[發明專利]用于對被測設備執行微放電測試的測試系統以及用于測試被測設備的方法

有效

• 申請號: 201810072339.0
• 申請日: 2018-01-25
• 公開（公告）號: CN108375703B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 馬哈茂德·納西夫
• 申請（專利權）人: 羅德施瓦茲兩合股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 王小衡;任慶威

描述了一種測試系統，其中，所述測試系統被配置為對被測設備執行微放電測試。所述測試系統包括：信號生成單元，其被配置為刺激所述被測設備的輸入；接收單元，其被配置為接收并測量所述被測設備的至少一個輸出信號，以便獲得與微放電發生相關的數據。所述信號生成單元和所述接收單元被控制使得兩個單元被同時操作。所述信號生成單元被配置為生成用于刺激所述輸入的測試信號，所述測試信號同時包括至少兩個載波。此外，描述了一種用于測試被測設備的方法。

技術領域

本發明涉及一種用于對被測設備執行微放電(multipaction)測試的測試系統以及一種用于測試被測設備的方法。

背景技術

在現有技術中，衛星(特別是其有效載荷)的發射前測試是已知的，其中，多個不同的測試被執行。已經證明，微放電發生是在衛星的發射前測試期間必須被執行的另一測試項，其中，這些測試通常被執行在熱真空室(TVAC)內部。

微放電(微放電效應)是在真空條件下的電子諧振效應，真空條件例如當局部射頻場加速電子使得這些電子與表面碰撞時的空間。如果這些電子的能量足夠高，則它們與表面的碰撞將導致所謂的次級電子的釋放。新釋放的次級電子中的每個都遵循初始電子的相同模式。因此，這可能導致電子的數量的指數級上升，特別是在持續倍增的情況下，因為次級電子發射與交流電場諧振導致電子的指數級倍增。

在射頻空間系統中，微放電效應可以通過增加由次級電子生成的噪聲而導致射頻信號的退化。此外，如果局部射頻功率由于電子的數量上升而增加，則將會發生對空間系統的射頻部件或子系統的損壞。

一般來說，微放電效應是發生在其中高電場強度普遍的器件中的現象，這種器件例如為高功率行波管放大器(TWTA)、高功率波導以及諸如雙工器和濾波器的波導部件。然而，微放電需要為最小，并且針對邊界進行測試。

在熱真空室內部對衛星進行預發射測試期間，電子的數量的指數級上升可能導致操作失敗。另外，這種微放電可能會損壞甚至毀壞衛星和/或測試系統的射頻部件。

因此，需要一種測試方法以及測試系統，其確保在測試期間正常工作而不損壞測試部件或被測設備。

發明內容

本發明提供了一種測試系統，其中，所述測試系統被配置為對被測設備執行微放電測試，所述測試系統包括：

信號生成單元，其被配置為刺激所述被測設備的輸入，

接收單元，其被配置為接收并測量所述被測設備的至少一個輸出信號，以便獲得與微放電發生相關的數據，

所述信號生成單元和所述接收單元被控制，使得兩個單元被同時操作，

所述信號生成單元被配置為生成用于刺激所述輸入的測試信號，所述測試信號同時包括至少兩個載波。

本發明還提供了一種用于測試被測設備的方法，其中，利用以下步驟執行微放電測試：

-生成用于刺激所述被測設備的輸入的測試信號，所述測試信號由信號生成單元生成，

-通過使用接收單元接收并測量所述被測設備的至少一個輸出信號，其中，

所述信號生成單元和所述接收單元被同時操作，所述信號生成單元生成同時包括至少兩個載波的測試信號。