[發明專利]一種基于深度學習和法向圖的零件缺陷檢測和定位方法在審
| 申請號: | 201810063526.2 | 申請日: | 2018-01-23 |
| 公開(公告)號: | CN108389181A | 公開(公告)日: | 2018-08-10 |
| 發明(設計)人: | 宋佳;張揚;郭延文 | 申請(專利權)人: | 南京大學 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/90;G06N3/04 |
| 代理公司: | 江蘇圣典律師事務所 32237 | 代理人: | 胡建華;于瀚文 |
| 地址: | 210023 江蘇省南*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 法向 零件缺陷檢測 材質表面 網格 采集原始圖像 圖像 待檢測零件 定位缺陷 劃分結果 檢測結果 檢測零件 缺陷檢測 訓練模型 正常零件 表面法 采集 反饋 學習 | ||
1.一種基于深度學習和法向圖的零件缺陷檢測和定位方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1:采集原始圖像并計算得到材質表面法向圖;
步驟2:對材質表面法向圖進行網格劃分,得到劃分后的圖像;
步驟3:用具有不同缺陷的零件劃分后的材質表面法向圖以及步驟2劃分后的圖像訓練模型;
步驟4:采集待檢測零件圖像并計算材質表面法向圖;
步驟5:對待檢測零件的材質表面法向圖進行網格劃分;
步驟6:根據步驟3得到的訓練好的模型用步驟5得到的劃分后的圖像作為輸入進行缺陷檢測;
步驟7:根據步驟6的檢測結果以及步驟5的劃分結果進行反饋和定位缺陷位置。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,步驟1包括如下步驟:
步驟1-1,在遮光箱內側涂上亞光材料,遮光箱頂端中心處固定相機,在遮光箱底部設置平臺,用于放置待拍攝零件;在遮光箱內部設置燈光組,燈光組包括:頂部燈光組,設置在相機鏡頭下方3cm處;底部燈光組,設置在遮光箱底部,包括四條LED燈帶,在平臺下側;四周燈光組,設置在平臺上側20cm處,并與遮光箱內側四周與底部夾角呈45°,四周燈光組根據燈光打亮時拍攝圖片亮度范圍分別命名為東部燈組、南部燈組、西部燈組和北部燈組;在所有燈組上放置濾光膜,以形成方向光源;平臺上不放置任何物體,打開頂部燈光組,相機進行拍攝,拍攝圖片存儲為Top;
步驟1-2,打開東部燈組,相機進行拍攝,拍攝圖片存儲為East;
步驟1-3,打開西部燈組,相機進行拍攝,拍攝圖片存儲為West;
步驟1-4,打開北部燈組,相機進行拍攝,拍攝圖片存儲為North;
步驟1-5,打開南部燈組,相機進行拍攝,拍攝圖片存儲為South;
步驟1-6,將材質樣本平整的放置于半透明平臺中央部分,在相機鏡頭上放置濾光鏡,依次打開頂部燈組,東部燈組,西部燈組,北部燈組,南部燈組以及底部燈組,并打開相機進行拍攝,將拍攝的圖片依次存儲為Image_T1,Image_E1,Image_W1,Image_N1,Image_S1和Image_B1,最后打開除底部燈組外的其他燈組,并打開相機進行拍攝,拍攝圖片存儲為Image_F1;
步驟1-7,取下相機鏡頭上放置的濾光鏡,依次打開頂部燈組,東部燈組,西部燈組,北部燈組以及南部燈組,并打開相機進行拍攝,將拍攝的圖片依次存儲為Image_T2,Image_E2,Image_W2,Image_N2和Image_S2,最后打開除底部燈組外的其他燈組,并打開相機進行拍攝,拍攝圖片存儲為Image_F2;
步驟1-8,將拍攝圖片North,South,West,East和Top轉換為單通道浮點亮度圖,分別記為NorthL,SouthL,WestL,EastL和TopL;
步驟1-9,計算(TopL-NorthL)<0的所有像素的平均值的絕對值,記為AvgN;計算(TopL-SouthL)<0的所有像素的平均值的絕對值,記為AvgS;計算(TopL-WestL)<0的所有像素的平均值的絕對值,記為AvgW;計算(TopL-EastL)<0的所有像素的平均值的絕對值,記為AvgE;
步驟1-10,計算(TopL-NorthL)+AvgN的值,即得到北部方向補償信息,存儲為ImageAdjust_N;
計算(topL-SouthL)+AvgS的值,即得到南部方向補償信息,存儲為ImageAdjust_S;
計算(topL-WestL)+AvgW的值,即得到西部方向補償信息,存儲為ImageAdjust_W;
計算(topL-EastL)+AvgE的值,即得到東部方向補償信息,存儲為ImageAdjust_E;
步驟1-11,將圖片Image_N1,Image_S1,Image_W1,Image_E1,Image_T1都轉換為單通道浮點亮度值,以圖片的格式保存,分別記為Image_NL1,Image_SL1,Image_WL1,Image_EL1,Image_TL1;
步驟1-12,使用參數α對Image_NL1,Image_SL1,Image_WL1和Image_EL1進行修正,公式如下:
Image_NLN1=Image_NL1_Data+ImageAdjust_N*α-Image_TL1,
Image_SLN1=Image_SL1_Data+ImageAdjust_S*α-Image_TL1,
Image_WLN1=Image_WL1_Data+ImageAdjust_W*α-Image_TL1,
Image_ELN1=Image_EL1_Data+ImageAdjust_E*α-Image_TL1;
其中Image_NL1_Data表示Image_NL1的像素值,Image_SL1_Data表示Image_SL1的像素值,Image_WL1_Data表示Image_WL1的像素值,Image_EL1_Data表示Image_EL1的像素值,Image_NLN1、Image_SLN1、Image_WLN1、Image_ELN1為得到的修正結果;
步驟1-13,新建兩個三通道的圖像NorthWest和SouthEast,將Image_WLN1的值作為NorthWest的R通道的值,Image_NLN1的值作為NorthWest的G通道的值,并將NorthWest圖像色階調整到0.5~0,將Image_ELN1的值作為SouthEast的R通道的值,Image_SLN1的值作為SouthEast的G通道的值,并將圖像SouthEast的色階調整到0.5~1.0,然后將NorthWest和SouthEast兩張圖片以疊加的方式進行混合得到圖片Temp1,R通道、G通道、B通道分別表示紅通道、綠通道、藍通道;
假設圖像的像素值為p,將色階調整到A~B的計算方式為:
Pnew=P*(B-A)+A,
Pnew表示調整后像素值;
疊加方式圖像混合方式計算方法為:
Temp1=2*NorthWest*SouthEast;
Temp1為計算得到的結果,以圖片的格式保存;
步驟1-14,對圖像Temp1進行去褶皺處理:使用高斯濾波對圖像Temp1的R通道和G通道分別進行高斯濾波,高斯函數如下:
該高斯函數表示大小為(2k+1)*(2k+1)的高斯卷積核,Gxy表示高斯核在點(x,y)位置處高斯函數值,σ為方差,參數k的值用于確定核矩陣的維數,σ的計算方式為:
根據σ計算出高斯核矩陣的每個像素的權值,對圖像Temp1中每個像素進行如下計算:以該像素自身為中心乘以這個核矩陣的值作為該像素新的值,從而得到平滑后的圖像,記為Smooth1;
步驟1-15,通過圖像Temp1與Smooth1計算出使用濾光膜的一組圖片的法向信息Shape1,公式如下:
Shape1=Temp1-Smooth1+127;
步驟1-16,將圖片Image_N2,Image_S2,Image_W2,Image_E2,Image_T2,使用步驟1-11~步驟1-15的方法,得到不使用濾光膜的一組圖片的法向信息,記為Shape2,將Shape1與Shape2通過如下公式進行融合得到最終材質表面法向信息Shape:
Shape=(Shape1+Shape2)*0.5;
步驟1-17,計算材質表面法向信息:Shape圖像的R通道和B通道已知,而材質表面法向即通過歸一化Shape圖像的RGB三通道得到,假設R通道的像素值為r,G通道的像素值為g,則B通道的像素值b的計算公式如下:
將B通道像素值從[0,1]轉到[0,255]即得到最終的材質表面法向圖。
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