[發(fā)明專利]溫度檢測(cè)系統(tǒng)、烹調(diào)器具及溫度檢測(cè)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201810061963.0 | 申請(qǐng)日: | 2018-01-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN108267239A | 公開(公告)日: | 2018-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周少國(guó) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廣東美的廚房電器制造有限公司;美的集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01K7/22 | 分類號(hào): | G01K7/22 |
| 代理公司: | 北京清亦華知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 張潤(rùn) |
| 地址: | 528311 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 導(dǎo)體 溫敏 溫度檢測(cè)系統(tǒng) 控制器 導(dǎo)體列 列導(dǎo)體 行導(dǎo)體 溫度檢測(cè)裝置 單元陣列 導(dǎo)體陣列 烹調(diào)器具 溫度檢測(cè) 陣列式 溫度檢測(cè)結(jié)果 時(shí)序 單元連接 時(shí)序掃描 輸出 | ||
本發(fā)明公開了一種溫度檢測(cè)系統(tǒng)、烹調(diào)器具及溫度檢測(cè)方法。溫度檢測(cè)系統(tǒng)包括陣列式溫度檢測(cè)裝置和控制器。陣列式溫度檢測(cè)裝置包括導(dǎo)體陣列和溫敏單元陣列。導(dǎo)體陣列包括導(dǎo)體行和與導(dǎo)體行相互間隔的導(dǎo)體列。導(dǎo)體行包括相互間隔的N個(gè)行導(dǎo)體,導(dǎo)體列包括相互間隔的M個(gè)列導(dǎo)體,其中N為自然數(shù)且大于或等于2,M為自然數(shù)且大于或等于2。溫敏單元陣列包括N×M個(gè)溫敏單元,每個(gè)溫敏單元連接一個(gè)行導(dǎo)體和對(duì)應(yīng)的一個(gè)列導(dǎo)體。控制器包括第一接口和第二接口。控制器用于通過第一接口依時(shí)序給導(dǎo)體行的每個(gè)行導(dǎo)體提供第一電平,以及用于通過第二接口對(duì)導(dǎo)體列依時(shí)序掃描以得到每個(gè)列導(dǎo)體輸出的第二電平,并根據(jù)第一電平和第二電平獲取溫度檢測(cè)結(jié)果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及溫度檢測(cè)領(lǐng)域,具體涉及一種溫度檢測(cè)系統(tǒng)、烹調(diào)器具及溫度檢測(cè)方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)有傳感技術(shù)一般利用單一檢測(cè)單源并通過熱敏電阻與固定電阻分壓的方式實(shí)現(xiàn)溫度檢測(cè)。然而,單一檢測(cè)單源檢測(cè)范圍有限,當(dāng)測(cè)溫面積較大時(shí),需要使用多套傳感器系統(tǒng)以檢測(cè)大面積的溫度。因而,大面積測(cè)溫時(shí)需要更多的控制器端口和電阻,從而使得成本上漲、電路復(fù)雜和功耗較大。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施方式提供了一種溫度檢測(cè)系統(tǒng)、烹調(diào)器具及溫度檢測(cè)方法。
本發(fā)明實(shí)施方式的溫度檢測(cè)系統(tǒng)包括陣列式溫度檢測(cè)裝置和控制器。所述陣列式溫度檢測(cè)裝置包括導(dǎo)體陣列和溫敏單元陣列。所述導(dǎo)體陣列包括導(dǎo)體行和與所述導(dǎo)體行相互間隔的導(dǎo)體列。所述導(dǎo)體行包括相互間隔的N個(gè)行導(dǎo)體,所述導(dǎo)體列包括相互間隔的M個(gè)列導(dǎo)體,其中N為自然數(shù)且大于或等于2,M為自然數(shù)且大于或等于2。所述溫敏單元陣列包括N×M個(gè)溫敏單元,每個(gè)所述溫敏單元連接一個(gè)所述行導(dǎo)體和對(duì)應(yīng)的一個(gè)所述列導(dǎo)體。所述控制器包括第一接口和第二接口。所述控制器用于通過所述第一接口依時(shí)序給所述導(dǎo)體行的每個(gè)所述行導(dǎo)體提供第一電平,以及用于通過所述第二接口對(duì)所述導(dǎo)體列依時(shí)序掃描以得到每個(gè)所述列導(dǎo)體輸出的第二電平,并根據(jù)所述第一電平和所述第二電平獲取溫度檢測(cè)結(jié)果。
本發(fā)明實(shí)施方式的溫度檢測(cè)系統(tǒng)將所述溫敏單元并聯(lián)在所述導(dǎo)體陣列上并根據(jù)所述控制器的時(shí)序掃描即可得到陣列式溫度檢測(cè)裝置的檢測(cè)數(shù)據(jù)。如此,在擴(kuò)大溫度檢測(cè)范圍和簡(jiǎn)化電路結(jié)構(gòu)的同時(shí),也能降低溫度檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)控制器接口的依賴,降低溫度檢測(cè)系統(tǒng)的待機(jī)功耗。
在某些實(shí)施方式中,所述N個(gè)行導(dǎo)體沿第一方向相互平行排列,所述M個(gè)列導(dǎo)體沿第二方向相互平行排列,所述第一方向與所述第二方向垂直,沿所述第一方向上的所述N個(gè)行導(dǎo)體中相鄰兩個(gè)行導(dǎo)體的距離與沿所述第二方向上的所述M個(gè)列導(dǎo)體中兩個(gè)相鄰列導(dǎo)體的距離相等。
在某些實(shí)施方式中,所述導(dǎo)體陣列包括導(dǎo)體引出端,所述導(dǎo)體引出端包括行引出端和列引出端,所述行引出端將所述導(dǎo)體行的每個(gè)所述行導(dǎo)體連接到所述第一接口,所述列引出端將所述導(dǎo)體列的每個(gè)所述列導(dǎo)體連接到所述第二接口。
在某些實(shí)施方式中,所述溫敏單元標(biāo)記為R(m,n),其中,m∈{1,2,…,M},n∈{1,2,…,N},所述溫敏單元R(m,n)包括第一連接端和第二連接端,所述第一連接端與所述導(dǎo)體行的第n個(gè)行導(dǎo)體連接,所述第二連接端與所述導(dǎo)體列的第m個(gè)列導(dǎo)體連接。
在某些實(shí)施方式中,所述溫敏單元包括熱敏電阻。
在某些實(shí)施方式中,所述第一接口包括輸入輸出口,所述第二接口包括模數(shù)轉(zhuǎn)換口。
本發(fā)明實(shí)施方式的烹調(diào)器具包括上述任一實(shí)施方式的溫度檢測(cè)系統(tǒng)和面板。所述溫度檢測(cè)系統(tǒng)安裝在所述面板下方,所述溫敏單元陣列與所述面板可導(dǎo)熱地連接。
本發(fā)明實(shí)施方式的烹調(diào)器具將所述溫敏單元并聯(lián)在所述導(dǎo)體陣列上并根據(jù)所述控制器的時(shí)序掃描即可得到陣列式溫度檢測(cè)裝置的檢測(cè)數(shù)據(jù)。如此,在擴(kuò)大溫度檢測(cè)范圍和簡(jiǎn)化電路結(jié)構(gòu)的同時(shí),也能降低溫度檢測(cè)系統(tǒng)對(duì)控制器接口的依賴,降低溫度檢測(cè)系統(tǒng)和烹調(diào)器具的待機(jī)功耗。
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