[發明專利]測試系統及測試方法

有效

• 申請號: 201810052169.X
• 申請日: 2018-01-19
• 公開（公告）號: CN108519536B
• 公開（公告）日: 2021-12-28
• 發明（設計）人: 姜虎;饒振華;羅穎;任志鵬
• 申請（專利權）人: 云谷（固安）科技有限公司
• 主分類號: G01R31/52
• 分類號: G01R31/52
• 代理公司: 上海波拓知識產權代理有限公司 31264
• 代理人: 楊波

本發明提供一種測試系統，用于測試被壓接板與壓接板之間的壓接；被壓接板上設置由第一基部延伸設置的第一引腳及第二引腳；壓接板上設置用于分別對應壓接第一引腳和第二引腳的第一測試端子與第二測試端子；測試系統提供壓接測試電壓至第二測試端子；并檢測第一測試端子上的電壓值，以根據第一測試端子上的電壓值判斷第一測試端子及第二測試端子是否完成壓接。本發明還提供一種測試方法。本發明的測試系統和方法提供壓接測試電壓至與第二引腳壓接的第二測試端子，能通過判斷第二測試端子、第二引腳、與第二引腳連接的第一引腳、及與第一引腳壓接的第一測試端子能否形成回路來判斷壓接是否完成，提高了檢測效率，且可靠性高。

技術領域

本發明涉及顯示技術領域，尤其涉及一種測試系統及測試方法。

背景技術

壓接工藝是顯示器制造過程中相當重要的工藝，包括芯片與玻璃板、柔性線路板與玻璃板、芯片與柔性線路板、柔性線路板和非柔性線路板之間都會利用壓接工藝的技術，實現電氣連接和信號的傳輸。以顯示器的柔性線路板與陣列基板壓接測試為例，現有技術只能通過肉眼檢測壓接狀況，而不能準確地檢測是否壓接不良，因此不能及時發現壓接的不良而造成測試效率低，影響生產效率。

發明內容

有鑒于此，本發明提供了一種能快速且準確檢測壓接是否不良的測試系統及測試方法。

本發明提供一種測試系統，所述測試系統用于測試被壓接板與壓接板之間的壓接；所述被壓接板上包括被測試端子；所述壓接板上包括測試端子所述測試端子用于分別對應壓接所述被測試端子；所述測試系統包括電壓輸出模塊、電壓檢測模塊、判斷模塊；所述電壓輸出模塊用于提供壓接測試電壓至所述測試端子；所述電壓檢測模塊與所述測試端子電連接，用于檢測所述測試端子上的電壓值；所述判斷模塊用于根據所述測試端子上的電壓值判斷所述測試端子是否完成壓接。

在本發明一實施方式中，所述被測試端子包括第一被測試端子，所述第一被測試端子包括第一基部、由所述第一基部延伸設置的第一引腳及第二引腳；所述測試端子包括第一測試端子及第二測試端子，所述第一測試端子與所述第二測試端子用于分別對應壓接所述第一引腳和所述第二引腳；所述電壓輸出模塊用于提供壓接測試電壓至所述第二測試端子；所述電壓檢測模塊與所述第一測試端子電連接，用于檢測所述第一測試端子上的電壓值；所述判斷模塊用于根據所述第一測試端子上的電壓值判斷所述第一測試端子及所述第二測試端子是否完成壓接。

在本發明一實施方式中，所述被壓接板上還包括第二被測試端子，所述第二被測試端子包括第二基部、由所述第二基部延伸設置的第三引腳及第四引腳，其中，所述第三引腳到所述第四引腳的距離與所述第三引腳到所述第二引腳的距離相同；所述壓接板上還包括第三測試端子及第四測試端子，所述第三測試端子與所述第四測試端子用于分別對應壓接所述第三引腳和第四引腳；所述電壓檢測模塊還與所述第三測試端子電連接，用于檢測所述第三測試端子上的電壓值；所述判斷模塊還用于接收所述第三測試端子上的電壓值，以判斷所述第二測試端子與所述第三測試端子是否分別對應壓接至所述第三引腳與所述第四引腳。

在本發明一實施方式中，所述第一引腳與所述第二引腳由所述第一基部向一側延伸設置，且分別位于所述第一基部的兩側。

在本發明一實施方式中，所述電壓輸出模塊還用于在所述第一測試端子與所述第二測試端子完成壓接時，輸出點亮測試電壓至所述第一測試端子和/或第二測試端子；其中，所述點亮測試電壓大于所述壓接測試電壓。

在本發明一實施方式中，提供一被壓接板，所述被壓接板上包括被測試端子；提供一與所述被壓接板壓接的壓接板，所述壓接板上包括測試端子，所述測試端子用于分別對應壓接所述被測試端子；提供壓接測試電壓至所述測試端子；檢測所述測試端子上的電壓值；根據所述測試端子上的電壓值判斷所述測試端子是否完成壓接。