[發(fā)明專利]溫升記錄儀和溫升采集方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201810090098.2
• 申請(qǐng)日: 2018-01-30
• 公開（公告）號(hào): CN108267230A
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 祁輝;高明亮;陳建敏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華檢檢測(cè)技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01J5/00
• 分類號(hào): G01J5/00
• 代理公司: 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312
• 代理人: 歐志明

本發(fā)明實(shí)施例公開了一種溫升記錄儀和溫升采集方法，應(yīng)用于電子電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明實(shí)施例的溫升記錄儀包括：數(shù)據(jù)記錄裝置、環(huán)境溫度感應(yīng)裝置，數(shù)據(jù)采集裝置主體結(jié)構(gòu)、透視掃描裝置、至少3個(gè)紅外線熱感應(yīng)裝置。該數(shù)據(jù)記錄裝置與該數(shù)據(jù)采集裝置主體結(jié)構(gòu)相連。該透視掃描裝置、該紅外線熱感應(yīng)裝置和該環(huán)境溫度感應(yīng)裝置均安裝在該數(shù)據(jù)采集裝置主體結(jié)構(gòu)的側(cè)面上。該溫升記錄儀可降低采集溫升數(shù)據(jù)的所需時(shí)間。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及電子電氣設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種溫升記錄儀和溫升采集方法。

背景技術(shù)

隨著近年來(lái)科學(xué)技術(shù)的快速發(fā)展，電子電氣設(shè)備的發(fā)展也越來(lái)越豐富。為了延長(zhǎng)電子電氣設(shè)備的使用壽命、穩(wěn)定性等特性，通常會(huì)定期檢測(cè)電子電氣設(shè)備的重要元件的溫升。其中，溫升是指電子電氣設(shè)備中的各個(gè)部件高出環(huán)境的溫度。

然而，目前的溫升采集分析裝置通常采用粘貼熱電偶在待檢測(cè)元件和待檢測(cè)部件表面的方式，采集需要的溫升數(shù)據(jù)，在該過程中，需要確定待粘貼的熱電偶是否正常、將待粘貼的熱電偶通過膠水和催化劑固定在檢測(cè)區(qū)域，并且漏粘重要的點(diǎn)位時(shí)需要重新進(jìn)行粘點(diǎn)，極大了增加了采集溫升數(shù)據(jù)的所需時(shí)間。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于提供一種溫升記錄儀和溫升采集方法，可降低采集溫升數(shù)據(jù)的所需時(shí)間。

本發(fā)明實(shí)施例第一方面提供了一種溫升記錄儀，用于采集電子電氣設(shè)備的溫升數(shù)據(jù)，所述溫升記錄儀包括：數(shù)據(jù)記錄裝置、環(huán)境溫度感應(yīng)裝置，數(shù)據(jù)采集裝置主體結(jié)構(gòu)、透視掃描裝置、至少3個(gè)紅外線熱感應(yīng)裝置；所述數(shù)據(jù)記錄裝置與所述數(shù)據(jù)采集裝置主體結(jié)構(gòu)相連；所述透視掃描裝置、所述紅外線熱感應(yīng)裝置和所述環(huán)境溫度感應(yīng)裝置均安裝在所述數(shù)據(jù)采集裝置主體結(jié)構(gòu)的側(cè)面上。

本發(fā)明實(shí)施例第二方面提供了一種溫升采集方法，應(yīng)用于如本發(fā)明實(shí)施例第一方面所述的溫升記錄儀，待檢測(cè)電子電氣設(shè)備放置在所述溫升記錄儀的數(shù)據(jù)采集裝置主體結(jié)構(gòu)的下方，所述方法包括：所述溫升記錄儀通過所述環(huán)境溫度感應(yīng)裝置獲取周圍環(huán)境的環(huán)境溫度數(shù)據(jù)，并將所述環(huán)境溫度數(shù)據(jù)發(fā)送給電子裝置；所述溫升記錄儀通過所述透視掃描裝置掃描所述待檢測(cè)電子電氣設(shè)備，獲得所述待檢測(cè)電子電氣設(shè)備的輪廓數(shù)據(jù)并發(fā)送給所述電子裝置；所述溫升記錄儀接收所述電子裝置發(fā)送的根據(jù)所述輪廓數(shù)據(jù)生成的檢測(cè)指令，并通過所述紅外線熱感應(yīng)裝置獲取所述檢測(cè)指令指向的所述待檢測(cè)電子電氣設(shè)備內(nèi)的多個(gè)檢測(cè)點(diǎn)的溫度數(shù)據(jù)和空間數(shù)據(jù)；所述溫升記錄儀將所述溫度數(shù)據(jù)和所述空間數(shù)據(jù)發(fā)送給所述電子裝置，以使所述電子裝置對(duì)接收的所述環(huán)境溫度數(shù)據(jù)、所述溫度數(shù)據(jù)和所述空間數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，獲得各個(gè)所述檢測(cè)點(diǎn)的溫升數(shù)據(jù)。

本發(fā)明實(shí)施例第三方面提供了一種溫升采集方法，用于電子裝置，所述方法包括：所述電子裝置接收溫升記錄儀發(fā)送的周圍環(huán)境的環(huán)境溫度數(shù)據(jù)以及待檢測(cè)電子電氣設(shè)備的輪廓數(shù)據(jù)，根據(jù)所述輪廓數(shù)據(jù)生成所述待檢測(cè)電子電氣設(shè)備的三維立體圖并顯示在屏幕上；所述電子裝置響應(yīng)于用戶根據(jù)所述三維立體圖輸入的檢測(cè)指令，并將所述檢測(cè)指令發(fā)送給所述溫升記錄儀，所述檢測(cè)指令用于確定所述待檢測(cè)電子電氣設(shè)備的多個(gè)檢測(cè)點(diǎn)；所述電子裝置接收所述溫升記錄儀發(fā)送的根據(jù)所述檢測(cè)指令獲取的溫度數(shù)據(jù)和空間數(shù)據(jù)，并對(duì)所述環(huán)境溫度數(shù)據(jù)、所述溫度數(shù)據(jù)和所述空間數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，獲得各個(gè)所述檢測(cè)點(diǎn)的溫升數(shù)據(jù)。

從上述實(shí)施例可知，通過透視掃描裝置掃描獲取待檢測(cè)電子電氣設(shè)備的輪廓數(shù)據(jù)，并在電子裝置上形成三維立體圖像，則用戶可全方位了解待檢測(cè)電子電氣設(shè)備的構(gòu)造，進(jìn)而直接通過電子裝置確定檢測(cè)點(diǎn)并發(fā)送檢測(cè)指令給溫升記錄儀，而無(wú)需因漏粘重要的點(diǎn)位而重新粘貼熱電偶，極大的節(jié)省了采集溫升數(shù)據(jù)的時(shí)間。溫升記錄儀通過環(huán)境溫度感應(yīng)裝置獲得周圍環(huán)境的環(huán)境溫度，并在接收檢測(cè)指令后，通過紅外線熱感應(yīng)裝置獲取溫度數(shù)據(jù)和空間數(shù)據(jù)，通過電子裝置進(jìn)行處理即可獲得溫升數(shù)據(jù)，因此無(wú)需通過將熱電偶粘貼在待檢測(cè)區(qū)域的方式獲取溫升數(shù)據(jù)，更極大的節(jié)省了采集溫升數(shù)據(jù)的時(shí)間。

附圖說(shuō)明

圖1是本發(fā)明提供的第一實(shí)施例中的溫升記錄儀的第一結(jié)構(gòu)示意圖；