿

1.一種面板點(diǎn)燈測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，包括：

面板點(diǎn)燈機(jī)，用于放置檢測(cè)面板并在點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)為所述檢測(cè)面板提供背光；

點(diǎn)燈機(jī)控制裝置，用于根據(jù)所述檢測(cè)面板的ID從工廠系統(tǒng)獲取所述檢測(cè)面板在制程中的修補(bǔ)位置信息，并將所述修補(bǔ)位置信息發(fā)送給投影裝置；

信號(hào)發(fā)生器，分別與所述點(diǎn)燈機(jī)控制裝置和所述檢測(cè)面板電連接，用于產(chǎn)生點(diǎn)燈測(cè)試信號(hào)控制所述檢測(cè)面板顯示相應(yīng)畫面；

投影裝置，與所述點(diǎn)燈機(jī)控制裝置電連接，用于根據(jù)所述修補(bǔ)位置信息，將修補(bǔ)位置投影到所述檢測(cè)面板上。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述投影裝置用于以激光方式將所述修補(bǔ)位置投射到所述檢測(cè)面板上。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述投影裝置投射的激光顏色與所述信號(hào)發(fā)生器控制所述檢測(cè)面板顯示的畫面的顏色不相同，或是顏色相同但亮度不同。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述投影裝置投射的激光為高亮綠色或高亮紅色激光。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述修補(bǔ)位置信息是以修補(bǔ)點(diǎn)的坐標(biāo)或修補(bǔ)線段的兩個(gè)端點(diǎn)的坐標(biāo)所表示的修補(bǔ)位置信息。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述點(diǎn)燈機(jī)控制裝置在向所述投影裝置發(fā)送的所述修補(bǔ)位置信息中還包括區(qū)域標(biāo)識(shí)信息，所述投影裝置將所述修補(bǔ)位置投射到所述檢測(cè)面板上時(shí)，同時(shí)將區(qū)域標(biāo)識(shí)投射到所述檢測(cè)面板上。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于，所述面板點(diǎn)燈機(jī)包括：

支撐體；

設(shè)置在所述支撐體上的工作臺(tái)，用于容納并固定所述檢測(cè)面板；

設(shè)置在所述工作臺(tái)后方的背光板，用于在點(diǎn)燈測(cè)試時(shí)為所述檢測(cè)面板提供背光。

8.一種面板點(diǎn)燈測(cè)試方法，其特征在于，包括：

點(diǎn)燈機(jī)控制裝置根據(jù)放置于面板點(diǎn)燈機(jī)上的檢測(cè)面板的ID，從工廠系統(tǒng)獲取所述檢測(cè)面板在制程中的修補(bǔ)位置信息，并將所述修補(bǔ)位置信息發(fā)送給投影裝置；

所述投影裝置根據(jù)所述檢測(cè)面板在制程中的修補(bǔ)位置信息，將修補(bǔ)位置投影到所述檢測(cè)面板上；

信號(hào)發(fā)生器產(chǎn)生點(diǎn)燈測(cè)試信號(hào)控制被投射有修補(bǔ)位置的檢測(cè)面板顯示相應(yīng)畫面。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述投影裝置以激光方式將所述修補(bǔ)位置投射到所述檢測(cè)面板上。

10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的測(cè)試方法，其特征在于，所述投影裝置投射的激光顏色與所述信號(hào)發(fā)生器控制所述檢測(cè)面板顯示的畫面的顏色不相同，或是顏色相同但亮度不同。