[發明專利]用于執行多輸入多輸出(MIMO)空中下載測試的系統和方法

有效

• 申請號: 201810052038.1
• 申請日: 2018-01-19
• 公開（公告）號: CN108347268B
• 公開（公告）日: 2022-08-09
• 發明（設計）人: J·基羅萊內恩;P·京斯迪
• 申請（專利權）人: 是德科技股份有限公司
• 主分類號: H04B7/0413
• 分類號: H04B7/0413;H04B17/391;H04B7/0408;H04B7/06
• 代理公司: 北京坤瑞律師事務所 11494
• 代理人: 封新琴

1.多輸入多輸出(115)(MIMO)空中下載(OTA)測試系統，所述測試系統用于測試被測裝置(dut(106))，所述測試系統包括：

發射器裝置，所述發射器裝置具有多個天線端口，從所述多個天線端口發射多個時變射頻(RF)信號；

衰減仿真器(102)，所述衰減仿真器(102)具有多個輸入端口(114)和多個輸出端口(115)，在所述輸入端口(114)中接收所述時變RF信號，所述衰減仿真器(102)構造成根據預選參考信道模型和一組衰減信道系數對接收的時變RF信號進行操作，以產生多個時變RF輸出(115)信號，所述時變RF輸出(115)信號從所述衰減仿真器(102)經由所述衰減仿真器(102)的輸出端口(115)輸出；

電波暗室(103)；

探頭天線元件(104)的陣列，所述探頭天線元件(104)的陣列布置在所述電波暗室(103)中，并電聯接到所述衰減仿真器(102)的輸出端口(115)以接收從所述衰減仿真器(102)的輸出端口(115)輸出的所述時變RF輸出(115)信號，所述探頭天線元件(104)的陣列發出具有基于所述預選參考信道模型和所述衰減信道系數的預定的波束形式和波束形狀的電磁(EM)波束；

dut(106)，所述dut(106)布置在所述電波暗室(103)中并具有多個天線元件(112)，所述多個天線元件經由一非有線空中接口與所述探頭天線元件(104)的陣列電磁式聯接，所述dut(106)的天線元件(112)檢測EM波束并產生RF輸出(115)信號；和

測試系統計算機(110)，所述測試系統計算機經由相應的通信鏈路(107)至少與所述dut(106)和所述衰減仿真器(102)通信，其中所述測試系統計算機(110)用所述預選參考信道模型和所述一組衰減信道系數配置所述衰減仿真器(102)，以使由所述探頭天線元件(104)的陣列發出的所述EM波束具有所述預定的波束形式和波束形狀，并且其中所述測試系統計算機(110)從所述dut(106)接收與由所述dut(106)的天線元件(112)產生的所述RF輸出(115)信號相關的測量信息。

2.根據權利要求1所述的測試系統，進一步包括：

透鏡系統(105)，所述透鏡系統(105)將所述EM波束偶聯到所述dut(106)的天線元件(112)上。

3.根據權利要求2所述的測試系統，其中所述dut(106)位于所述探頭天線元件(104)的陣列的輻射近場區內。

4.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述dut(106)位于所述探頭天線元件(104)的陣列的輻射遠場區內。

5.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述dut(106)包括基站，并且所述發射器裝置包括用戶設備(UE)裝置或者ue裝置仿真器(101)。

6.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述發射器裝置包括基站，并且所述dut(106)包括用戶設備(UE)裝置或者ue裝置仿真器(101)。

7.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述dut(106)的天線元件(112)在一封裝內，所述封裝不具有用于在MIMO OTA測試系統(100)和所述dut(106)的天線元件(112)之間進行電互連的天線連接器。

8.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試系統計算機(110)執行計算用于所述預選參考信道模型的加權系數的算法，并將所述加權系數與所述預選參考信道模型的信道系數偶聯以獲得所述一組衰減信道系數。

9.根據權利要求1所述的測試系統，其中所述測試系統計算機(110)經由校準過程執行確定用于所述預選參考信道模型的加權系數的算法，并將所述加權系數與所述預選參考信道模型的信道系數偶聯以獲得所述一組衰減信道系數。

10.一種非暫態計算機可讀介質，其上存儲計算機代碼，所述計算機代碼用于通過根據權利要求1-9中任一項所述的多輸入多輸出(115)(MIMO)空中下載(OTA)測試系統的測試系統計算機(110)執行。