[發明專利]一種信號累加方式切換電路、觸摸屏檢測電路

有效

• 申請號: 201810087906.X
• 申請日: 2018-01-29
• 公開（公告）號: CN108255348B
• 公開（公告）日: 2021-09-14
• 發明（設計）人: 郭子強;林琳;孫劍;唐貞;雷雨;王亞坤;陳鵬名;秦瑞峰;趙斌;陳麗莉;張浩;陳東
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;北京京東方光電科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F11/22;G06F11/30
• 代理公司: 北京中博世達專利商標代理有限公司 11274
• 代理人: 申健

本發明提供一種信號累加方式切換電路、觸摸屏檢測電路，涉及顯示技術領域，可解決因模擬信號累加單元閑置造成的空間和資源浪費。信號累加方式切換電路，包括處理器，還包括溫度檢測控制單元、分別與處理器連接的多個模擬信號累加單元以及與多個模擬信號累加單元分別連接的多個第一開關單元，多個第一開關單元分別與溫度檢測控制單元連接；模擬信號累加單元包括積分電容，第一開關單元與積分電容并聯；模擬信號累加單元，用于根據外部輸入信號生成模擬累加信號；溫度檢測控制單元，用于當處理器的溫度大于或等于設定的基準值時，發出控制第一開關單元斷開的控制信號；當處理器的溫度小于基準值時，發出控制第一開關單元閉合的控制信號。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種信號累加方式切換電路、觸摸屏檢測電路。

背景技術

隨著觸摸屏技術的不斷完善，觸摸屏驗證平臺處理器的算法的復雜度和規模不斷增大，運算量越來越大。而處理器的承受壓力較大，會導致高速運行條件下自身溫度持續升高，當自身溫度持續升高到某一臨界溫度點時電流會激增，溫度再次急速上升。此時，處理器工作異常，不僅會造成自身不可恢復性損傷，還會造成電流浪涌，從而影響觸摸屏驗證平臺的正常測試。

現有技術中的觸摸屏驗證平臺在信號累加方面采用基于處理器溫度的變化，控制數字信號累加單元和模擬信號累加單元的開關，從而使得模擬信號累加單元(模擬積分器)和數字信號累加單元切換工作，來降低處理器的工作量。

然而，這樣一來，當數字信號累加單元工作時，模擬信號累加單元處于閑置狀態，造成空間和資源浪費。

發明內容

本發明的實施例提供一種信號累加方式切換電路、觸摸屏檢測電路，可解決因模擬信號累加單元閑置造成的空間和資源浪費。

為達到上述目的，本發明的實施例采用如下技術方案：

第一方面，提供一種信號累加方式切換電路，包括處理器，還包括溫度檢測控制單元、分別與所述處理器連接的多個模擬信號累加單元以及與多個所述模擬信號累加單元分別連接的多個第一開關單元，多個所述第一開關單元分別與所述溫度檢測控制單元連接；所述模擬信號累加單元包括積分電容，所述第一開關單元與所述積分電容并聯；所述模擬信號累加單元，用于根據外部輸入信號生成模擬累加信號，并將所述模擬累加信號提供給所述處理器；所述溫度檢測控制單元，用于檢測所述處理器的溫度，當所述處理器的溫度大于或等于設定的基準值時，發出控制所述第一開關單元斷開的控制信號；當所述處理器的溫度小于所述基準值時，發出控制所述第一開關單元閉合的控制信號。

可選的，所述信號累加方式切換電路還包括與所述第一開關單元串聯的電阻單元和與所述積分電容串聯的第二開關單元；所述第二開關單元與所述溫度檢測控制單元連接；其中，在同一時刻，所述第一開關單元和所述第二開關單元中一個為閉合狀態，另一個為斷開狀態。

可選的，所述處理器包括數字信號累加單元；所述數字信號累加單元，用于根據所述外部輸入信號生成數字累加信號；當所述第一開關單元斷開時，由所述模擬信號累加單元向所述處理器提供模擬累加信號；當所述第一開關單元閉合時，由所述數字信號累加單元向所述處理器提供數字累加信號。

可選的，所述處理器還包括控制信號輸出單元；多個所述第一開關單元還分別與所述控制信號輸出單元連接，所述第一開關單元的閉合與斷開由所述溫度檢測控制單元和所述控制信號輸出單元共同控制；其中，所述信號累加方式切換電路還包括第二開關單元時，多個所述第二開關單元還分別與所述控制信號輸出單元連接，所述第二開關單元的閉合與斷開由所述溫度檢測控制單元和所述控制信號輸出單元共同控制。

可選的，所述第一開關單元還與所述處理器連接，用于向所述處理器反饋所述第一開關單元處于閉合或斷開狀態。