[發(fā)明專(zhuān)利]一種晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝方法以及封裝結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810070263.8 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108346639B | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-04-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉孟彬 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中芯集成電路(寧波)有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L23/498 | 分類(lèi)號(hào): | H01L23/498;H01L25/00;H01L21/60 |
| 代理公司: | 北京市磐華律師事務(wù)所 11336 | 代理人: | 高偉;翟海青 |
| 地址: | 315800 浙江省寧波*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶圓級(jí) 系統(tǒng) 封裝 方法 以及 結(jié)構(gòu) | ||
本發(fā)明提供一種晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝方法以及封裝結(jié)構(gòu),所述封裝結(jié)構(gòu)包括:形成有多個(gè)第一芯片的襯底,所述第一芯片利用半導(dǎo)體工藝生長(zhǎng)而成;內(nèi)嵌有多個(gè)第二芯片的封裝層,所述封裝層覆蓋所述襯底和所述第一芯片;至少其中一個(gè)所述第二芯片與至少其中一個(gè)所述第一芯片電連接,所述第一芯片和所述第二芯片相互錯(cuò)開(kāi),通過(guò)電連接結(jié)構(gòu)電連接。本發(fā)明的晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝方法,使用晶圓級(jí)封裝和系統(tǒng)封裝方法相結(jié)合,同時(shí)實(shí)現(xiàn)了多種芯片的集成和在晶圓上完成封裝制造的優(yōu)勢(shì)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體而言涉及一種晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝方法以及封裝結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
系統(tǒng)封裝(System in Package,簡(jiǎn)稱(chēng)SiP)將多個(gè)不同功能的有源元件,以及無(wú)源元件、微機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)、光學(xué)元件等其他元件,組合到一個(gè)單元中,形成一個(gè)可提供多種功能的系統(tǒng)或子系統(tǒng),允許異質(zhì)IC集成,是最好的封裝集成技術(shù)。相比于片上系統(tǒng)(SystemOn Chip,簡(jiǎn)稱(chēng)SoC)封裝,SiP集成相對(duì)簡(jiǎn)單,設(shè)計(jì)周期和面市周期更短,成本較低,可以實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜的系統(tǒng)。
與傳統(tǒng)的SiP相比,晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝(wafer level package,簡(jiǎn)稱(chēng)WLP)是在晶圓上完成封裝集成制程,具有大幅減小封裝結(jié)構(gòu)的面積、降低制造成本、優(yōu)化電性能、批次制造等優(yōu)勢(shì),可明顯的降低工作量與設(shè)備的需求。
鑒于晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝的顯著優(yōu)勢(shì),如何能夠更好的實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝一直是業(yè)界內(nèi)研究的熱點(diǎn)。
發(fā)明內(nèi)容
在發(fā)明內(nèi)容部分中引入了一系列簡(jiǎn)化形式的概念,這將在具體實(shí)施方式部分中進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。本發(fā)明的發(fā)明內(nèi)容部分并不意味著要試圖限定出所要求保護(hù)的技術(shù)方案的關(guān)鍵特征和必要技術(shù)特征,更不意味著試圖確定所要求保護(hù)的技術(shù)方案的保護(hù)范圍。
針對(duì)目前存在的問(wèn)題,本發(fā)明一方面提供一種晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝方法,包括:
形成有多個(gè)第一芯片的襯底,所述第一芯片利用半導(dǎo)體工藝在所述襯底上生長(zhǎng)而成;
內(nèi)嵌有多個(gè)第二芯片的封裝層,所述封裝層覆蓋所述襯底和所述第一芯片;
至少其中一個(gè)所述第二芯片與至少其中一個(gè)所述第一芯片電連接,所述第一芯片和所述第二芯片相互錯(cuò)開(kāi),通過(guò)電連接結(jié)構(gòu)電連接。
示例性地,所述電連接結(jié)構(gòu)包括:
位于所述襯底中與所述第一芯片電連接的插塞。
示例性地,所述電連接結(jié)構(gòu)還包括:
位于第一芯片和第二芯片之間或所述插塞頂部的再布線。
示例性地,所述電連接結(jié)構(gòu)還包括:
形成在所述再布線和所述第二芯片之間的導(dǎo)電凸塊。
示例性地,所述襯底具有正面和背面,所述封裝層覆蓋所述正面或背面。
示例性地,所述封裝結(jié)構(gòu)還包括:
相對(duì)于所述封裝層,位于所述襯底另一面的焊盤(pán),所述焊盤(pán)電連接相應(yīng)的所述插塞。
示例性地,所述第二芯片的正面和所述襯底接合,或者,所述第二芯片的背面和所述襯底接合。
示例性地,所述第二芯片通過(guò)粘接層設(shè)置在所述襯底上。
示例性地,所述粘接層包括芯片連接薄膜、干膜或光阻。
示例性地,所述封裝層為塑封層。
本發(fā)明再一方面還提供一種晶圓級(jí)系統(tǒng)封裝方法,包括:
提供具有多個(gè)第一芯片的襯底,所述第一芯片利用半導(dǎo)體工藝在所述襯底上生長(zhǎng)而成;
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