[發明專利]芯片單粒子輻照測試方法、裝置、系統及數據庫建立方法

在審

• 申請號: 201810086328.8
• 申請日: 2018-01-30
• 公開（公告）號: CN108318803A
• 公開（公告）日: 2018-07-24
• 發明（設計）人: 祝名;谷瀚天;張偉;蔣晉東;朱恒靜
• 申請（專利權）人: 中國空間技術研究院
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 范曉毅

本發明公開了一種芯片單粒子輻照測試方法、裝置、系統及數據庫建立方法，屬于輻照測試技術領域。所述單粒子輻照測試方法，包括：獲取測試指令，并根據所述測試指令中包含的測試向量壓縮文件標識，從測試向量壓縮文件數據庫中提取對應的測試向量壓縮文件；對提取的所述測試向量壓縮文件進行解壓縮，確定測試向量和測試向量對應的輸出標準值；根據確定的所述測試向量，以驅動待測芯片，使所述待測芯片輸出測試向量對應的實際輸出值；將所述測試向量對應的輸出標準值與實際輸出值進行比較，作為待測芯片的單粒子輻照測試結果。該方法能夠覆蓋所有芯片的輻照試驗測試，通用性高。

技術領域

本發明屬于輻照測試技術領域，特別是涉及一種芯片單粒子輻照測試方法、裝置及系統。

背景技術

來自外空間的宇宙射線的輻照會嚴重影響在外空間運行的各類航天器的電子器件，進而威脅航天器的在軌運行安全。因為輻射導致的單粒子翻轉等效應，使得航天器上存儲器的內容可能出現小概率錯誤，這種錯誤會影響系統的運行。一旦系統運行崩潰，各方面帶來的損失無從估量。為了模擬外空間的環境，在地面上用加速器產生的重離子流轟擊待測芯片，形成單粒子翻轉等效應進行相關的測試評估與分析。

在商業芯片的測試中，存在大量的各類型號的自動測試機臺，但在輻照測試中不可能將其搬進實驗室。目前的輻照實驗系統一般通過線纜連接試驗室與監控室，完成對待測芯片控制工作。但是線纜太多既不安全也不易維護，且容易損壞，為問題的定位帶來難度。

待測芯片千千萬，不同芯片的屬性功能各不相同，如果測試系統在測試一款新芯片時仍舊需要大量的人力開發投入，那系統的可重用性必將大打折扣，既降低了可靠性，又造成了開發浪費。

現有技術中專利號為201310724722.7公開了一種SRAM型FPGA單粒子輻照試驗測試系統及方法，專利號為201410706041.2公開了一種基于JTAG接口的單粒子輻照試驗測試系統及方法，其中都包含有測試FPGA陣列，但上述測試系統不能測試功能芯片，復雜功能芯片會涉及到軟件開發功能設置及各種協議拓撲結構等等，而FPGA只需要配置碼流，由于測試對象是各色各樣的芯片，小到74系列邏輯芯片，大到8位或32位微控制器芯片，或者是處理器芯片，當需要測試不同的功能芯片時，現有技術不能兼并測試，只能針對特定的芯片進行測試，即一種單粒子輻照試驗測試系統只能檢測一種芯片，其通用性差。

發明內容

本發明的目的在于提供一種通用化的芯片單粒子輻照測試方法、裝置及系統，能夠覆蓋所有芯片的輻照試驗測試，通用性高。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種芯片單粒子輻照測試方法，在測試控制端執行，包括：

獲取測試指令，并根據所述測試指令中包含的測試向量壓縮文件標識，從測試向量壓縮文件數據庫中提取對應的測試向量壓縮文件；

對提取的所述測試向量壓縮文件進行解壓縮，確定測試向量和測試向量對應的輸出標準值；

根據確定的所述測試向量，以驅動待測芯片，使所述待測芯片輸出測試向量對應的實際輸出值；

將所述測試向量對應的輸出標準值與實際輸出值進行比較，確定待測芯片的單粒子輻照測試結果。

在一可選實施例中，所述測試指令中包含至少兩組測試向量壓縮文件標識；

所述從測試向量壓縮文件數據庫中提取對應的測試向量壓縮文件，包括：分別從測試向量壓縮文件數據庫中提取所述至少兩組測試向量壓縮文件標識對應的至少兩組測試向量壓縮文件；

所述對提取的所述測試向量壓縮文件進行解壓縮，包括：對提取的至少兩組所述測試向量壓縮文件分別進行解壓縮。

在一可選實施例中，所述測試向量壓縮文件標識包括讀數據的首地址和末尾地址。