[發明專利]產品表面缺陷檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質

在審

• 申請號: 201810063199.0
• 申請日: 2018-01-17
• 公開（公告）號: CN108154510A
• 公開（公告）日: 2018-06-12
• 發明（設計）人: 段斌;何崗;魏浪;謝煜;張雙誠
• 申請（專利權）人: 深圳市億圖視覺自動化技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/187;G06T7/62;G06T5/30;G01N21/88
• 代理公司: 深圳中一聯合知識產權代理有限公司 44414
• 代理人: 張全文

本發明提供了一種產品表面缺陷檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質，其中方法包括：獲取產品表面的圖像；計算圖像的局部墑，獲取產品表面的紋理圖像；對紋理圖像進行腐蝕、膨脹處理，得到凸顯出缺陷的灰度圖像；計算灰度圖像的平均灰度值，根據平均灰度值和預設的平均灰度值偏差計算出二值化閾值；采用二值化閾值對灰度圖像進行二值化處理，得到產品表面的二值化圖像；對二值化圖像進行連通域標記，計算出標記的各連通域的面積；分別將各連通域的面積與預設的缺陷面積閾值相比較，若連通域的面積大于缺陷面積閾值，則將連通域標記為缺陷位置。本發明可以精確的識別出產品表面細微的缺陷，減小漏檢風險。

技術領域

本發明屬于表面缺陷檢測算法技術領域，尤其涉及一種產品表面缺陷檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質。

背景技術

隨著制造業的不斷發展，人們對產品質量的要求越來越嚴格。傳統的塑膠產品表面缺陷通常采用人工檢測，有通過高倍率顯微鏡觀察檢測，也有直接采用人工肉眼觀察檢測，檢測的效率直接受到人為因素影響，檢測的準確度也存在質疑，出口到國外的產品一半都不接受人工檢測通過的產品。在此背景下，塑膠產品生產企業開始采用基于機器視覺的檢測方法來檢測產品表面的缺陷。

由于塑膠產品存在一致的紋理特征，現有技術中在塑膠產品表面缺陷檢測中，通常會采用基于紋理特征來識別產品表面的缺陷，這種方法只能檢測比較大的缺陷，對產品表面細微的缺陷存在漏檢的風險。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種產品表面缺陷檢測方法、裝置及計算機可讀存儲介質，以解決現有技術基于紋理特征來識別產品表面缺陷的方法只能檢測比較大的缺陷，對產品表面細微的缺陷存在漏檢風險的問題。

本發明的第一方面提供了一種產品表面缺陷檢測方法，包括：

獲取產品表面的圖像；

計算所述圖像的局部墑，獲取所述產品表面的紋理圖像；

對所述紋理圖像進行腐蝕、膨脹處理，得到凸顯出缺陷的灰度圖像；

計算所述灰度圖像的平均灰度值，根據所述平均灰度值和預設的平均灰度值偏差計算出二值化閾值；其中，所述二值化閾值等于所述平均灰度值與所述預設的平均灰度值偏差之差；

采用所述二值化閾值對所述灰度圖像進行二值化處理，得到所述產品表面的二值化圖像；

對所述二值化圖像進行連通域標記，計算出標記的各連通域的面積；

分別將各連通域的面積與預設的缺陷面積閾值相比較，若所述連通域的面積大于所述缺陷面積閾值，則將所述連通域標記為缺陷位置。

本發明的第二方面提供了一種產品表面缺陷檢測裝置，包括：

圖像采集單元，用于獲取產品表面的圖像；

局部墑計算單元，用于計算所述圖像的局部墑，獲取所述產品表面的紋理圖像；

缺陷凸顯處理單元，用于對所述紋理圖像進行腐蝕、膨脹處理，得到凸顯出缺陷的灰度圖像；

二值化閾值獲取單元，用于計算所述灰度圖像的平均灰度值，根據所述平均灰度值和預設的平均灰度值偏差計算出二值化閾值；其中，所述二值化閾值等于所述平均灰度值與所述預設的平均灰度值偏差之差；

二值化處理單元，用于采用所述二值化閾值對所述灰度圖像進行二值化處理，得到所述產品表面的二值化圖像；

連通域標記單元，用于對所述二值化圖像進行連通域標記，計算出標記的各連通域的面積；

缺陷標記單元，用于分別將各連通域的面積與預設的缺陷面積閾值相比較，若所述連通域的面積大于所述缺陷面積閾值，則將所述連通域標記為缺陷位置。