[發明專利]渦流探傷方法以及渦流探傷裝置

在審

• 申請號: 201810084866.3
• 申請日: 2018-01-29
• 公開（公告）號: CN108508081A
• 公開（公告）日: 2018-09-07
• 發明（設計）人: 角川滋;西水亮;鈴木豐
• 申請（專利權）人: 三菱日立電力系統株式會社
• 主分類號: G01N27/90
• 分類號: G01N27/90
• 代理公司: 北京銀龍知識產權代理有限公司 11243
• 代理人: 范勝杰;王立杰

提供能分離并判別傷信號和提離信號的渦流探傷方法及渦流探傷裝置。具有：提離信號測量工序，對具備線圈的渦流探傷探針施以提離并測量對比試驗體中的提離信號；相位記錄工序，記錄根據對比試驗體中的提離信號得到的利薩茹圖形的相位；渦流探傷信號測量工序，使用渦流探傷探針測量被檢查體中的渦流探傷信號；判斷工序，在渦流探傷信號測量工序中渦流探傷探針在全部線圈檢測渦流探傷信號，且在全部線圈中根據在渦流探傷信號測量工序檢測到的渦流探傷信號得到的利薩茹圖形的相位與相位記錄工序記錄的相位一致的情況下,判斷渦流探傷信號測量工序中檢測到的渦流探傷信號為提離信號。

技術領域

本發明涉及渦流探傷方法和渦流探傷裝置。

背景技術

渦流探傷是使渦流探傷探針(以下也簡稱為“探針”)與導電性被檢查體密合并進行掃描，通過探針的線圈所產生的交流磁場使被檢查體產生渦流，根據起因于損傷所致的渦流紊亂的線圈的阻抗變化來評價被檢查體有無損傷的方法。在通過渦流探傷檢查被檢查體的狹窄部的情況下，探針很難穩定地進行掃描，產生提離，即探針離開被檢查體表面(檢查面)，發生依賴于探針與被檢查體的距離(提離量)的提離信號。提離信號屬于干擾，因此為了高精度測量損傷所致的渦流探傷信號(傷信號)，需要抑制提離，從測量到的信號中識別提離信號。

專利文獻1中公開了即使在使用柔性探針檢測曲面的情況下，也能高精度評價提離量的渦流探傷方法。專利文獻1中記載的渦流探傷方法中，比較在檢查面設置渦流探針之前的信號最大值V0與設置時間點的信號值V1的大小關系，并基于該大小關系，使用使渦流探針與檢查面密合時產生的檢測信號值、提離的特性、信號值V0、信號值V1的任一個，根據提離特性求出提離值。

在進行渦流探傷時，如果產生渦流探傷探針離開被檢查體表面的提離，則檢測到作為干擾的提離信號，應該檢測的傷信號有時被誤認或不能檢測。即使想抑制提離，其也常常產生，因此期待分離并判別傷信號與提離信號的方法。在專利文獻1記載的方法那樣的現有技術中，通過比較信號的大小關系來求出提離值。但是，提離信號的相位根據提離模式(探針從檢查面離開的方式)而不同，因此不考慮信號的相位而僅僅比較大小關系，則存在難以準確分離并判別傷信號和提離信號的課題。

專利文獻1：日本特開2012-141238號公報

發明內容

本發明的目的在于提供能分離并判別傷信號和提離信號的渦流探傷方法以及渦流探傷裝置。

本發明提供的渦流探傷方法中，以由于提離而產生的渦流探傷信號為提離信號，該渦流探傷方法具有：提離信號測量工序，使用具備一個或者多個線圈的渦流探傷探針，對所述渦流探傷探針施以提離，對模擬被檢查體的對比試驗體實施渦流探傷，測量所述對比試驗體中的提離信號；相位記錄工序，記錄根據所述對比試驗體中的提離信號得到的利薩茹圖形的相位；渦流探傷信號測量工序，使用所述渦流探傷探針對所述被檢查體實施渦流探傷，測量所述被檢查體中的渦流探傷信號；以及判斷工序，在所述渦流探傷信號測量工序中，所述渦流探傷探針在全部的所述線圈中檢測所述渦流探傷信號，并且在全部的所述線圈中，根據所述渦流探傷信號測量工序中檢測到的所述渦流探傷信號得到的利薩茹圖形的相位與所述相位記錄工序中記錄的所述相位一致的情況下，判斷所述渦流探傷信號測量工序中檢測到的所述渦流探傷信號為提離信號。

根據本發明，能夠提供可分離并判別傷信號和提離信號的渦流探傷方法以及渦流探傷裝置。

附圖說明

圖1是本發明實施例1提供的采用渦流探傷方法分離并判別傷信號和提離信號的方法的流程圖。

圖2是對被檢查體進行探傷的渦流探傷探針的示例圖。

圖3是表示渦流探傷探針可能產生的提離的模式的圖。

圖4A是通過渦流探傷對被檢查體進行檢查時根據探針檢測到的傷信號得到的利薩茹圖形的示例圖。