[發明專利]磁盤裝置及寫入方法有效
| 申請號: | 201810081687.4 | 申請日: | 2018-01-29 |
| 公開(公告)號: | CN109427354B | 公開(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發明(設計)人: | 大久保智和 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社 |
| 主分類號: | G11B5/596 | 分類號: | G11B5/596;G11B20/10 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務所 11247 | 代理人: | 萬利軍;段承恩 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁盤 裝置 寫入 方法 | ||
本發明提供能夠提高數據寫入的可靠性的磁盤裝置及寫入方法。實施方式的磁盤裝置具備:盤;頭,其基于寫入電流向所述盤寫入數據;以及控制器,其在向所述盤寫入了數據時,基于與所述寫入電流的變化對應的所述頭的發熱量的變化,判定是否發生有寫入錯誤,在判定為發生有所述寫入錯誤的情況下,對寫入到所述盤的數據進行讀取。
本申請享有以日本專利申請2017-160434號(申請日:2017年8月23 日)為在先申請的優先權。本申請通過參照該在先申請而包括在先申請的全部的內容。
技術領域
本發明的實施方式涉及磁盤裝置及寫入方法。
背景技術
磁盤裝置基于寫入數據的數據模式生成寫入電流,基于所生成的寫入電流向盤寫入數據。在生成寫入電流的情況下,磁盤裝置有時會無法檢測寫入數據的數據模式的一部分。在該情況下,磁盤裝置基于一部分消失了的寫入數據的數據模式生成寫入電流。因此,在基于該寫入電流寫入了的數據中會產生數據改變(數據混亂)。磁盤裝置讀取所寫入的數據并執行寫入校驗,由此能夠檢測數據改變了的數據。但是,在每次向盤寫入數據時執行寫入校驗,由此,磁盤裝置的寫入性能會降低。
發明內容
本發明的實施方式提供能夠提高數據的可靠性的磁盤裝置及寫入方法。
本實施方式的磁盤裝置具備:盤;頭,其基于寫入電流向所述盤寫入數據;以及控制器,其在向所述盤寫入了數據時,基于與所述寫入電流的變化對應的所述頭的發熱量的變化,判定是否發生有寫入錯誤,在判定為發生有所述寫入錯誤的情況下,對寫入到所述盤的數據進行讀取。
附圖說明
圖1是示出第1實施方式的磁盤裝置的構成的框圖。
圖2是示出第1實施方式的磁盤裝置的寫入系統的構成例的示意圖。
圖3是示出第1實施方式的寫入處理的一例的流程圖。
圖4是示出變形例1的磁盤裝置的寫入系統的構成例的示意圖。
圖5是示出變形例2的磁盤裝置的寫入系統的構成例的示意圖。
圖6是示出第2實施方式的磁盤裝置的寫入系統的構成例的示意圖。
圖7中的(a)是示出向頭放大器IC輸入了的時鐘信號的數據模式的一例的圖,圖7中的(b)是示出向頭放大器IC輸入了的寫入數據的數據模式的一例的圖,圖7中的(c)是示出由頭放大器IC生成了的寫入電流的數據模式的一例的圖。
圖8A是示出通常的寫入電流的波形的一例的圖。
圖8B是示出發生了數據改變的情況下的寫入電流的波形的一例的圖。
圖8C是示出發生了數據改變的情況下的寫入電流的波形的一例的圖。
圖9是示出寫入線圈的發熱量的變化的一例的圖。
圖10是示出第2實施方式的寫入處理的一例的流程圖。
具體實施方式
以下,參照附圖對實施方式進行說明。此外,附圖僅是一例,不限定發明的范圍。
(第1實施方式)
圖1是示出第1實施方式的磁盤裝置1的構成的框圖。
磁盤裝置1具備:后述的頭盤組件(HDA)、驅動器IC20、頭放大器 (headamplifier)集成電路(以下,稱為頭放大器IC或前置放大器(preamplifier))60、易失性存儲器70、緩沖存儲器(緩沖器)80、非易失性存儲器90、作為單芯片的集成電路的系統控制器130。另外,磁盤裝置1與主機系統(主機)100連接。
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