[發明專利]一種橡膠密封圈失效檢測方法

有效

• 申請號: 201810064289.1
• 申請日: 2018-01-23
• 公開（公告）號: CN108303317B
• 公開（公告）日: 2020-04-07
• 發明（設計）人: 魏小琴;張倫武;王艷艷;胥澤奇;肖勇;羅天元
• 申請（專利權）人: 中國兵器工業第五九研究所
• 主分類號: G01M13/005
• 分類號: G01M13/005;G06F30/20;G06F119/04;G06F119/02
• 代理公司: 重慶弘旭專利代理有限責任公司 50209
• 代理人: 韓紹興

1.一種橡膠密封圈失效檢測方法，其特征在于：所述方法包括下列步驟：

步驟1：選取不少于5個用于彈藥貯存的全新橡膠密封圈，采用與隨彈貯存過程中相同的施壓方向和壓縮比進行應力加載；壓縮比計算公式：

P＝(h₀-h₁)/h₀*100％ [1]

式中，P為橡膠密封圈的壓縮比，h₀為橡膠密封圈初始高度，h₁為橡膠密封圈經應力加載后達到的規定高度；

步驟2：對步驟1中處于加載狀態下的橡膠密封圈分別進行不同老化周期的老化試驗，在不同老化周期，每次取出一個橡膠密封圈，先在標準溫、濕度環境下恢復1小時，然后采用橡膠測厚儀測量橡膠密封圈高度h₂，精確到0.01mm，并計算其殘余壓縮永久變形率y；殘余壓縮永久變形率計算公式：

y＝{1-(h₀-h₂)/(h₀-h₁)}*100％ [2]

式中，h₀為橡膠密封圈初始高度，h₁為橡膠密封圈經應力加載后達到的規定高度；

步驟3：從步驟2中經老化試驗后的各個橡膠密封圈表面分別截取細薄片，單個橡膠密封圈的細薄片截取量為50mg-150mg，精確到0.1mg，采用核磁共振交聯密度儀測定細薄片表面交聯密度X₁，采用X射線光電子能譜儀測定細薄片表面氧元素相對原子含量X₂；

步驟4：基于一對多線性回歸分析的數學模型，對步驟2、步驟3中各個橡膠密封圈殘余壓縮永久變形率y、細薄片表面交聯密度X₁、細薄片表面氧元素相對原子含量X₂進行統計分析，建立殘余壓縮永久變形率回歸分析預測方程

式中，表示橡膠密封圈殘余壓縮永久變形率的計算值，b₀、b₁、b₂均為回歸系數；

步驟5：從已隨彈貯存T時間后的橡膠密封圈表面截取細薄片，截取量50mg-60mg，精確到0.1mg，采用核磁共振交聯密度儀測定細薄片表面交聯密度X₁，采用X射線光電子能譜儀測定細薄片表面氧元素相對原子含量X₂；

步驟6：將步驟5中測定出的數據代入步驟4的回歸分析預測方程式[3]中，求解出隨彈貯存T時間后的橡膠密封圈殘余壓縮永久變形率，結合設計失效臨界值ε_c，給出檢測結果，若則檢測結果為未失效，若則檢測結果為已失效。