[發(fā)明專利]一種復(fù)合襯底及復(fù)合襯底的制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810099811.X | 申請日: | 2018-02-01 |
| 公開(公告)號: | CN108321081B | 公開(公告)日: | 2023-05-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙中陽 | 申請(專利權(quán))人: | 趙中陽 |
| 主分類號: | H01L21/20 | 分類號: | H01L21/20;H01L23/14 |
| 代理公司: | 北京中知法苑知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11226 | 代理人: | 常玉明;張?zhí)m海 |
| 地址: | 100162 北京市大興區(qū)西*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 復(fù)合 襯底 制作方法 | ||
1.一種采用鍵合工藝制備復(fù)合襯底的制作方法,所述制作方法包括:
設(shè)置有鍵合粘結(jié)輔助材料層,粘結(jié)輔助材料層包括一個或多個粘結(jié)加固區(qū)域,該粘結(jié)加固區(qū)域包括粘結(jié)輔助材料并混合了Ge材料和GaAs材料;
在GaAs襯底的鍵合表面設(shè)置鍵合粘結(jié)輔助材料層,粘結(jié)輔助材料層包括一個或多個粘結(jié)加固區(qū)域,在該粘結(jié)加固區(qū)域內(nèi)由鍵合粘結(jié)輔助材料混合了Ge材料和GaAs材料;
將GaAs襯底的鍵合面和Ge襯底的鍵合面進(jìn)行初步鍵合工藝,該初步鍵合工藝將GaAs襯底和Ge襯底結(jié)合在一起,得到鍵合過渡層;
采用第二鍵合工藝,在第二鍵合過程中采用第一激光加熱所述鍵合過渡層,經(jīng)過激光熱熔工藝處理所述粘結(jié)加固區(qū)域中的Ge與GaAs融熔一起,與其上下接觸的GaAs襯底和Ge襯底緊密結(jié)合在一起;
所述粘結(jié)加固區(qū)域中的Ge的含量為3mt%-12mt%,GaAs的含量為3mt%-12mt%,其余為粘結(jié)輔助材料。
2.如權(quán)利要求1所述的制作方法,所述粘結(jié)輔助材料為釬料和/或TMMA,所述釬料為Sn-3.0Ag-0.5Cu?或?Sn-0.5Al。
3.如權(quán)利要求1或2所述的制作方法,采用網(wǎng)印印刷工藝將粘結(jié)加固區(qū)域圖案制備在GaAs襯底的鍵合面。
4.如權(quán)利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述Ge襯底內(nèi)具有注氫層,所述注氫層通過激光加熱工藝進(jìn)行襯底剝離。
5.一種復(fù)合襯底結(jié)構(gòu),所述復(fù)合襯底結(jié)構(gòu)由GaAs襯底和Ge襯底鍵合而成,其特征在于,該復(fù)合襯底包括:
在GaAs襯底的鍵合表面設(shè)置有鍵合粘結(jié)輔助材料層,粘結(jié)輔助材料層內(nèi)包括一個或多個粘結(jié)加固區(qū)域,該粘結(jié)加固區(qū)域包括粘結(jié)輔助材料并混合了Ge材料和GaAs材料;
所述復(fù)合襯底中的GaAs襯底的鍵合面和Ge襯底的鍵合面通過初步鍵合工藝結(jié)合在一起;所述粘結(jié)加固區(qū)域在第二鍵合工藝期間被激光加熱,經(jīng)過激光熱熔工藝處理所述粘結(jié)加固區(qū)中的Ge與GaAs融熔一起,與其上下接觸的GaAs襯底和Ge襯底緊密結(jié)合在一起;
所述粘結(jié)加固區(qū)域中的Ge的含量為3mt%-22mt%,GaAs的含量為5mt%-25mt%,其余為粘結(jié)輔助材料。
6.如權(quán)利要求5所述的復(fù)合襯底結(jié)構(gòu),所述粘結(jié)輔助材料為釬料和/或TMMA,所述釬料包括Sn-3.0Ag-0.5Cu?或?Sn-0.5Al。
7.如權(quán)利要求5或6所述的復(fù)合襯底結(jié)構(gòu),采用網(wǎng)印印刷工藝將粘結(jié)加固區(qū)域圖案制備在GaAs襯底的鍵合面。
8.如權(quán)利要求5或6所述的復(fù)合襯底結(jié)構(gòu),其特征在于,所述Ge襯底內(nèi)具有注氫層,所述注氫層通過激光加熱工藝進(jìn)行襯底剝離。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





