[發明專利]AMOLED顯示裝置的檢測裝置及方法、修復裝置及方法、修復系統

在審

• 申請號: 201810094851.5
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN108281102A
• 公開（公告）日: 2018-07-13
• 發明（設計）人: 王曉偉;張國慶;楊紅霞;王偉峰
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00;G01R31/00
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 滕一斌

本發明公開了一種AMOLED顯示裝置的檢測裝置及方法、修復裝置及方法、修復系統，屬于AMOLED顯示裝置領域。該檢測裝置包括點亮模塊、電流檢測模塊和判斷模塊，點亮模塊用于依次點亮AMOLED顯示裝置的屏幕的多個檢測區域，屏幕被劃分為多個檢測區域，每個檢測區域包括至少一個發光單元；電流檢測模塊用于獲取檢測電流，檢測電流為被點亮的檢測區域內的發光單元的驅動電流之和；判斷模塊用于根據檢測電流判斷對應的檢測區域是否為不良區域，通過將AMOLED顯示裝置的屏幕劃分為多個檢測區域，依次進行點亮并獲取檢測區域的檢測電流，根據檢測電流判斷該檢測區域是否為不良區域，依此法可以對AMOLED顯示裝置的亮度均一性進行檢測，檢測效率高，檢測標準統一，準確性高。

技術領域

本發明涉及AMOLED顯示裝置領域，特別涉及一種AMOLED顯示裝置的檢測裝置及方法、修復裝置及方法、修復系統。

背景技術

AMOLED(Active-matrix organic light emitting diode，有源矩陣有機發光二極管)顯示裝置具有驅動電壓低、壽命長、分辨率高的特點，是一種潛力巨大的OLED顯示裝置。

AMOLED顯示裝置在制作完成后需要進行亮度檢測，以檢測屏幕上各個區域的亮度。AMOLED顯示裝置的屏幕上各個區域之間的亮度差異越小，則亮度均一性越好，若屏幕上存在亮度過高或是過低的區域，則認為該AMOLED顯示裝置存在Mura不良(屏幕亮度不均勻)。

目前對AMOLED顯示裝置的亮度檢測主要是通過工人目視檢測，由工人感受屏幕的畫面亮度，判斷OLED顯示裝置是否存在Mura不良的問題。這種檢測方式不僅效率低，而且受主觀影響大，同一個AMOLED顯示裝置由不同的工人檢測可能會得出不同的檢測結果，降低產品良率，且對于檢測出來的不良較難修復。

發明內容

為了解決AMOLED顯示裝置的產品良率低的問題，本發明實施例提供了一種AMOLED顯示裝置的檢測裝置、檢測方法、修復方法及顯示裝置。所述技術方案如下：

一方面，本發明實施例提供了一種AMOLED顯示裝置的檢測裝置，所述檢測裝置包括：

點亮模塊，用于依次點亮AMOLED顯示裝置的屏幕的多個檢測區域，所述屏幕被劃分為所述多個檢測區域，每個所述檢測區域均包括至少一個發光單元；

電流檢測模塊，用于獲取檢測電流，所述檢測電流為被點亮的所述檢測區域內的發光單元的驅動電流之和；

判斷模塊，用于根據所述檢測電流判斷對應的所述檢測區域是否為不良區域。

可選地，所述多個檢測區域沿第一方向排列，每個所述檢測區域呈條形，且每個所述檢測區域沿第二方向延伸，所述第二方向垂直于所述第一方向；

或者，所述多個檢測區域呈矩陣狀排布。

可選地，所述判斷模塊包括：

計算單元，用于計算所述檢測電流與電流參考值的比值，所述電流參考值為各所述檢測區域的檢測電流的平均值或者設定值；

判斷單元，用于根據所述比值確定所述檢測區域是否為不良區域。

可選地，所述檢測裝置還包括：

存儲模塊，用于存儲確定出的所述不良區域的位置信息。

可選地，每個所述檢測區域均包括4～8個像素結構。

另一方面，本發明實施例還提供了一種AMOLED顯示裝置的修復裝置，所述修復裝置包括：

確定模塊，用于確定不良區域的位置；

獲取模塊，用于獲取正常區域的發光單元被點亮時正常區域的電流密度，所述正常區域為屏幕上除所述不良區域之外的區域；