[發明專利]半導體制冷片測試分揀設備

有效

• 申請號: 201810049118.1
• 申請日: 2018-01-18
• 公開（公告）號: CN108339765B
• 公開（公告）日: 2019-04-16
• 發明（設計）人: 黃其祥
• 申請（專利權）人: 溫州職業技術學院
• 主分類號: B07C5/344
• 分類號: B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36
• 代理公司: 溫州名創知識產權代理有限公司 33258
• 代理人: 陳加利

1.一種半導體制冷片測試分揀設備，包括機架，其特征在于：所述的機架設置有料盤輸送帶、空盤輸送帶、待測品輸送帶、進料搬運裝置、視覺測試裝置、電阻測試裝置、測試搬運裝置、第一分揀搬運裝置、第二分揀搬運裝置、若干個分揀輸送帶、不合格品傳輸帶及控制器，所述的料盤輸送帶、空盤輸送帶及待測品輸送帶平行排布，所述的料盤輸送帶用于輸送多個呈堆疊狀并放置半導體制冷片的料盤，該料盤輸送帶設置有與待測品輸送帶相對應的上料位及將堆疊的料盤放置于料盤輸送帶的放盤位，所述的空盤輸送帶用于輸送多個呈堆疊狀并空置的料盤，該空盤輸送帶設置有與料盤輸送帶的上料位對應的卸盤位及將堆疊的空料盤取出空盤輸送帶的取盤位，所述的待測品輸送帶逐個用于輸送半導體制冷片，該待測品輸送帶設置有與料盤輸送帶的上料位對應的放料位及延伸至電阻測試裝置的測試位，所述的進料搬運裝置將位于料盤輸送帶的上料位的半導體制冷片搬運至待測品輸送帶的放料位并將位于料盤輸送帶的上料位的空料盤搬運至空盤輸送帶的卸盤位，所述的視覺測試裝置設置于待測品輸送帶的側面并將經過的半導體制冷片進行攝像記錄，并將攝像記錄傳輸至控制器進行儲存，所述的電阻測試裝置包括測試臺及電阻測試組件，并將測試數據傳輸至控制器進行儲存及比較，所述的測試搬運裝置將位于待測品輸送帶的測試位的半導體制冷片搬運至測試臺，各所述的分揀輸送帶平行設置其輸送方向相同，所述的第一分揀搬運裝置將控制器比較后的合格的半導體制冷片搬運至其中一個分揀輸送帶，將控制器比較后的不合格的半導體制冷片搬運至不合格品傳輸帶，所述的第二分揀裝置將第一分揀搬運裝置所搬運的半導體制冷片根據控制器比較后所測試的電阻值位于不同的數值范圍搬運至其他不同的分揀輸送帶，所述的機架位于料盤輸送帶的上料位的邊緣分別設置有與堆疊料盤側面相疊的側板，位于所述的料盤輸送帶兩側的側板沿豎向且分別對稱設置有抬升口，所述的機架與各抬升口對應設置有將位于最上端的料盤高度進行抬升的抬升組件，所述的抬升組件包括抬升插板、插板伸縮氣缸、插板升降座、插板升降氣缸及升降軌道，所述的升降軌道沿豎向設置于機架，所述的插板升降座沿升降軌道移動，所述的插板升降氣缸驅動插板升降座升降，所述的插板伸縮氣缸安裝于插板升降座并驅動抬升插板相對料盤伸縮，所述的抬升插板包括板狀主體，所述的板狀主體前端設置有插入相鄰料盤間隙，并將相鄰料盤間距逐漸擴大，直至支撐于料盤下方的抬升頂角。

2.根據權利要求1所述的半導體制冷片測試分揀設備，其特征在于：所述的進料搬運裝置、測試搬運裝置、第一分揀搬運裝置及第二分揀搬運裝置均包括橫梁、橫梁軌道、橫向調節座、橫向電機，豎向氣缸、豎向調節座、縱梁及吸盤組件，所述的橫梁軌道沿橫向設置于橫梁，所述的橫向調節座滑移于橫梁，所述的橫向電機安裝于橫梁并驅動設置有與橫向調節座螺紋配合的位移絲桿，所述的豎向氣缸安裝于橫向調節座并驅動豎向調節座升降，所述的縱梁沿縱向安裝于橫向調節座，所述的吸盤組件安裝于縱梁下方，所述的進料搬運裝置的橫梁設置于料盤輸送帶、空盤輸送帶及待測品輸送帶上方，所述的測試搬運裝置的橫梁設置于待測品輸送帶與工作臺的側面，所述的第一分揀搬運裝置及第二分揀搬運裝置分別設置于各分揀輸送帶的上方。

3.根據權利要求2所述的半導體制冷片測試分揀設備，其特征在于：所述的進料搬運裝置的縱梁沿縱向排布有三組以上吸盤組件。

4.根據權利要求1所述的半導體制冷片測試分揀設備，其特征在于：所述的料盤輸送帶包括左分部、右分部及驅動左分部和右分部同步循環轉動的進料驅動組件，所述的左分部及右分部之間設置有監測間隙，位于所述的料盤輸送帶的上料位的監測間隙設置有料盤取完后控制進料驅動組件啟動的料盤傳感器。

5.根據權利要求1所述的半導體制冷片測試分揀設備，其特征在于：所述的空盤輸送帶設置有驅動其循環轉動的空盤驅動組件，所述的空盤輸送帶側面設置有在空料盤堆疊至一定高度后啟動空盤驅動組件的空盤傳感器。

6.根據權利要求1所述的半導體制冷片測試分揀設備，其特征在于：所述的不合格品傳輸帶的傳輸方向與分揀輸送帶的傳輸方向相垂直，所述的不合格品傳輸帶位于第一分揀搬運裝置將合格的半導體制冷片搬運至分揀輸送帶的移動路徑上。