[發明專利]用于時鐘與數據恢復電路的相位調整電路

有效

• 申請號: 201810044127.1
• 申請日: 2014-11-21
• 公開（公告）號: CN108259156B
• 公開（公告）日: 2021-06-08
• 發明（設計）人: S·賈科尼;M·徐
• 申請（專利權）人: 英特爾公司
• 主分類號: H04L7/00
• 分類號: H04L7/00;H04L7/033;H04L25/03
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 陳松濤;韓宏

1.一種用于相位調整的裝置，包括：

相位檢測器，所述相位檢測器用于檢測采樣數據與采樣邊沿之間的相位差，其中，所述采樣數據和所述采樣邊沿與接收器接收到的數據信號相關聯，并且其中，所述相位差用于確定對所述數據信號進行采樣的時鐘的位置；

判決反饋均衡器DFE；以及

相位調整電路，所述相位調整電路用于根據來自所述DFE的一個或多個信號來調整所述時鐘的相位，其中，來自所述DFE的所述一個或多個信號包括后體數據信號。

2.根據權利要求1所述的裝置，包括：第一采樣器，所述第一采樣器用于對所述接收器接收到的數據進行采樣，所述第一采樣器使用所述時鐘來生成所述采樣數據。

3.根據權利要求2所述的裝置，包括：第二采樣器，所述第二采樣器用于對所述數據的邊沿進行采樣，所述第二采樣器使用所述時鐘來生成所述采樣邊沿。

4.根據權利要求3所述的裝置，包括：時鐘源，所述時鐘源具有提供所述時鐘的輸出端，其中，所述時鐘源的所述輸出端耦合到所述相位調整電路。

5.根據權利要求3所述的裝置，其中，所述DFE包括高閾值和低閾值，并且其中，所述第一采樣器和所述第二采樣器使用所述高閾值和所述低閾值來對所述數據和所述邊沿進行采樣。

6.一種用于相位調整的方法，包括：

接收數據信號；

對所述數據信號進行采樣以生成采樣數據；

對所述數據信號的邊沿進行采樣，以生成采樣邊沿；

檢測所述采樣數據與所述采樣邊沿之間的相位差，其中，所述相位差用于確定對所述數據信號進行采樣的時鐘的位置；以及

根據來自判決反饋均衡器的一個或多個信號來調整所述時鐘的相位，其中，來自所述判決反饋均衡器的所述一個或多個信號包括后體數據信號。

7.根據權利要求6所述的方法，包括：根據所述相位差來生成所述時鐘。

8.根據權利要求6至7中任一項所述的方法，其中，對所述數據信號進行采樣和對所述邊沿進行采樣包括：將高閾值和低閾值應用于采樣器。

9.一種用于相位調整的系統，包括：

存儲器；

處理器，所述處理器耦合到所述存儲器，所述處理器包括接收器，所述接收器包括：

相位檢測器，所述相位檢測器用于檢測采樣數據與采樣邊沿之間的相位差，其中，所述采樣數據和所述采樣邊沿與接收器接收到的數據信號相關聯，并且其中，所述相位差用于確定對所述數據信號進行采樣的時鐘的位置；

判決反饋均衡器DFE；以及

相位調整電路，所述相位調整電路用于根據來自所述DFE的一個或多個信號來調整所述時鐘的相位，其中，來自所述DFE的所述一個或多個信號包括后體數據信號；以及

無線接口，所述無線接口用于容許所述處理器與另一個設備進行通信。

10.根據權利要求9所述的系統，包括：第一采樣器，所述第一采樣器用于對所述接收器接收到的數據進行采樣，所述第一采樣器使用所述時鐘來生成所述采樣數據。

11.根據權利要求10所述的系統，包括：第二采樣器，所述第二采樣器用于對所述數據的邊沿進行采樣，所述第二采樣器使用所述時鐘來生成所述采樣邊沿。

12.根據權利要求11所述的系統，包括：時鐘源，所述時鐘源具有提供所述時鐘的輸出端，其中，所述時鐘源的所述輸出端耦合到所述相位調整電路。

13.根據權利要求11所述的系統，其中，所述DFE包括高閾值和低閾值，并且其中，所述第一采樣器和所述第二采樣器使用所述高閾值和所述低閾值來對所述數據和所述邊沿進行采樣。

14.根據權利要求9-13中任一項所述的系統，其中，所述接收器包括時鐘數據恢復電路。