[發明專利]待檢測基板、檢測玻璃破損的方法和設備

有效

• 申請號: 201810085375.0
• 申請日: 2018-01-29
• 公開（公告）號: CN108226228B
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發明（設計）人: 阮士薪;馮慧;范曉旺;賈丹;王武
• 申請（專利權）人: 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00;G01N27/20;C03C17/22;C03C17/245
• 代理公司: 北京律智知識產權代理有限公司 11438
• 代理人: 王衛忠;袁禮君

本公開提供一種待檢測基板、檢測玻璃破損的方法和設備，屬于顯示技術領域。該待檢測基板包括：玻璃基板以及在玻璃基板的邊緣形成的一層導電膜層。本公開通過首先在玻璃基板的邊緣形成一層導電膜層，然后向其中的一邊緣輸入預設電流，對邊緣進行電流檢測反應電阻變化情況，來判斷玻璃基板邊緣的完整性以及周邊裂痕情況，這種檢測方式能夠及時發現玻璃基板的破損情況，減少由于基板破損、裂痕造成的工藝不良，進一步減少對后續工藝造成的時間以及物質的浪費。

技術領域

本公開涉及顯示技術領域，具體而言，涉及一種待檢測基板、檢測玻璃破損的方法和設備。

背景技術

目前薄玻璃是顯示行業的一新的發展趨勢，但是在制備工藝過程中，由于玻璃厚度太薄，導致其破片的風險也較高。

在現在技術中，只能通過設備基臺真空吸附異常報警檢測出玻璃破片，或是人為肉眼發現玻璃破片。不論是在傳送過程中還是設備工藝過程中，玻璃破片都存在很大風險，不僅僅是因破片本身導致成本的損失，而且還可能因破片對設備造成一定的損傷，如劃傷基臺或劃傷對位針(即對位Pin)。

因此，現有技術中的技術方案對于及時地檢測出玻璃是否有破損，還存在有待改進之處。

需要說明的是，在上述背景技術部分公開的信息僅用于加強對本公開的背景的理解，因此可以包括不構成對本領域普通技術人員已知的現有技術的信息。

發明內容

本公開的目的在于提供一種待檢測基板、檢測玻璃破損的方法和設備，進而至少在一定程度上克服由于相關技術未能及時地檢測出玻璃是否有破損的問題。

本公開的其他特性和優點將通過下面的詳細描述變得清晰，或者部分地通過本公開的實踐而習得。

根據本公開的第一方面，提供一種待檢測基板，包括：

玻璃基板；以及

在玻璃基板的邊緣形成的一層導電膜層。

在本公開的一種示例性實施例中，所述導電膜層為氧化銦錫。

在本公開的一種示例性實施例中，所述導電膜層的寬度為10mm。

根據本公開的第二方面，還提供一種檢測玻璃破損的設備，包括：

設備基臺，用于承載待檢測基板，其中所述待檢測基板以上所述的待檢測基板；

多個對位針，安裝在所述設備基臺的周邊，用于對所述待檢測基板進行對位；以及

多個導電接觸點，安裝在所述對位針的頂部，用于向所述待檢測基板的邊緣輸入電流或檢測電流。

在本公開的一種示例性實施例中，還包括：

活動連接部，用于連接在所述導電接觸點與所述對位針之間，當對所述待檢測基板進行檢測時，所述活動連接部為下壓狀態，所述導電接觸點與所述導電膜層電性接觸；當所述待檢測基板檢測完成時，所述活動連接部為升高狀態，所述導電接觸點與所述導電膜層不接觸。

在本公開的一種示例性實施例中，所述多個導電接觸點分布在所述待檢測基板的四個邊緣，且處于所述待檢測基板的第一邊緣處的導電接觸點輸入預設電流，處于所述待檢測基板的第三邊緣處的導電接觸點接地，處于所述待檢測基板的第二邊緣和第四邊緣處的導電接觸點耦接電流表。

根據本公開的第三方面，還提供一種檢測玻璃破損的方法，包括：

于玻璃基板的邊緣形成一層導電膜層，得到待檢測基板；

在所述待檢測基板的第一邊緣輸入預設電流以及在所述第一邊緣相對的第三邊緣接地；