[發明專利]基于頻域分析的去除圖像摩爾紋的方法

有效

• 申請號: 201810095866.3
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN108389164B
• 公開（公告）日: 2021-05-11
• 發明（設計）人: 侯小華;趙斌
• 申請（專利權）人: 深圳市商巨視覺技術有限公司
• 主分類號: G06T5/00
• 分類號: G06T5/00
• 代理公司: 廈門智慧呈睿知識產權代理事務所(普通合伙) 35222
• 代理人: 郭福利;魏思凡

本發明實施例提供一種基于頻域分析的去除圖像摩爾紋的方法，包括:處理拍攝圖像獲取第一圖像，所述第一圖像為所述拍攝圖像中面板所顯示畫面的圖像部分；分析所述第一圖像亮度，所述第一圖像通過第一矩陣來表示，所述第一矩陣的元素的值分別對應所述第一圖像的像素的亮度值；通過FFT算法將所述第一矩陣變換為頻域矩陣；分析所述頻域矩陣后將所述頻域矩陣中過高的頻域值調小，將調整后的頻域矩陣進行反傅里葉變換，獲得第二矩陣；根據所述第二矩陣調整所述第一圖像的亮度，獲得去除摩爾紋的第二圖像。本發明通過頻域分析尋找第一矩陣的亮度分布與周期性變化，進而消減由于摩爾紋效應帶來的高頻部分。具有操作方便，且去除摩爾紋效果好的優點。

技術領域

本發明涉及信息技術領域，具體而言，涉及一種基于頻域分析的去除圖像摩爾紋的方法。

背景技術

在液晶面板或有機EL面板這一類顯示面板中，通過具有R (紅)、G (綠)、B (藍)子像素的像素(pixel)的不同的開關方式來顯示圖像和/或影像，其中，一般使用R (紅)、G(綠)、B (藍)組成光的三原色，部分產品或加入W（白）或Y（黃）以獲取更廣的色域，或亮度表現。一般來說，在這樣的顯示面板中，制造工序中難免存在加工精度的偏差，導致顯示不均。

顯示不均現象大致可分為輝度不均和顏色不均。輝度不均使得臨近的像素之間具有亮度梯度。顏色不均發生在每個像素的R、G、B（W，Y）的相對亮度關系存在梯度。特別的，有機EL面板加工工藝中難以使每個像素的有機化合物層的厚度均勻，因此容易發生因有機化合物層的層厚不一致而引起的區域性的顯示不均的特性。

作為對此情況的對策，專利文獻（CN105575326A）提出了一種輝度測量方法，獲取顯示面板在至少三個灰階下的亮度矩陣；根據亮度矩陣確定亮度均勻區域和亮度不均勻區域；測量亮度均勻區域的實測Gamma曲線,根據亮度矩陣計算亮度不均勻區域中各個像素點在至少三個灰階對應的擬合Gamma值；根據實測Gamma曲線、擬合Gamma值分別擬合得到亮度不均勻區域中每一像素點的擬合Gamma曲線；根據每一像素點的擬合Gamma曲線對亮度不均勻區域進行亮度校準。通過上述方式,本發明能夠提高校準亮度不均的精度以及提高校準的效率。

專利文獻（WO2013159377 A1）提出另外一種檢測方式，獲取設置在檢測機臺上的背光模組處于標準輝度時在檢測機臺的多個位置產生的空間照度值，并將該空間照度值作為標準空間照度值（S201）；獲取背光模組在該多個位置產生的即時空間照度值（S202）；將即時空間照度值與標準空間照度值進行比較，從而判定背光模組是否異常（S203）。該檢測方法采用照度測量儀替代輝度測量儀，節約了成本。但是，以上方法均需要使用呈周期性排列的固態成像元件（CCD or CMOS）相機來拍攝像素同樣呈周期性排列的顯示面板的圖像，在此情況下，會因相機像素排列的周期和顯示面板排列的周期之間無法匹配而產生偏移，導致被拍攝的圖像發生干涉，這種干涉條紋業內稱為摩爾紋(Moire)。

如果基于發生了摩爾紋的拍攝圖像測定像素的輝度，則會發生由于在顯示面板上位于對應于摩爾紋的位置的像素的輝度被測定得偏暗等而無法正確測定輝度的情況，因此需要抑制由摩爾紋引起的影響。

作為對此情況的對策，專利文獻（CN106664359A）公開了如下方法: 在聚焦并拍攝時產生的摩爾紋（M）產生的狀態下拍攝圖像，用高通濾波器（12）從拍攝到的圖像去除相當于摩爾紋（M）的空間頻率成分，以生成第1圖像，利用相機（2）離焦并拍攝圖像，對拍攝到的圖像適用低通濾波器（13）以生成第2圖像，將第1圖像以及第2圖像合成，生成摩爾紋（M）消失或被抑制的第3圖像。但是，上述專利文獻中2的去除摩爾紋的方法操作復雜且需要特制的機器平臺。

發明內容

有鑒于此，本發明實施例的目的在于提供一種基于頻域分析的去除圖像摩爾紋的方法，以改善現有技術中顯示面板易受摩爾紋影響出現顯示不均的問題。

本發明較佳實施例提供了：

基于頻域分析的去除圖像摩爾紋的方法，包括: