[發(fā)明專利]一種集成電路測(cè)試多工位定位裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810086306.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110095705A | 公開(公告)日: | 2019-08-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 謝銀泉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 謝銀泉 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 362100 福建省*** | 國省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 機(jī)臺(tái) 測(cè)試頭 定位架 檢測(cè) 多工位定位裝置 集成電路測(cè)試 推動(dòng)裝置 傳輸架 固定座 檢查門 顯示屏 紅外線感應(yīng) 集成電路片 定位裝置 二次檢測(cè) 工作效率 檢測(cè)信號(hào) 啟動(dòng)電機(jī) 人工手動(dòng) 移動(dòng)滾輪 轉(zhuǎn)動(dòng)變化 電連接 伸縮架 腳杯 推送 卡住 篩選 傳輸 合并 運(yùn)轉(zhuǎn) 節(jié)約 電腦 | ||
本發(fā)明公開了一種集成電路測(cè)試多工位定位裝置,其結(jié)構(gòu)包括機(jī)臺(tái)、檢測(cè)箱體、測(cè)試頭、顯示屏、固定座、定位裝置、傳輸架、檢查門、腳杯、移動(dòng)滾輪,機(jī)臺(tái)為長方體前端設(shè)有檢查門,檢測(cè)箱體固定連接于機(jī)臺(tái)頂部并設(shè)于測(cè)試頭后端,測(cè)試頭固定于傳輸架后側(cè)并與檢測(cè)箱體電連接,顯示屏設(shè)于固定座上方。本發(fā)明可通過紅外線感應(yīng)啟動(dòng)電機(jī),通過推動(dòng)裝置將集成電路片推進(jìn)定位架上卡住,通過伸縮架與定位架合并進(jìn)行檢測(cè),并將檢測(cè)信號(hào)傳輸給電腦,對(duì)不合格物品進(jìn)行篩選且運(yùn)轉(zhuǎn)到一定程度,定位架發(fā)生轉(zhuǎn)動(dòng)變化可進(jìn)行二次檢測(cè),當(dāng)檢測(cè)完后推動(dòng)裝置可向外推送,無需人工手動(dòng)操作,提高了工作效率和節(jié)約成本,方便使用。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是一種集成電路測(cè)試多工位定位裝置,屬于集成電路測(cè)試多工位定位裝置領(lǐng)域。
背景技術(shù)
集成電路是一種微型電子器件或部件。采用一定的工藝,把一個(gè)電路中所需的晶體管、電阻、電容和電感等元件及布線互連一起,制作在一小塊或幾小塊半導(dǎo)體晶片或介質(zhì)基片上,然后封裝在一個(gè)管殼內(nèi),成為具有所需電路功能的微型結(jié)構(gòu);其中所有元件在結(jié)構(gòu)上已組成一個(gè)整體,使電子元件向著微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面邁進(jìn)了一大步。它在電路中用字母IC表示是20世紀(jì)50年代后期一60年代發(fā)展起來的一種新型半導(dǎo)體器件。它是經(jīng)過氧化、光刻、擴(kuò)散、外延、蒸鋁等半導(dǎo)體制造工藝,把構(gòu)成具有一定功能的電路所需的半導(dǎo)體、電阻、電容等元件及它們之間的連接導(dǎo)線全部集成在一小塊硅片上,然后焊接封裝在一個(gè)管殼內(nèi)的電子器件。其封裝外殼有圓殼式、扁平式或雙列直插式等多種形式。集成電路技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計(jì)技術(shù),主要體現(xiàn)在加工設(shè)備,加工工藝,封裝測(cè)試,批量生產(chǎn)及設(shè)計(jì)創(chuàng)新的能力上。
現(xiàn)有的技術(shù)一般集成電路成批生產(chǎn)且需要進(jìn)行多項(xiàng)測(cè)試,工作量很大需要人工手動(dòng)插拔和定位,工序多較繁瑣,降低工作效率。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,本發(fā)明目的是提供一種集成電路測(cè)試多工位定位裝置,以解決一般集成電路成批生產(chǎn)且需要進(jìn)行多項(xiàng)測(cè)試,工作量很大需要人工手動(dòng)插拔和定位,工序多較繁瑣,降低工作效率的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明是通過如下的技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):一種集成電路測(cè)試多工位定位裝置,其結(jié)構(gòu)包括機(jī)臺(tái)、檢測(cè)箱體、測(cè)試頭、顯示屏、固定座、定位裝置、傳輸架、檢查門、腳杯、移動(dòng)滾輪;
所述機(jī)臺(tái)為長方體前端設(shè)有檢查門,所述檢測(cè)箱體固定連接于機(jī)臺(tái)頂部并設(shè)于測(cè)試頭后端,所述測(cè)試頭固定于傳輸架后側(cè)并與檢測(cè)箱體電連接,所述顯示屏設(shè)于固定座上方,所述固定座與機(jī)臺(tái)固定連接形成一體化結(jié)構(gòu),所述定位裝置固定于傳輸架中部并與測(cè)試頭電連接,所述傳輸架設(shè)于機(jī)臺(tái)上表面并與定位裝置相連接,所述檢查門設(shè)于機(jī)臺(tái)前端并鉸鏈連接,所述腳杯固定于機(jī)臺(tái)底部且與地面相連接,所述移動(dòng)滾輪設(shè)于腳杯內(nèi)側(cè)并固定于機(jī)臺(tái)底部;
所述定位裝置包括動(dòng)力源裝置、升降轉(zhuǎn)動(dòng)裝置、推動(dòng)裝置、傳動(dòng)機(jī)構(gòu)、旋轉(zhuǎn)裝置、中轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)、變向拉動(dòng)裝置,所述動(dòng)力源裝置安裝于定位裝置左上方并與測(cè)試頭感應(yīng)連接,所述升降轉(zhuǎn)動(dòng)裝置設(shè)于變向拉動(dòng)裝置左側(cè)并與動(dòng)力源裝置活動(dòng)連接,所述推動(dòng)裝置設(shè)于動(dòng)力源裝置下部并通過傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與傳輸架推動(dòng)連接,所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)設(shè)于定位裝置底部并與動(dòng)力源裝置皮帶連接,所述旋轉(zhuǎn)裝置設(shè)于中轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)兩端并通過傳動(dòng)機(jī)構(gòu)與升降轉(zhuǎn)動(dòng)裝置活動(dòng)連接,所述中轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)兩側(cè)設(shè)有傳動(dòng)機(jī)構(gòu)并活動(dòng)連接,所述變向拉動(dòng)裝置通過推動(dòng)裝置連接于升降轉(zhuǎn)動(dòng)裝置并拉動(dòng)連接。
進(jìn)一步地,所述動(dòng)力源裝置包括反向電機(jī)、電機(jī)連接架、電機(jī)轉(zhuǎn)軸、第一錐齒、傳動(dòng)齒輪、第一皮帶輪、第二固定架、第二皮帶輪、傳動(dòng)皮帶,所述反向電機(jī)安裝于定位裝置左上端并與測(cè)試頭信號(hào)連接,所述電機(jī)連接架焊接于定位裝置頂端并與反向電機(jī)固定連接,所述電機(jī)轉(zhuǎn)軸與反向電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)連接并設(shè)于右側(cè),所述第一錐齒焊接于電機(jī)轉(zhuǎn)軸右端并與傳動(dòng)齒輪齒輪連接,所述傳動(dòng)齒輪通過軸固定于定位裝置內(nèi)壁上并通過傳動(dòng)齒輪與第一皮帶輪同步轉(zhuǎn)動(dòng),所述第一皮帶輪裝設(shè)于傳動(dòng)齒輪外側(cè)并與傳動(dòng)齒輪同步轉(zhuǎn)動(dòng),所述第二固定架左側(cè)焊接于定位裝置內(nèi)壁上,所述第二皮帶輪固定于第二固定架中部并與傳動(dòng)皮帶活動(dòng)連接,所述傳動(dòng)皮帶連接第一皮帶輪、第二皮帶輪與傳動(dòng)機(jī)構(gòu)并皮帶連接。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于謝銀泉,未經(jīng)謝銀泉許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810086306.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:檢測(cè)陣列基板中電路缺陷的裝置及方法
- 下一篇:一種DECAP箱
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





