[發明專利]金屬碎屑檢測裝置及金屬掩膜版搬送裝置有效
| 申請號: | 201810083169.6 | 申請日: | 2018-01-29 |
| 公開(公告)號: | CN108335989B | 公開(公告)日: | 2021-01-22 |
| 發明(設計)人: | 王磊;劉文祺;孫中元 | 申請(專利權)人: | 京東方科技集團股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L21/677;H01L51/50;C23C14/24 |
| 代理公司: | 北京博思佳知識產權代理有限公司 11415 | 代理人: | 林祥 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 金屬 碎屑 檢測 裝置 掩膜版搬送 | ||
1.一種金屬掩膜版搬送裝置,用于搬送具有金屬掩膜版框(6)和金屬掩膜版圖形區域(7)的金屬掩膜版,包括:掩膜版托架(4)、設置于掩膜版托架(4)的凹槽(5),掩膜版托架(4)用于支撐金屬掩膜版框(6),其特征在于,還包括金屬碎屑檢測裝置,所述金屬碎屑檢測裝置設置于所述凹槽(5)內,所述金屬掩膜版圖形區域(7)與設置在所述凹槽(5)內的所述金屬碎屑檢測裝置之間具有空隙;
所述金屬碎屑檢測裝置包括:用以檢測金屬掩膜版所脫落的金屬碎屑的電路板,其中電路板包括基板(8)以及設置在基板(8)上的若干金屬引線(9);所述檢測裝置還包括用于連接所述金屬引線(9)的信號控制器(10)以及與信號控制器(10)電性連接的連接插頭,所述連接插頭用于輸出信號控制器(10)的反饋信號以及用于向所述信號控制器(10)輸入電壓以向所述金屬引線(9)輸入電壓。
2.根據權利要求1所述的金屬掩膜版搬送裝置,其特征在于,所述電路板為柔性電路板,所述基板(8)為柔性基板。
3.根據權利要求1所述的金屬掩膜版搬送裝置,其特征在于,所述金屬引線(9)包括第一組引線(91)和第二組引線(92),信號控制器(10)包括第一信號控制器(101)和第二信號控制器(102)。
4.根據權利要求3所述的金屬掩膜版搬送裝置,其特征在于,向所述第一組引線(91)輸入正向電壓,向所述第二組引線(92)輸入反向電壓;或向所述第一組引線(91)輸入反向電壓,向所述第二組引線(92)輸入正向電壓。
5.根據權利要求1所述的金屬掩膜版搬送裝置,其特征在于,所述金屬引線(9)包括第三組引線(93),信號控制器(10)包括第三信號控制器(103);所述第三組引線(93)輸入交變電壓。
6.根據權利要求5所述的金屬掩膜版搬送裝置,其特征在于,所述第三組引線(93)中相鄰的引線輸入不同方向的電壓。
7.根據權利要求1所述的金屬掩膜版搬送裝置,其特征在于,所述若干金屬引線之間的間距的范圍為2um-10um;或每根引線的寬度范圍為2-3um。
8.根據權利要求1至7中任一項所述的金屬掩膜版搬送裝置,其特征在于,所述電路板設置在凹槽(5)的底部;所述信號控制器(10)設置在所述凹槽(5)的端部。
9.根據權利要求1至7中任一項所述的金屬掩膜版搬送裝置,其特征在于,所述金屬掩膜版搬送裝置還包括機械手臂(2)以及升降底座(1),所述機械手臂(2)分別與掩膜版托架(4)和升降底座(1)連接。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





