[發(fā)明專利]一種基于線陣相機(jī)的在位砂輪快速全場(chǎng)檢測(cè)方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810090720.X | 申請(qǐng)日: | 2018-01-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108426537B | 公開(公告)日: | 2020-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 崔長彩;王克賢;黃國欽;黃輝;徐西鵬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華僑大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01B11/24 | 分類號(hào): | G01B11/24;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/194;G06T7/80;G06T7/292;G06T5/00 |
| 代理公司: | 廈門市首創(chuàng)君合專利事務(wù)所有限公司 35204 | 代理人: | 張松亭;楊鍇 |
| 地址: | 362000 福建省*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 相機(jī) 在位 砂輪 快速 全場(chǎng) 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) | ||
本發(fā)明涉及一種基于線陣相機(jī)的在位砂輪快速全場(chǎng)檢測(cè)方法及系統(tǒng),利用線陣相機(jī)的工作原理,通過傳動(dòng)機(jī)構(gòu),既具有單級(jí)驅(qū)動(dòng)傳動(dòng),控制系統(tǒng)邏輯簡單,又能快速、精確獲取砂輪的全場(chǎng)表面二維形貌,如單顆磨粒的面積、粒徑、磨粒之間的間距、砂輪磨粒的密度分布、全場(chǎng)單顆磨粒的坐標(biāo)、判斷磨粒是否脫落、及脫落坐標(biāo)等二維信息。本發(fā)明特別適用于砂輪的在位檢測(cè),完成自動(dòng)對(duì)焦、標(biāo)定、圖像獲取、分析統(tǒng)計(jì)等操作,使用方便。而且所述的系統(tǒng)輕便,機(jī)動(dòng)性強(qiáng)。本發(fā)明也可用于其他可運(yùn)動(dòng)的待檢測(cè)對(duì)象;本發(fā)明所述的系統(tǒng)中,離線檢測(cè)平臺(tái)可實(shí)施為獨(dú)立結(jié)構(gòu),可替換為其他可運(yùn)動(dòng)的待檢測(cè)對(duì)象,即可實(shí)現(xiàn)對(duì)其他對(duì)象的表面二維形貌的全場(chǎng)檢測(cè)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及砂輪表面二維形貌檢測(cè)領(lǐng)域,更具體地說,涉及一種基于線陣相機(jī)的在位砂輪快速全場(chǎng)檢測(cè)方法,以及一種基于線陣相機(jī)的在位砂輪快速全場(chǎng)檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
砂輪的二維形貌檢測(cè)方法,可獲得砂輪的各種二維形貌用于指導(dǎo)生產(chǎn)。現(xiàn)有技術(shù)中,公開了不同實(shí)現(xiàn)原理的砂輪表面二維形貌檢測(cè)方法,主要如下:
1、觸針法
觸針法通常還分為電感式和電容式,工作時(shí),觸針隨著砂輪形貌上下運(yùn)動(dòng),導(dǎo)致電感傳感器的電感量變化,電路將這變化轉(zhuǎn)化為變化的電壓,最后由記錄儀顯示形貌。觸針法雖然簡單直觀,但是速度慢,不能實(shí)現(xiàn)在位檢測(cè),容易對(duì)物體造成劃傷,觸針容易磨損,測(cè)量精度受到針尖半徑的限制,且難以獲得X-Y軸的二維信息。
2、印跡法
印跡法,又名滾動(dòng)復(fù)印法。具體原理是:緩慢轉(zhuǎn)動(dòng)砂輪,并且移動(dòng)復(fù)寫紙和玻璃板,玻璃板上得到砂輪表面形貌。通過采用點(diǎn)算法可以求出磨粒的密度分布。但印跡法不能進(jìn)行在位檢測(cè),對(duì)檢測(cè)砂輪的操作工人技術(shù)要求很高,工作強(qiáng)度很大,測(cè)量精度低。
3、激光功率譜法
當(dāng)激光投射到砂輪表面時(shí),其反射光在衍射場(chǎng)上,呈現(xiàn)砂輪表面形貌的激光功率譜圖像,檢測(cè)激光功率譜圖像,就可測(cè)定砂輪表面的特性及參數(shù)。激光功率譜法,分辨率低,采樣面積小,獲得的磨粒面積和粒徑,是采樣面積中磨粒的平均面積與粒徑,但并不能獲得單顆磨粒粒徑、面積,獲取的磨粒之間的間距,是采樣面積中,磨粒的平均間距。
4、光電檢測(cè)法
通過透鏡使兩光源聚焦,并重合落在砂輪表面,磨粒切刃小棱面反射光經(jīng)過矩形光柵射入光電倍增管,形成矩形波,根據(jù)矩形波得出刃距和消耗面長度。但光電檢測(cè)法分辨率低,采樣面積小,費(fèi)時(shí),隨意性大;獲得的磨粒面積和粒徑,都是采樣面積中磨粒的平均面積與粒徑,并不能獲得單顆磨粒粒徑、面積,獲取的磨粒之間的間距,是采樣面積中磨粒的平均間距。
5、液壓法
旋轉(zhuǎn)的砂輪將磨削液帶入砂輪和壓力傳感器之間的間隙,并產(chǎn)生液壓,這個(gè)壓力通過壓力傳感器轉(zhuǎn)化為電信號(hào),分析電信號(hào),即可實(shí)現(xiàn)形貌的檢測(cè)。但液壓法無法獲得完整的砂輪二維形貌信息。
6、聲發(fā)射法
砂輪在磨削過程中釋放出的彈性波經(jīng)AE傳感器轉(zhuǎn)化為電信號(hào),經(jīng)過放大,濾波,取包絡(luò)后,用雙閾值判別法進(jìn)行比較,判別是否鈍化。但聲發(fā)射法無法獲得完整的砂輪二維形貌信息。。
砂輪的表面形貌二維信息檢測(cè)方法除了以上的幾種具有代表的方法之外,還有其它的檢測(cè)方法,通過對(duì)各種測(cè)量方法的分析對(duì)比,各種檢測(cè)方法都有各自的優(yōu)點(diǎn),也存在各自的問題,如檢測(cè)速度太慢,快速性得不到滿足,不能獲得完整全場(chǎng)X-Y軸二維信息,磨粒密度不易計(jì)算。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種可以快速獲取砂輪完整全場(chǎng)X-Y軸二維形貌信息的一種基于線陣相機(jī)的在位砂輪快速全場(chǎng)檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
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