[發明專利]一種易于調試的射頻匹配結構和射頻匹配電路

在審

• 申請號: 201810093983.6
• 申請日: 2018-01-31
• 公開（公告）號: CN108282169A
• 公開（公告）日: 2018-07-13
• 發明（設計）人: 郭萬榮
• 申請（專利權）人: 上海康斐信息技術有限公司
• 主分類號: H04B1/04
• 分類號: H04B1/04;H04B1/18
• 代理公司: 杭州千克知識產權代理有限公司 33246
• 代理人: 周希良;吳輝輝

本發明公開了一種易于調試的射頻匹配結構和射頻匹配電路，結構包括：焊盤；所述焊盤上設有一可相對所述焊盤滑動的匹配元件。射頻匹配電路中所述第一子焊盤與射頻信號輸出端連接，所述第二子焊盤接地。本發明射頻調試更方便容易，調試理想度更高，能夠極大的縮短射頻研發周期，降低研發成本，此外，匹配器件僅有一個，整體占用空間小，器件排布空間節約，可復制性高，實用性好，特別適合小型器件的射頻功能使用。

技術領域

本發明涉及射頻通信技術領域，尤其涉及一種易于調試的射頻匹配結構和射頻匹配電路。

背景技術

目前凡是利用無線通信的電子產品，都會涉及射頻的概念，所謂射頻(簡稱RF)，就是一種具有遠距離傳輸能力的高頻交流變化電磁波，其頻率范圍在300KHz～300GHz之間，產生射頻信號的電路就是射頻電路，射頻電路中通常包括射頻收發電路，射頻匹配電路，耦合器，功率放大器，濾波器，天線等等。

由于射頻信號從產生到經天線發射的過程由于電路器件性能、線路排布等的影響，會產生一定的功能損耗，為了能夠將射頻信號低失真的傳遞，保證傳輸最大的信號能量，減少回波對信號質量和可用功率的影響，除了盡量減少不必要器件使用外，射頻調試是必不可少的；射頻調試過程就是為了滿足終端阻抗性能指標的要求，幫助射頻電路實現所需頻段的低失真通信的過程。用于實現射頻調試的電路就叫射頻匹配電路，射頻匹配電路一般由多個電容、電感組成，可實現阻抗的匹配。

一般地，為了射頻調試過程所調試出的參數更符合實際電路的性能需求，實際射頻調試時均直接在實際電路上進行，而現有的射頻匹配電路多采用多個分立元件排布走線形成的匹配網絡(如π型或者L型匹配網路)，通過改變分立元件的電感電容的值來實現匹配的目的；雖然能夠較好的匹配射頻信號，保障信號低失真的傳輸，但分立元件較多，一方面結構本身占據排布空間大，不利于射頻產品小型化發展，另一方面由于排布空間限制排布緊密，不利于器件更換，容易造成實際電路的損壞，而且分立元件多，影響調試參數改變的因素就多，這使得調試過程難度加大，時間拉長，有時即使投入大量的時間和精力也難以達到指標要求，只能通過改版改變走線的方式，重新進行調試，很容易造成研發成本加大，研發周期加長。

如公開號為CN106788563A的專利文獻公開了“一種終端射頻電路的匹配網絡電路”，包括π型或L型匹配網絡電路和并聯電路，其中，所述并聯電路一端連接所述π型或L型匹配網絡電路輸入端，另一端接地，其中，所述并聯電路包括并聯的一個電容和一個電感，所述電容和電感并聯后接地。能對射頻電路在改變一個頻段端口阻抗的同時，改善其收斂性。但由于分立元件太多，這不僅導致成本增加，而且會使PCB布局更加不便，容易因空間受限，同時調試過程需要更換多個器件，會拉長調試的周期，也容易碰到難調的問題。

發明內容

本發明要解決的技術問題是針對上述現有技術的不足，提供一種元器件少，占用空間小，利于器件排布，調試更方便容易，調試參數連續性好，阻抗匹配精確度更高，更容易把實際電路的阻抗變換為所需阻抗，能夠大大縮短射頻研發周期和成本，實現射頻信號高質量傳輸的一種易于調試的射頻匹配結構和射頻匹配電路。

為了實現上述目的，本發明采用的技術方案為：

一種易于調試的射頻匹配結構，包括：焊盤；所述焊盤上設有一可相對所述焊盤滑動的匹配元件。

進一步地，所述焊盤的長度不大于二分之一波長。

進一步地，所述匹配元件為電感。

進一步地，所述匹配元件為電容。

進一步地，所述焊盤包括第一子焊盤和第二子焊盤，所述第一子焊盤和所述第二子焊盤兩者互不接觸的設置，所述匹配元件一端與所述第一子焊盤連接，另一端與所述第二子焊盤連接。

進一步地，所述第一子焊盤的長度不大于二分之一波長，所述匹配元件一端與所述第一子焊盤可滑動連接。