[發明專利]一種基于高低速測試分離的測試裝置在審
| 申請號： | 201810094067.4 | 申請日： | 2013-10-12 |
| 公開（公告）號： | CN108362994A | 公開（公告）日： | 2018-08-03 |
| 發明（設計）人： | 陸放 | 申請（專利權）人： | 深圳市愛德特科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/28 | 分類號： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海三方專利事務所 31127 | 代理人： | 吳瑋 |
| 地址： | 518057 廣東省深圳市高*** | 國省代碼： | 廣東;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試裝置 測試 被測元件 創新性地 關鍵設計 高低速 電路 高速測試電路 高速數據傳輸 微型化 測量設備 測試數據 低速性能 電子線路 高速傳輸 市場推廣 輸入標準 完全分離 線路功耗 可調性 功耗 瓶頸 輸出 應用 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于高低速測試分離的測試裝置，其特征在于，在高速測試時被測元件只與相關高速測試線路連接而與其他線路完全隔離。
2.一種基于高低速測試分離的測試裝置，其特征在于，在低速測試時被測元件只與相關低速測試線路連接而與其他線路完全隔離。
3.一種基于高低速測試分離的測試裝置，其特征在于使用機械或電動機械使得在高速測試時被測元件只與相關高速測試線路連接而與其他線路完全隔離；
而當要做其他測試時才將別的相關線路與被測元件連接。
4.一種基于高低速測試分離的測試裝置，其特征在于使用機械或電動機械使得在低速測試時被測元件只與相關低速測試線路連接而與其他線路完全隔離；而當要做其他測試時才將別的相關線路與被測元件連接。
5.一種基于高低速測試分離的測試裝置，其特征在于，還包括高速測試線路或低速測試線路；所述高速測試線路或低速測試線路分別在各自測試時使用測試針接到被測元件上，從而使得高速測試線路或低速測試線路與被測元件分別連接進行高速測試或低速測試
6.一種基于高低速測試分離的測試裝置，其特征在于，低速測試線路使用測試針接到被測元件的DUT線路板上的接觸點上，高速測試線路使用測試針接到低速測試線路板背面的接觸點上，從而使得低速測試線路與高速測試線路及被測元件同時連接從而進行所需的測試。
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