[發明專利]觸發器電路及集成電路

有效

• 申請號: 201810097078.8
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN110098821B
• 公開（公告）日: 2023-01-24
• 發明（設計）人: 楊炳君;崔浩;錢豐
• 申請（專利權）人: 龍芯中科技術股份有限公司
• 主分類號: H03K3/0233
• 分類號: H03K3/0233;G01R31/3185
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 董建姣;劉芳

本發明實施例提供一種觸發器電路及集成電路，觸發器包括：輸入邏輯組合單元、觸發器單元、輸出邏輯組合單元和模式控制單元，輸入邏輯組合單元包括功能信號輸入端、測試信號輸入端以及輸入端組，輸入邏輯組合單元通過輸入端組以及模式控制單元上與輸入端組對應的輸出端組與模式控制單元連接；輸入邏輯組合單元在模式控制單元的控制下輸出功能信號或測試信號；輸入邏輯組合單元的輸出端與觸發器單元的輸入端連接；觸發器單元的第一輸出端與輸出邏輯組合單元的第一輸出單元連接；觸發器單元的第二輸出端與輸出邏輯組合單元的第二輸出單元連接，觸發器單元的第一輸出端和第二輸出端的相位不同。在保證觸發器具有可測性的前提下提高觸發器的性能。

技術領域

本發明實施例涉及觸發器技術領域，尤其涉及一種觸發器電路及集成電路。

背景技術

觸發器是數字電路中的一種時序存儲單元，可以通過時鐘信號對觸發器進行控制，在時鐘信號的上升沿或者下降沿到來時，觸發器被觸發，此時的輸出隨著輸入的改變而改變，在其余時間，觸發器的輸出保存不變。

在實際應用過程中，為了保證觸發器可以正常工作，需要對觸發器進行測試。而隨著電子電路集成度的提高，電路愈加復雜，例如，一個電路中可能包括很多個觸發器等時序器件，使得對電子電路的測試過程更加復雜。在現有技術中，通常在觸發器中增加測試電路，以實現對觸發器進行測試，并在觸發器相同的節點輸出功能結果和測試結果。然而，在通過相同的節點輸出功能結果和測試結果時，功能結果和測試結果的輸出可能會相互影響，使得功能輸出的負載電容較大，進而降低功能輸出的速度，使得觸發器的性能較差。

發明內容

本發明實施例提供一種觸發器電路及集成電路，在保證觸發器具有可測性的前提下提高觸發器的性能。

第一方面，本發明實施例提供一種觸發器電路，包括：輸入邏輯組合單元、觸發器單元、輸出邏輯組合單元和模式控制單元，其中，

所述輸入邏輯組合單元包括功能信號輸入端、測試信號輸入端以及輸入端組，所述輸入邏輯組合單元通過所述輸入端組以及所述模式控制單元上與所述輸入端組對應的輸出端組與所述模式控制單元連接；所述輸入邏輯組合單元在所述模式控制單元的控制下輸出功能信號或測試信號；所述輸入邏輯組合單元的輸出端與所述觸發器單元的輸入端連接；

所述觸發器單元的第一輸出端與所述輸出邏輯組合單元的第一輸出單元連接，所述第一輸出單元的輸出端輸出所述測試信號對應的測試結果；

所述觸發器單元的第二輸出端與所述輸出邏輯組合單元的第二輸出單元連接，所述第二輸出單元的輸出端輸出所述功能信號對應的功能結果，所述觸發器單元的第一輸出端和第二輸出端的相位不同。

在一種可能的實施方式中，所述模式控制單元包括第一輸出端和第二輸出端，所述輸入邏輯組合單元包括第一與門、第二與門、以及或門，其中，

所述第一與門包括所述測試信號輸入端、以及所述輸入端組中的第一輸入端，所述輸入端組中的第一輸入端與所述模式控制單元的輸出端組中的第一輸出端連接；

所述第二與門包括所述功能信號輸入端、以及所述輸入端組中的第二輸入端，所述輸入端組中的第二輸入端與所述模式控制單元的輸出端組中的第二輸出端連接，所述模式控制單元的輸出端組的第一輸出端和第二輸出端輸出信號的相位相反；

所述第一與門的輸出端與所述或門的第一輸入端連接，所述第二與門的輸出端與所述或門的第二輸入端連接；

所述或門的輸出端與所述觸發器單元的輸入端連接。

在另一種可能的實施方式中，所述輸出邏輯組合單元的第一輸出單元包括第一反相器，其中，

所述第一反相器的輸入端與所述觸發器單元的第一輸出端連接；

所述第一反相器的輸出端輸出所述測試結果。