[發(fā)明專利]基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201810068308.8 | 申請日： | 2018-01-24 |
| 公開（公告）號： | CN108508475A | 公開（公告）日： | 2018-09-07 |
| 發(fā)明（設計）人： | 何明;崔保群;包軼文;姜山;游曲波;蘇勝勇;李康寧;趙慶章 | 申請（專利權(quán)）人： | 中國原子能科學研究院 |
| 主分類號： | G01T1/24 | 分類號： | G01T1/24 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 102413 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 磁鐵 交換器 靜電分析器 剝離系統(tǒng) 電荷 負離子 正離子 高靈敏測量 微波離子源 分子離子 氣體進樣 正離子源 瓦解 高效測量 束流聚焦 探測器 靈敏 剝離 分析 轉(zhuǎn)換 | ||
1.一種基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置，其特征在于：包括用于生成碳的正離子的微波離子源，所述微波離子源與電荷交換器連接，通過電荷交換器將碳的正離子轉(zhuǎn)換為負離子，所述電荷交換器連接注入磁鐵，所述注入磁鐵通過束流聚焦系統(tǒng)將碳的負離子注入加速與氣體剝離系統(tǒng)，加速與氣體剝離系統(tǒng)將分子離子瓦解同時將碳的負離子剝離為正離子后再加速，所述加速與氣體剝離系統(tǒng)連接分析磁鐵和靜電分析器，分析磁鐵將瓦解的分子離子排除并將14C、13C、12C分離，使得14C進入靜電分析器，所述靜電分析器與探測器相連接，實現(xiàn)14C的測量。
2.如權(quán)利要求1所述的基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置，其特征在于：所述的微波離子源將樣品燃燒產(chǎn)生的CO2電離成碳的正離子。
3.如權(quán)利要求1所述的基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置，其特征在于：電荷交換器中的電荷交換介質(zhì)為鎂蒸汽或異丁烷氣體。
4.如權(quán)利要求1所述的基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置，其特征在于：所述注入磁鐵一側(cè)設有偏置法拉第筒，注入磁鐵將碳的負離子注入加速與氣體剝離系統(tǒng)的同時，通過偏置法拉第筒對12C-、13C-進行測定。
5.如權(quán)利要求1所述的基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置，其特征在于：所述的束流聚焦系統(tǒng)采用靜電型四級透鏡。
6.如權(quán)利要求1所述的基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置，其特征在于：所述的加速與氣體剝離系統(tǒng)包括氣體剝離器以及設置在氣體剝離器兩端的加速管。
7.如權(quán)利要求1所述的基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置，其特征在于：所述分析磁鐵一側(cè)設有偏置法拉第筒，在分析磁鐵象點附近利用偏置法拉第筒對13C和12C進行比值的測定。
8.如權(quán)利要求1所述的基于氣體進樣正離子源的C-14高靈敏測量裝置，其特征在于：所述的探測器采用金面壘型半導體探測器。
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