[發明專利]一種電子元件的檢測方法、裝置和設備

有效

• 申請號: 201810061078.2
• 申請日: 2018-01-22
• 公開（公告）號: CN108268899B
• 公開（公告）日: 2019-03-01
• 發明（設計）人: 王建民;劉英博;張育萌
• 申請（專利權）人: 清華大學
• 主分類號: G06K9/62
• 分類號: G06K9/62;G06N3/04
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 王瑩;李相雨

1.一種電子元件的檢測方法，其特征在于，包括：

獲取待檢測電子元件的元件參數，并根據元件參數的數據分布信息獲取待檢測電子元件對應的特征向量；

在預先基于歷史電子元件構建的分類器庫中，檢索與待檢測電子元件的特征向量相似的目標特征向量，并將分類器庫中與目標特征向量對應的分類器作為目標分類器；

將待檢測電子元件的元件參數輸入目標分類器中，獲取目標分類器輸出的檢測結果，其中，目標分類器為通過與目標特征向量對應的歷史電子元件的元件參數進行模型訓練獲得。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述在預先基于歷史電子元件構建的分類器庫中，查詢與待檢測電子元件的特征向量相似的目標特征向量的步驟前還包括：

根據型號信息對歷史電子元件進行分類，并通過計算每一類歷史電子元件的元件參數對應的數據分布信息，獲取每一類歷史電子元件對應的特征向量；

對每一類歷史電子元件分別訓練對應的分類器，各類歷史電子元件對應的分類器組成分類器庫，其中，訓練過程中的輸入數據為每一類歷史電子元件的元件參數，對應的輸出數據為檢測結果。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述對每一類歷史電子元件分別訓練對應的分類器的步驟前還包括：

對每一類歷史電子元件對應的特征向量進行比較，將特征向量的相似度大于預設值的多類歷史電子元件進行合并，并計算合并后新類別的歷史電子元件對應的特征向量。

4.根據權利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述數據分布信息為數據分布函數，所述特征向量由與各元件參數對應的數據分布函數組成。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，所述元件參數包括焊點、電阻型號、電容型號和芯片型號中的至少一個；其中，所述焊點對應的數據分布函數包括高度分布函數、面積分布函數、體積分布函數和位置分布函數中的至少一個。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述目標特征向量為分類器庫中與待檢測電子元件對應的特征向量相似度最高的特征向量。

7.一種電子元件的檢測裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取待檢測電子元件的元件參數，并根據元件參數的數據分布信息獲取待檢測電子元件對應的特征向量；

檢索模塊，用于在預先基于歷史電子元件構建的分類器庫中，檢索與待檢測電子元件的特征向量相似的目標特征向量，并將分類器庫中與目標特征向量對應的分類器作為目標分類器；

檢測模塊，用于將待檢測電子元件的元件參數輸入目標分類器中，獲取目標分類器輸出的檢測結果，其中，目標分類器為通過與目標特征向量對應的歷史電子元件的元件參數進行模型訓練獲得。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，還包括：

構建模塊，用于根據型號信息對歷史電子元件進行分類，并通過計算每一類歷史電子元件的元件參數對應的數據分布信息，獲取每一類歷史電子元件對應的特征向量；對每一類歷史電子元件分別訓練對應的分類器，各類歷史電子元件對應的分類器組成分類器庫，其中，訓練過程中的輸入數據為每一類歷史電子元件的元件參數，對應的輸出數據為檢測結果。

9.一種電子元件的檢測設備，其特征在于，包括：

至少一個處理器；

以及與所述處理器通信連接的至少一個存儲器，其中：所述存儲器存儲有可被所述處理器執行的程序指令，所述處理器調用所述程序指令能夠執行如權利要求2至6任一所述的方法。

10.一種非暫態計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述非暫態計算機可讀存儲介質存儲計算機指令，所述計算機指令使所述計算機執行如權利要求1至6任一所述的方法。