[發明專利]一種多維調控電離條件的原位電離分析裝置及分析方法

有效

• 申請號: 201810069644.4
• 申請日: 2018-01-24
• 公開（公告）號: CN108241018B
• 公開（公告）日: 2020-11-10
• 發明（設計）人: 趙宗山;田永;劉歡;劉愛風;高威
• 申請（專利權）人: 中國科學院青島生物能源與過程研究所
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 哈爾濱市陽光惠遠知識產權代理有限公司 23211
• 代理人: 孫莉莉

本發明提出了一種多維調控電離條件的原位電離分析裝置及分析方法，包括電離質譜平臺(1)、第一可調節電離條件控制接口(2)、第二可調節電離條件控制接口(3)、第三可調節電離條件控制接口(4)和第四可調節電離條件控制接口(5)。本發明采用多維調控電離條件實現對極性弱、熱不穩定、復雜基質樣品的分析，提高待測樣品的電離效率、靈敏度，大大縮短了分析時間。

技術領域

本發明屬于質譜技術領域，特別是涉及一種多維調控電離條件的原位電離分析裝置及分析方法。

背景技術

質譜由于其強有力的分析能力已經發展成不可或缺的分析手段，覆蓋了物理、化學、環境、藥學、醫學、分析生物學、生命科學、食品安全和公共安全等許多不同的領域。電離源是質譜儀的核心部件，在樣品進入質譜分析之前，將樣品分子帶上電荷形成離子。面對復雜基質的樣品，如尿樣、血液、環境水樣、動植物組織、食品等，常規電離源技術需結合提取、純化、色譜分離等復雜的前處理過程。該方法過程復雜，可能會丟失待測樣品的原始信息或者產生假陽性信號，導致分析結果失真，并且該方法分析效率低，費時費力。2004年，CooksR.G.首次提出原位電離技術的概念。原位電離技術在常壓下實現了樣品待測組分的快速、靈敏、直接電離，無需復雜的預處理樣品的過程。但現有的原位質譜電離技術仍面臨著電離手段單一、基質耐受能力較差、無法準確定量等現實問題。

發明內容

本發明針對原位電離質譜技術中如何解決高效電離、消除復雜基質干擾的技術問題，提出一種多維調控電離條件的原位電離分析裝置及分析方法，通過選取適當的電離條件，如反應試劑、同位素內標、電暈放電、內標試劑、光照、加熱、壓力、等離子體等電離條件，實現難電離、復雜基質的樣品的高電離效率、高靈敏的分析，提高極性較弱組分的電離效率和靈敏度。

本發明的目的通過以下技術方案實現：一種多維調控電離條件的原位電離分析裝置，包括電離質譜平臺1、第一可調節電離條件控制接口2、第二可調節電離條件控制接口3、第三可調節電離條件控制接口4和第四可調節電離條件控制接口5；所述第一可調節電離條件控制接口2位于所述電離質譜平臺1的右前方，所述第二可調節電離條件控制接口3位于所述電離質譜平臺1的左前方，所述第三可調節電離條件控制接口4位于所述電離質譜平臺1的正前方，所述第四可調節電離條件控制接口5位于所述電離質譜平臺1的上方；所述電離質譜平臺1固定于質譜進樣處，所述第一、第二和第三可調節電離條件控制接口和質譜通道6的延長線交于一點，所述第四可調節電離條件控制接口5垂直于所述第一、第二和第三可調節電離條件控制接口所屬平面上方。

進一步地，所述第一可調節電離條件控制接口2為電噴霧接口,所述第一可調節電離條件控制接口2上安裝第一前后微調節旋鈕21、第一左右微調節旋鈕22和第一上下微調節旋鈕；所述第一可調節電離條件控制接口2上還安裝四分之一的圓弧第一固定支架24，所述圓弧第一固定支架24上安裝第一圓孔支架25，所述第一圓孔支架25在所述圓弧第一固定支架24上移動，所述第一圓孔支架25用于固定電噴霧通道26。

進一步地，所述第二可調節電離條件控制接口3為樣品噴霧接口，所述第二可調節電離條件控制接口3上安裝第二前后微調節旋鈕31、第二左右微調節旋鈕32和第二上下微調節旋鈕；所述第二可調節電離條件控制接口3上還安裝四分之一的圓弧第二固定支架34，所述圓弧第二固定支架34上安裝第二圓孔支架35，所述第二圓孔支架35在所述圓弧第二固定支架34上移動，所述第二圓孔支架35用于固定樣品噴霧通道36。

進一步地，所述第三可調節電離條件控制接口4為反應試劑接口，所述第三可調節電離條件控制接口4上安裝第三前后微調節旋鈕41、第三左右微調節旋鈕42和第三上下微調節旋鈕；所述第三可調節電離條件控制接口4上還安裝第三圓孔支架44，所述第三圓孔支架44用于固定反應試劑通道45。

進一步地，所述第四可調節電離條件控制接口5為引入接口，所述第四可調節電離條件控制接口5上安裝第四前后微調節旋鈕51和第四左右微調節旋鈕52；所述第四可調節電離條件控制接口5上還安裝第四圓孔支架53，所述第四圓孔支架53上安裝引入通道54。