[發(fā)明專(zhuān)利]一種便攜式折射率測(cè)量裝置和折射率測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810076814.1 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108333146B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊臻垚;曹俊杰;卞殷旭 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 紹興柯橋睿宇光電科技有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/45 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/45 |
| 代理公司: | 杭州君度專(zhuān)利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33240 | 代理人: | 解明鎧;劉靜靜 |
| 地址: | 312066 浙江省紹興*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 便攜式 折射率 測(cè)量 裝置 測(cè)量方法 | ||
本發(fā)明公開(kāi)了一種便攜式折射率測(cè)量裝置和折射率測(cè)量方法,其中便攜式折射率測(cè)量裝置,包括沿光路依次布置的光源、樣品池以及圖像傳感器,在光源與樣品池之間還設(shè)有標(biāo)定板,該標(biāo)定板帶有標(biāo)定圖案;所述圖像傳感器用于在樣品池放置待測(cè)樣品前后,分別獲取標(biāo)定圖案的圖像數(shù)據(jù),以計(jì)算待測(cè)樣品的折射率。本發(fā)明便攜式折射率測(cè)量裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、便于攜帶且成本相對(duì)較低,可測(cè)量和實(shí)時(shí)監(jiān)控透明固體、液體和氣體的折射率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及折射率測(cè)量?jī)x器技術(shù)領(lǐng)域,具體是涉及一種便攜式折射率測(cè)量裝置和折射率測(cè)量方法。
背景技術(shù)
測(cè)量透明固體、液體及氣體的折射率是生產(chǎn)生活中要求廣泛的一項(xiàng)運(yùn)用技術(shù),測(cè)量折射率有很多種方法,主要有利用折射定律測(cè)量折射率的方法、利用費(fèi)涅爾公式測(cè)量折射率的方法、干涉法測(cè)量折射率以及陰影法四種方法。其中在生產(chǎn)實(shí)驗(yàn)中最常用的是利用折射定律測(cè)量折射率的方法,利用折射定律的方法包括精密測(cè)角儀法、棱鏡折射儀法、阿貝折射儀法和浸液法。這些方法都是基于折射定律:折射角的正弦與入射角的正弦之比等于入射光所在介質(zhì)的折射率與折射光所在介質(zhì)的折射率之比。
利用干涉法測(cè)量折射率從本質(zhì)上來(lái)看是一種絕對(duì)測(cè)量法。它是基于折射率與光程差的關(guān)系,通過(guò)測(cè)量干涉條紋與被測(cè)試件的轉(zhuǎn)角之間的關(guān)系,通過(guò)一定的算法來(lái)獲得被測(cè)試件的折射率,是一種被認(rèn)為很有應(yīng)用前景的方法。干涉法測(cè)折射率法主要采用邁克爾遜干涉儀,在邁克爾遜干涉儀中,通常有兩個(gè)光路,參考光路和測(cè)試光路。
測(cè)量時(shí),將平行平板待測(cè)件插入被測(cè)光路中,轉(zhuǎn)動(dòng)試件,同時(shí)記錄下移動(dòng)的條紋數(shù)和相應(yīng)的試件轉(zhuǎn)動(dòng)角度,再精確測(cè)出試件的厚度,則可得到折射率n。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、被測(cè)件插入系統(tǒng)比較方便,光線兩次通過(guò)被測(cè)件,有利于提高精度,缺點(diǎn)是分光棱鏡表面像易干擾有用的干涉條紋。
以上所有的測(cè)量折射率的方法的裝置都比較復(fù)雜,設(shè)備昂貴,且不利于小型化、便攜化測(cè)量。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、便于攜帶且成本相對(duì)較低的折射率測(cè)量裝置,可測(cè)量和實(shí)時(shí)監(jiān)控透明固體、液體和氣體的折射率。
一種便攜式折射率測(cè)量裝置,包括沿光路依次布置的光源、樣品池以及圖像傳感器,在光源與樣品池之間還設(shè)有標(biāo)定板,該標(biāo)定板帶有標(biāo)定圖案;
所述圖像傳感器用于在樣品池放置待測(cè)樣品前后,分別獲取標(biāo)定圖案的圖像數(shù)據(jù),以計(jì)算待測(cè)樣品的折射率。
所述光源為半導(dǎo)體激光二極管。可發(fā)射穩(wěn)定波長(zhǎng)的光束用以實(shí)施檢測(cè)。
所述標(biāo)定板中,標(biāo)定圖案對(duì)光完全反射,非標(biāo)定圖案的區(qū)域?yàn)橥该鲄^(qū);標(biāo)定圖案的線條寬度2um-30um。
光源照射直至標(biāo)定板后,標(biāo)定圖案處的光被反射,光僅從透明區(qū)穿過(guò)經(jīng)由樣品池進(jìn)入圖像傳感器,因此可以獲得標(biāo)定圖案的圖像數(shù)據(jù)。
本發(fā)明中關(guān)于樣品池的形式?jīng)]有嚴(yán)格要求,既可以是僅為一空間;也可以是安裝有透光的容器,用以盛放待測(cè)樣品。
作為優(yōu)選,還設(shè)有控制模塊,用于接收和處理來(lái)自所述圖像傳感器的圖像數(shù)據(jù),經(jīng)計(jì)算獲得待測(cè)樣品的折射率。
作為優(yōu)選,還設(shè)有圖像顯示模塊,用于接收和顯示來(lái)自所述控制模塊的待測(cè)樣品的折射率。
控制模塊可以采用具有相應(yīng)數(shù)據(jù)處理能力的計(jì)算機(jī)等形式,例如嵌入式控制模塊等。
為了實(shí)現(xiàn)對(duì)圖像數(shù)據(jù)的處理,所述控制模塊包括處理器和存儲(chǔ)器,存儲(chǔ)器中配置有以下指令模塊供處理器調(diào)用運(yùn)行:
第一模塊,用于讀取在樣品池放置待測(cè)樣品前、后,圖像傳感器采集的標(biāo)定圖案的全息圖;
第二模塊,用于根據(jù)樣品池放置待測(cè)樣品前、后所對(duì)應(yīng)的全息圖分別計(jì)算標(biāo)定圖案與圖像傳感器之間的光程;
第三模塊,根據(jù)如下公式計(jì)算待測(cè)樣品的折射率n;
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專(zhuān)用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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