[發明專利]一種廣域ADC誤差修正測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201810065975.0
• 申請日: 2018-01-22
• 公開（公告）號: CN108387834B
• 公開（公告）日: 2020-08-18
• 發明（設計）人: 楊景陽;劉路揚;陳波;呂兵;呂樂;劉凈月
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司 11403
• 代理人: 李莎;李弘

1.一種廣域ADC誤差修正測試方法，其特征在于，包括：

采用同一信號源通過同一組外圍運放電路同步驅動待測ADC與標準ADC，使得所述待測ADC和所述標準ADC同時進行模數轉換；

分別采集所述待測ADC和所述標準ADC的數字輸出，并對所述數字輸出進行數模轉化和線性誤差修正，獲得所述待測ADC和所述標準ADC的輸出擬合直線；

通過所述標準ADC的輸出擬合直線和所述標準ADC的理想擬合直線，分析得出所述外圍運放電路帶來的誤差；

將所述誤差補償至所述待測ADC的輸出擬合直線中，獲得所述待測ADC的真實波形，并利用所述待測ADC的真實波形測試所述待測ADC的參數；

所述分析得出所述外圍運放電路帶來的誤差包括：通過所述標準ADC的輸出擬合直線的斜率k₁、縱截距b₁和所述標準ADC的理想擬合直線的斜率k₂、縱截距b₂，得出所述外圍運放電路帶來的增益誤差g和失調誤差e，其中：

2.根據權利要求1所述的誤差修正測試方法，其特征在于，所述采用同一信號源通過同一組外圍運放電路同步驅動待測ADC與標準ADC替換為：

采用同一信號源通過兩組完全相同的外圍運放電路分別驅動待測ADC和標準ADC，使得所述待測ADC和所述標準ADC同時進行模數轉換；或者，

采用兩個完全相同的信號源通過兩組完全相同的外圍運放電路分別同步驅動待測ADC和標準ADC，使得所述待測ADC和所述標準ADC同時進行模數轉換。

3.根據權利要求1所述的誤差修正測試方法，其特征在于，所述將所述誤差補償至所述待測ADC的輸出擬合直線中包括：將待測ADC輸出擬合直線的斜率與所述增益誤差的乘積作為所述真實波形的斜率，將待測ADC輸出擬合直線的縱截距與所述失調誤差的和作為所述真實波形的縱截距，從而得到所述待測ADC的真實波形。

4.根據權利要求1所述的誤差修正測試方法，其特征在于，所述信號源采用24位以上的信號源；所述標準ADC采用24位以上的ADC。

5.一種廣域ADC誤差修正測試裝置，其特征在于，包括：

驅動模塊，用于采用同一信號源通過同一組外圍運放電路同步驅動待測ADC與標準ADC，使所述待測ADC及所述標準ADC進行模數轉換；

采集轉換模塊，用于分別采集經所述待測ADC和所述標準ADC的模數轉換后的輸出結果，并將所述輸出結果進行高精度的數模轉換，得到所述待測ADC和所述標準ADC的輸出擬合直線；

線性修正模塊，用于對所述待測ADC和所述標準ADC的輸出擬合直線進行線性誤差修正；

誤差分析模塊，用于利用所述標準ADC的輸出擬合直線及所述標準ADC的理想擬合直線，得出所述外圍運放電路帶來的誤差；

誤差補償模塊，用于將分析得出的所述外圍運放電路帶來的誤差補償至所述待測ADC的輸出擬合直線中，得到所述待測ADC在排除外圍運放電路的誤差后的真實輸出波形；以及

測試模塊，用于利用所述待測ADC的真實輸出波形，測定所述待測ADC的參數；

所述誤差分析模塊得出所述外圍運放電路帶來的誤差包括：通過所述標準ADC的輸出擬合直線的斜率k₁、縱截距b₁和所述標準ADC的理想擬合直線的斜率k₂、縱截距b₂，得出所述外圍運放電路帶來的增益誤差g和失調誤差e，其中：

6.根據權利要求5所述的誤差修正測試裝置，其特征在于，所述驅動模塊包括信號源模塊和外圍運放電路。

7.根據權利要求6所述的誤差修正測試裝置，其特征在于，所述信號源模塊設置為信號源或外部信號源連接端口，所述信號源或外部信號源采用24位以上的信號源，所述標準ADC采用24位以上的ADC。

8.根據權利要求5所述的誤差修正測試裝置，其特征在于，所述誤差補償模塊將所述誤差補償至所述待測ADC的輸出擬合直線中包括：將待測ADC輸出擬合直線的斜率與所述增益誤差的乘積作為所真實輸出波形的斜率，將待測ADC輸出擬合直線的縱截距與所述失調誤差的和作為所述真實輸出波形的縱截距，從而得到所述待測ADC的真實輸出波形。