[發明專利]非易失存儲設備的掉電時間估計方法和裝置

有效

• 申請號: 201810081525.0
• 申請日: 2018-01-26
• 公開（公告）號: CN110083496B
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 夏天;玄在雄;江冬
• 申請（專利權）人: 華為技術有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 賀琳

本發明實施例公開了一種非易失存儲設備的掉電時間估計方法和裝置，所述方法應用于非易失存儲設備中，該方法包括：獲取并記錄參考數據在非易失存儲設備的掉電時刻的第一最優讀電壓，參考數據為根據預配置的選取規則所確定的非易失存儲設備的至少一個邏輯塊地址扇區Sector中的數據；在非易失存儲設備的所述掉電時刻之后的上電時刻，根據第一最優讀電壓讀取參考數據，得到參考數據的出錯數；若所述出錯數不大于設定門限值，則確定所述非易失存儲設備的掉電時長為第一設定時長。通過本發明實施例，能夠根據參考數據在上電時的讀取的出錯時，識別出非易失存儲設備在發生掉電至再次上電恢復期間，發生的是否為短時掉電，提高短時掉電時的響應效率。

技術領域

本發明涉及數據處理技術領域，具體涉及一種非易失存儲設備的掉電時間估計方法和裝置。

背景技術

固態硬盤(Solid State Disk，SSD)的數據保持(Retention)時間是指數據在閃存(Flash)中的保存時間，即從數據存入到數據擦除的時間。一般來說，隨著Retention時間的增加，數據的出錯比特數會變多。這時就需要依賴SSD內部的數據巡檢機制來保證數據的準確性，數據巡檢通過對Flash中Retention時間大于設定門限值的數據進行搬移，為數據可靠性提供保障。

SSD在系統設計時都會考慮掉電保護機制，以保護系統在異常斷電后數據沒有異常丟失，提供系統的可靠性。SSD的掉電保護和相應的上電恢復，是產品競爭力的差異特性之一。但SSD在掉電期間，沒有機制來記錄掉電時間。SSD恢復上電后，系統中記錄的數據Retention時間不再準確，數據巡檢不能有效識別并搬移Retention時間大于設定門限值的數據，導致數據可靠性存在風險。因此，需要對SSD的掉電時間進行估計。目前對于掉電時間的估計方案，主要有以下幾種：

一種是通過靜態配置掉電時間T。但該方案由于T只對應一種掉電時間，實際場景下掉電時間可能為任意值，靜態配置不能準確反映真實掉電時間。一種是利用主機(Host)時間估計掉電時間。但由于Host時間存在不確定性，如果Host時間在SSD掉電期間被改過，估計出的掉電時長就不能準確反映掉電的時長，甚至會出現負值。

可見，現有的掉電時間估計方案都不能夠準確的估計出SSD掉電器件的物理時間，所以不能提供準確的掉電等效時間。

發明內容

本申請提供了一種非易失存儲設備的掉電時間估計方法和裝置，能夠根據非易失存儲設備中數據的出錯數確定出非易失存儲設備的掉電時間為短時掉電即掉電時長為第一設定時長。

結合第一方面，本申請提供了一種非易失存儲設備的掉電時間估計方法，所述方法應用于非易失存儲設備中，所述方法包括：獲取并記錄參考數據在所述非易失存儲設備的掉電時刻的第一最優讀電壓，其中，所述參考數據為根據預配置的選取規則所確定的所述非易失存儲設備的至少一個邏輯塊地址扇區(Sector)中的數據；在所述非易失存儲設備的所述掉電時刻之后的上電時刻，根據所述第一最優讀電壓讀取所述參考數據，得到所述參考數據的出錯數；若所述出錯數不大于設定門限值，則確定所述非易失存儲設備的掉電時長為第一設定時長。

本申請中，根據非易失存儲設備掉電時刻的最優讀電壓，讀取在掉電時刻之后的上電時刻的設備中的參考數據，得到參考數據的出錯數，基于該出錯數與預配置的出錯門限值(設定門限值)，能夠確定出非易失存儲設備是否發生了短時掉電。在確定設備發生的是短時掉電時，能夠通過第一設定時長的合理配置，使非易失存儲設備完成上電恢復后，無需要進行數據巡檢，提高了非易失存儲設備的響應效率。

結合第一方面，在一種可能的實施方式中，若所述出錯數大于所述設定門限值，在所述非易失存儲設備的所述掉電時刻之后的上電時刻，所述方法還包括：獲取所述參考數據在所述上電時刻的第二最優讀電壓；根據所述第一最優讀電壓和所述第二最優讀電壓計算所述參考數據的最優讀電壓偏移；根據所述最優讀電壓偏移確定所述非易失存儲設備的掉電時長。