[發明專利]主板測試方法、裝置、可讀存儲介質及測試終端

有效

• 申請號: 201810041753.5
• 申請日: 2018-01-16
• 公開（公告）號: CN108362992B
• 公開（公告）日: 2021-04-02
• 發明（設計）人: 李瑋琮
• 申請（專利權）人: 奇酷互聯網絡科技（深圳）有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 深圳市威世博知識產權代理事務所(普通合伙) 44280
• 代理人: 鐘子敏

1.一種主板測試方法，其特征在于，包括：

預先配置一臺顯示模組，所述顯示模組通過接口與所述主板連接，當接收到測試啟動信號時，在高速模式下向與所述主板連接的所述顯示模組中指定的寄存器組寫入測試數據，寫入完成后，通過預設的協議向所述主板發送數據寫入完成信號；

當所述主板接收到所述寫入完成信號時，切換至低功耗模式，并返回所述顯示模組中指定的寄存器組，從所述寄存器組中讀取所述測試數據；

判斷讀取的測試數據與寫入的測試數據是否一致；

若讀取的測試數據與寫入的測試數據一致，則確定所述主板的顯示模組供電功能、復位功能、時鐘通道和數據通道均測試通過；

若讀取的測試數據與寫入的測試數據不一致，則確定所述主板的顯示模組供電功能、復位功能、時鐘通道和數據通道中至少有一處存在異常，發出第一異常提示信息，所述第一異常提示信息用于指示所述主板的顯示模組供電功能、復位功能、時鐘通道和數據通道中至少有一處存在異常。

2.根據權利要求1所述的主板測試方法，其特征在于，所述主板與所述顯示模組通過顯示串行接口連接，所述顯示串行接口包括時鐘通道和多個數據通道，所述在高速模式下向與所述主板連接的顯示模組中指定的寄存器組寫入測試數據的步驟包括：

在高速模式下，使用所述顯示串行接口的時鐘通道和全部的數據通道向與所述主板連接的顯示模組中指定的寄存器組寫入測試數據；

所述切換至低功耗模式從所述寄存器組中讀取所述測試數據的步驟包括：

切換至低功耗模式，使用所述顯示串行接口中其中一個數據通道從所述寄存器組中讀取所述測試數據。

3.根據權利要求1所述的主板測試方法，其特征在于，所述若讀取的測試數據與寫入的測試數據一致，則確定所述主板的顯示模組供電功能、復位功能、時鐘通道和數據通道均測試通過的步驟之后，所述方法還包括：

向所述顯示模組寫入反饋信號開啟指令，以使所述顯示模組顯示預存的圖片，所述顯示模組的輸出引腳與所述主板的輸出引腳連接；

判斷所述主板的應用處理器芯片端是否接收到反饋信號；

若所述主板的應用處理器芯片端接收到反饋信號，則確定所述主板的輸出引腳回路正常。

4.根據權利要求3所述的主板測試方法，其特征在于，所述判斷所述主板的應用處理器芯片端是否接收到反饋信號的步驟之后，所述方法還包括：

若所述主板的應用處理器芯片端未接收到反饋信號，則確定所述主板的輸出引腳回路異常；

發出第二異常提示信息，所述第二異常提示信息用于指示所述主板的輸出引腳回路存在異常。

5.根據權利要求4所述的主板測試方法，其特征在于，所述向所述顯示模組寫入反饋信號開啟指令的步驟之前，所述方法還包括：

判斷所述主板是否具有輸出引腳；

若所述主板具有輸出引腳，則建立所述主板的輸出引腳與所述顯示模組的輸出引腳的連接。

6.一種主板測試裝置，其特征在于，所述主板測試裝置包括：

預先配置一臺顯示模組，所述主板與所述顯示模組通過顯示串行接口連接，所述顯示串行接口包括時鐘通道和多個數據通道；

寫入模塊，用于當接收到測試啟動信號時，在高速模式下，使用所述顯示串行接口的時鐘通道和數據通道向與所述主板連接的所述顯示模組中指定的寄存器組寫入測試數據；

讀取模塊，用于切換至低功耗模式，并返回所述顯示模組中指定的寄存器組，使用所述顯示串行接口中其中一個數據通道從所述寄存器組中讀取所述測試數據；

第一判斷模塊，用于判斷讀取的測試數據與寫入的測試數據是否一致；

第一確定模塊，用于當讀取的測試數據與寫入的測試數據一致時，確定所述主板的顯示模組供電功能、復位功能、時鐘通道和數據通道均測試通過；

第二確定模塊，用于當讀取的測試數據與寫入的測試數據不一致時，確定所述主板的顯示模組供電功能、復位功能、時鐘通道和數據通道中至少有一處存在異常；

第一提示模塊，用于發出第一異常提示信息，所述第一異常提示信息用于指示所述主板的顯示模組供電功能、復位功能、時鐘通道和數據通道中至少有一處存在異常。