[發(fā)明專利]一種基于二維多次覆蓋超聲反射波檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810076131.6 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-26 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108387640A | 公開(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉伍;胡繞;王水強(qiáng);陸禮訓(xùn);殷習(xí)容;何偉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海巖土工程勘察設(shè)計(jì)研究院有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N29/04 | 分類號(hào): | G01N29/04;G01B17/02 |
| 代理公司: | 上海申蒙商標(biāo)專利代理有限公司 31214 | 代理人: | 黃明凱;徐小蓉 |
| 地址: | 200032*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 檢測(cè) 測(cè)線 傳感器串 二維 超聲波傳感器 超聲波檢測(cè) 超聲反射波 覆蓋 超聲波反射信號(hào) 等間隔分布 反射超聲波 混凝土構(gòu)件 控制傳感器 表面設(shè)置 測(cè)點(diǎn)位置 二維形態(tài) 檢測(cè)對(duì)象 檢測(cè)結(jié)果 連續(xù)檢測(cè) 內(nèi)部缺陷 一發(fā)多收 數(shù)據(jù)處理 沿檢測(cè) 直線型 分辨率 測(cè)點(diǎn) 構(gòu)建 牽引 直觀 采集 移動(dòng) | ||
1.一種基于二維多次覆蓋超聲反射波檢測(cè)方法,其特征在于所述檢測(cè)方法包括以下步驟:構(gòu)建由若干等間隔分布的超聲波傳感器所組成的傳感器串;在檢測(cè)對(duì)象表面設(shè)置直線型的檢測(cè)測(cè)線,并將所述傳感器串布置于所述檢測(cè)測(cè)線的初始測(cè)點(diǎn)位置,控制所述傳感器串中的各所述超聲波傳感器依次進(jìn)行“一發(fā)多收”的超聲波檢測(cè),所述“一發(fā)多收”是指所述傳感器串中的一個(gè)所述超聲波傳感器向所述檢測(cè)對(duì)象內(nèi)部發(fā)射超聲波信號(hào)、剩余排列順序下的所述超聲波傳感器同步接收反射回的超聲波信號(hào);牽引所述傳感器串沿所述檢測(cè)測(cè)線移動(dòng),依次在各個(gè)測(cè)點(diǎn)上按前述方法進(jìn)行超聲波檢測(cè);將采集到的所有超聲波反射信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理獲得所述檢測(cè)測(cè)線覆蓋范圍內(nèi)的二維反射超聲波疊后信號(hào)剖面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于二維多次覆蓋超聲反射波檢測(cè)方法,其特征在于所述傳感器串包括一安裝基座,各所述超聲波傳感器等間距垂直固定于所述安裝基座上并呈直線型分布。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于二維多次覆蓋超聲反射波檢測(cè)方法,其特征在于所述超聲波傳感器為超聲波收發(fā)傳感器。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于二維多次覆蓋超聲反射波檢測(cè)方法,其特征在于所述測(cè)點(diǎn)之間的間距小于所述傳感器串的長(zhǎng)度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種基于二維多次覆蓋超聲反射波檢測(cè)方法,其特征在于使位于相鄰所述測(cè)點(diǎn)處時(shí)的所述傳感器串之間在位置上存在部分交叉重合。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于二維多次覆蓋超聲反射波檢測(cè)方法,其特征在于所述傳感器串中各所述超聲波傳感器在采集控制模塊的控制下保持超聲波信號(hào)發(fā)射與超聲波信號(hào)接收的起始時(shí)刻保持一致。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種基于二維多次覆蓋超聲反射波檢測(cè)方法,其特征在于采用二維多次覆蓋反射波數(shù)據(jù)處理方法將采集到的所有超聲波反射信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理,方法為:將屬于同一個(gè)反射點(diǎn)的所有超聲波反射信號(hào)提取出來組成共反射點(diǎn)超聲波反射信號(hào)組;將所述共反射點(diǎn)超聲波反射信號(hào)組中各超聲波反射信號(hào)因不同發(fā)射角度造成的走時(shí)差進(jìn)行校正;待完成走時(shí)差校正之后,將所述共反射點(diǎn)超聲波反射信號(hào)組中各超聲波反射信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)疊加構(gòu)成一道二維反射超聲波疊后信號(hào);依此法通過數(shù)據(jù)處理獲得與其余各所述反射點(diǎn)相對(duì)應(yīng)的各道二維反射超聲波疊后信號(hào),根據(jù)各所述反射點(diǎn)的空間位置將各道所述二維反射超聲波疊后信號(hào)排列成所述二維反射超聲波疊后信號(hào)剖面。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海巖土工程勘察設(shè)計(jì)研究院有限公司,未經(jīng)上海巖土工程勘察設(shè)計(jì)研究院有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201810076131.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





