[發明專利]一種“近距離測試”理論及方法在審
| 申請號： | 201810094509.5 | 申請日： | 2013-10-12 |
| 公開（公告）號： | CN108362996A | 公開（公告）日： | 2018-08-03 |
| 發明（設計）人： | 陸放 | 申請（專利權）人： | 深圳市愛德特科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海三方專利事務所 31127 | 代理人： | 吳瑋 |
| 地址： | 518057 廣東省深圳市高*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 被測元件 創新性地 關鍵設計 近距離 電路 高速測試電路 高速數據傳輸 微型化 測量設備 測試數據 測試裝置 低速性能 電子線路 高速傳輸 市場推廣 輸入標準 完全分離 線路功耗 可調性 功耗 瓶頸 輸出 應用 | ||
【權利要求書】：
1.一種“近距離測試”理論及方法，其特征在于其衡量測試質量標準是基于元件的生產方式與生產瑕疵發生的形式所導致元件失效的概率。
2.根據權利要求1所述的“近距離測試”理論及方法，，其基礎是基于現行元件的生產方式與生產瑕疵發生的形式與概率，其特征在于，基于各導線或線路之間短路的概率與其互相之間最近的物理距離的反比關系，就是互相距離越遠的發生生產瑕疵的概率會越低并以此概率的高低來排除低效的測試數據以達到測試數據的壓縮；也就是互相間短路可能性低到某一程度的導線或線路不互測。
3.根據權利要求1所述的“近距離測試”理論及方法，其特征在于，基于目前大部分元件特別是集成電路元件的生產方式是分層平面布線的方法，根據本發明的近距離測試方法就是隔線及隔層不測。
4.根據權利要求1所述的“近距離測試”理論及方法，其特征在于，使用硬件或軟件其結構及功能是根據被測元件而變化的以達到所產生的測試數據能符合“近距離測試”方法的要求。
5.根據權利要求1所述的“近距離測試”理論及方法，其特征在于，所述的硬件包括DATAGERERATOR與ADDR GENERATOR，其結構及功能是根據被測元件而變化的以達到所產生的測試數據及地址能符合“近距離測試”方法的要求。
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于深圳市愛德特科技有限公司，未經深圳市愛德特科技有限公司許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810094509.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種創新的FPGA的使用方法
- 下一篇：一種芯片自動測試裝置
